ADC采樣精度受很多因素影響，比如電源波動、參考電壓波動、輸入信號波動等，GD32 MCU內(nèi)部提供了一個參考電壓通道，理論上可以優(yōu)化由于電源和參考電壓較大波動引入的采樣誤差。

如下圖所示，GD32F303 ADC內(nèi)部17通道為VREFINT參考電壓通道，內(nèi)部參考電壓的典型數(shù)值為1.2V。

當外部參考電壓波動較大的情況下，如何通過內(nèi)部參考電壓通道提高ADC采樣精度呢？

比如我們采樣ADC_IN0通道的電壓VIN0，那么采樣的數(shù)值為:

$$Rin0=(VIN0/VREF)*4096.----公式1$$

其中，Rin0為通道0的采樣數(shù)值，VIN0為通道0的輸入電壓，VREF為參考電壓。

采樣完通道0后，我們可以立即采樣VREFINT內(nèi)部參考電壓，那么內(nèi)部采樣電壓采樣的數(shù)值為：

$$Rrefint=(VREFINT/VREF)*4096.----公式2$$

將公式1/公式2將得到：

$$Rin0/Rrefint=VIN0/VREFINT$$

進而得到以下公式：

$$VINT0= （Rin0 / Rrefint）*VREFINT.$$

由以上公式可得到通道0的電壓值可通過內(nèi)部參考電壓以及內(nèi)部參考電壓的采樣值來計算，可不受外部參考電壓的變化而影響，進而提高了在外部參考電壓波動較大的情況下采樣誤差的精度。

PS：建議可在外部參考電壓較大的情況下使用該方法，如果外部參考電壓比較準的話，還是可以直接采樣的。

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