在集成電路的工藝開發(fā)、產(chǎn)品導(dǎo)入和量產(chǎn)過程中，電性測試設(shè)備扮演著重要角色。通過提高測試設(shè)備速度，可加快新產(chǎn)品開發(fā)周期，提升生產(chǎn)效率，降低測試成本。這不僅有助于將新設(shè)計芯片快速推向市場，而且對整個芯片生產(chǎn)過程產(chǎn)生積極影響，促進芯片產(chǎn)業(yè)的持續(xù)發(fā)展。

T4000 Max 問世 測試速度大幅提升

最近，廣立微推出T4000 Max 半導(dǎo)體參數(shù)測試機，配置100pin，支持多通道并行測試，可更好地服務(wù)有多測試項、高測試效率需求的客戶。T4000 Max（100pin）豐富了廣立微典型測試產(chǎn)品矩陣，進一步擴展公司高速高端測試機品類，標志著廣立微在晶圓級電性測試設(shè)備前沿領(lǐng)域取得了又一重要成果。

T4000 Max(100pin)系列采用了自研高性能矩陣開關(guān)構(gòu)架，具有精度高、速度快、配置靈活等特點，適用于工藝研發(fā)、晶圓級可靠性、量產(chǎn)WAT等多種測試場景。

其100pin的配置，可支持多條module同時扎針量測，例如:24pad/module，可同時測量4條module，大幅提升測試速度，在絕大多數(shù)layout場景下，可支持充分并行測試。

十余載深厚積淀，潛心技術(shù)研發(fā)。廣立微的電性測試設(shè)備已在客戶端久經(jīng)考驗，在功能、一致性、測量精度、測試效率、交貨周期和服務(wù)保障等方面極具競爭力。

初心如磐擔使命，奮楫篤行啟“芯”程。未來，廣立微將持續(xù)開發(fā)更多具有全球競爭力的技術(shù)創(chuàng)新和差異化產(chǎn)品，為客戶和市場提供卓越性能、高生產(chǎn)效率和高性價比的測試設(shè)備解決方案，助力客戶贏得未來。