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高壓低漏電開(kāi)關(guān)矩陣RM1013-HV,滿足功率半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試應(yīng)用!

聯(lián)訊儀器 ? 來(lái)源:聯(lián)訊儀器 ? 作者:聯(lián)訊儀器 ? 2024-12-02 14:05 ? 次閱讀
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wKgZO2dJEMuAD6WOACZLghOb8Vk411.png

01,高精度自動(dòng)測(cè)量

聯(lián)訊儀器最新推出了10x24高壓低漏電開(kāi)關(guān)矩陣——RM1013-HV,能夠在小于300pA的偏置電流滿足3000V高壓測(cè)量,可配合高精度SMU完成各種功率半導(dǎo)體的表征測(cè)試。

wKgZPGdIOIeAD2K5AALHgRhfoDs033.png▲RM1013-HV高壓低泄漏開(kāi)關(guān)矩陣框圖

多路高壓靈活測(cè)量

支持2路高壓低泄漏電流通道輸入,整機(jī)支持10路輸入和24路輸出,提高參數(shù)測(cè)量的靈活性,節(jié)省成本和時(shí)間??膳浜蟂MU/CMU/DMM等測(cè)量設(shè)備實(shí)現(xiàn)一套高效的半導(dǎo)體參數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。

高壓低泄漏電流

矩陣低泄漏電流小于300pA@3000V(高壓低泄漏電流通道),可配合高精度的SMU (如S3030F等)實(shí)現(xiàn)高精度自動(dòng)測(cè)量。

支持快速測(cè)量

開(kāi)關(guān)矩陣電流建立時(shí)間小于10秒(1V電壓輸入開(kāi)始到電流<300fA的時(shí)間),可配合SMU (如S3030F,S2016C等)實(shí)現(xiàn)微弱電流信號(hào)的快速測(cè)量。

高繼電器觸點(diǎn)壽命

開(kāi)關(guān)矩陣使用世界一流的干簧管制作的繼電器,機(jī)械壽命最高可達(dá)10^8次。

10MHz帶寬

開(kāi)關(guān)矩陣優(yōu)化了C-V和DMM通道的傳輸帶寬,滿足高速測(cè)試的需求。

控制連接

支持通過(guò)USB線纜或LAN直接連接至RM1013-HV,實(shí)現(xiàn)通道閉合斷開(kāi)的控制??梢酝ㄟ^(guò)編程(SCPI 指令)或GUI界面控制。界面GUI非常直觀和簡(jiǎn)潔,可輕松配置通道的閉合、斷開(kāi)進(jìn)行測(cè)量。

wKgZO2dIOLSAWGr-AALrXBXiVtk819.png▲矩陣控制軟件GUI

02,通道配置

參數(shù)名稱 指標(biāo)
輸入通道數(shù)量 2 (High Voltage Low Leakage I-V Port,3500V)
4(General I-V Port,200V)
2 (C-V Port)
2 (DMM Port)
輸出通道數(shù)量 8/16/24

03,典型應(yīng)用場(chǎng)景

使用高壓低漏電開(kāi)關(guān)矩陣可以與源表/高壓源表/LCR meter/數(shù)字萬(wàn)用表等儀表無(wú)縫集成,組成強(qiáng)大的功率器件I-V、C-V參數(shù)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)??梢愿咝y(cè)量MOSFET/IGBT/BJT/Diode/電容/電阻等器件的I-V、C-V各項(xiàng)特征參數(shù),例如MOSFET 的BVdss、Off-leak/Id(off)-Vds、 Id-Vds等。不同器件及不同測(cè)量項(xiàng)目之間通過(guò)編程控制自動(dòng)進(jìn)行連接路徑切換,一站式完成測(cè)量。

wKgZPGdIOT6ASX36AAQiGDis8Co977.png▲矩陣路徑切換示意圖

在半導(dǎo)體功率器件測(cè)試中通常需要測(cè)量Ciss/Coss/Crss等高壓電容參數(shù)。高壓電容測(cè)量與I-V測(cè)量之間的路徑切換一直是測(cè)試中的難點(diǎn),高壓切換矩陣中內(nèi)置了可切換的高壓電容測(cè)量偏置電路(HV Bias Tee),可以有效地解決這個(gè)問(wèn)題。

wKgZO2dIOV6AbMd8AAJ1K0W0ONU141.png▲SiC MOSFET 電容特性 wKgZO2dIOXaANhaPAADJ-3agMwU757.png▲電容等效模型

審核編輯 黃宇

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