湖南進芯電子成功獲得了一項關(guān)于“上電后存儲并行自檢系統(tǒng)及方法”的專利，該專利已于2024年5月14日正式授權(quán)發(fā)布（CN117667547B），其初始申請日期為2023年12月13日。據(jù)悉，此項發(fā)明主要面向存儲器自檢技術(shù)領(lǐng)域，其中涉及到多個子模塊，由云平臺通過網(wǎng)絡(luò)進行溝通協(xié)調(diào)。

具體操作流程如下：通過自檢判斷模塊啟動存儲自檢，接著由自檢執(zhí)行模塊對所有存儲器進行逐個檢查，同時設(shè)定定時計數(shù)器記錄進度。待所有存儲器均完成自檢后，設(shè)置自檢標(biāo)志。中央處理器模塊會獲取自檢標(biāo)志，并與預(yù)設(shè)的時間窗口進行比對。如果符合要求，則清除定時計數(shù)器的值并進入主程序；否則，產(chǎn)生溢出標(biāo)志并引發(fā)不可屏蔽中斷。最后，維保匹配模塊將根據(jù)不可屏蔽中斷生成故障參數(shù)表，導(dǎo)入匹配故障庫生成維保數(shù)據(jù)信息，以便安排維保人員進行相應(yīng)處理。