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測(cè)試點(diǎn)的直徑參數(shù)

汽車(chē)電子工程知識(shí)體系 ? 來(lái)源:汽車(chē)電子工程知識(shí)體系 ? 2024-10-28 10:31 ? 次閱讀
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測(cè)試點(diǎn)

測(cè)試點(diǎn)的直徑是測(cè)試點(diǎn)大小的重要參數(shù)。以下是測(cè)試點(diǎn)的兩個(gè)關(guān)鍵直徑參數(shù):

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A=最小測(cè)試點(diǎn)直徑=0.762mm(30mil)

這個(gè)直徑是測(cè)試點(diǎn)的最小尺寸,用于確保測(cè)試探針可以準(zhǔn)確地與測(cè)試點(diǎn)接觸。如果測(cè)試點(diǎn)直徑小于這個(gè)值,可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試探針無(wú)法正確接觸到測(cè)試點(diǎn),從而影響測(cè)試的準(zhǔn)確性。

B=最小阻焊層和絲印保持直徑=A+0.152mm(6mil)

這個(gè)直徑是為了確保在測(cè)試點(diǎn)周?chē)凶銐虻目臻g來(lái)保留阻焊層和絲印。在測(cè)試點(diǎn)周?chē)A糇韬笇雍徒z印可以保護(hù)測(cè)試點(diǎn),并提供額外的機(jī)械強(qiáng)度和標(biāo)識(shí)。

以上是測(cè)試點(diǎn)的直徑參數(shù),其中最小測(cè)試點(diǎn)直徑用于確保測(cè)試探針的接觸,而最小阻焊層和絲印保持直徑用于保護(hù)測(cè)試點(diǎn)并提供機(jī)械強(qiáng)度和標(biāo)識(shí)。這些直徑參數(shù)是根據(jù)設(shè)計(jì)要求和標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定的,可以根據(jù)具體的應(yīng)用和需求進(jìn)行調(diào)整。

測(cè)試點(diǎn)最小尺寸

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原文標(biāo)題:測(cè)試點(diǎn)要求

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    發(fā)表于 02-27 08:57

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