DHE雷達物位計在各行各業(yè)的測量系統(tǒng)中使用相當頻繁，在其使用過程中會受到很多因素的影響，可能會影響測量精度。西安定華電子的技術人員就雷達物位計的干擾問題，結(jié)合多年的生產(chǎn)、檢測的實際經(jīng)驗，向廣大用戶介紹一下DHE雷達物位計在測量過程中產(chǎn)生干擾的具體因素都有哪些。

一、DHE雷達物位計在測量過程中，常見的干擾可分為兩種：直流干擾和交流干擾。

1、直流干擾

在雷達物位計測量回路中，出現(xiàn)附加直流流電壓時，即為直流干擾。嚴重時，將使測量儀表不能正常工作。直流干擾的來源有以下幾種：

(1)附加熱電勢。

(2)化學電勢。

(3)雷達物位計與直流電源接觸時，泄露電流將通過測量回路產(chǎn)生干擾電壓。

2、交流干擾

交流干擾又可分為線間干擾和對地干擾。

線間干擾是指外界影響下，雷達物位計(補償導線)輸出端之間會出現(xiàn)交流電壓。

這種干擾又稱為橫向、共?；蚬矐B(tài)干擾。在一般情況下，線間干擾電壓可達到幾毫伏甚至幾十毫伏。

對地干擾是指出現(xiàn)在雷達物位計(或補償導線)兩輸出端中的一端，其對地的交流電壓稱為對地干擾電壓。這種干擾又稱為縱向、串模或串態(tài)干擾。

一般情況下，對地干擾電壓可達到幾伏甚至100多伏。交流干擾的來源主要有以下幾種：

(1)電磁感應是線間干擾的主要來源。

(2)高溫漏電影響。

(3)高壓電場干擾。

(4)地電流干擾。

(5)吸嘲漏電影響。

(6)在帶電體上進行測溫也可引入交流干擾。

審核編輯 黃宇