近日，納芯微推出了集成聚磁片（IMC）的汽車角度傳感器芯片MT652x系列。該系列芯片具備卓越的多平面角度位置與線性位移檢測(cè)能力，并符合AEC-Q100 Grade-0車規(guī)等級(jí)及ISO26262 ASIL B功能安全標(biāo)準(zhǔn)，確保每一次位置變化的測(cè)量都精準(zhǔn)無誤。MT652x系列芯片為汽車油門踏板、方向盤轉(zhuǎn)角、電子換擋器以及各類閥控系統(tǒng)等關(guān)鍵部件提供實(shí)時(shí)、可靠的位置信息，助力整車操控系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)更為精細(xì)的調(diào)校，提升駕駛的安全性與舒適性。

（來源：納芯微）

精準(zhǔn)多維檢測(cè)，提升多場(chǎng)景檢測(cè)效率

MT652x系列芯片突破傳統(tǒng)2D位置傳感器方案的局限，內(nèi)置兩對(duì)互成90°布局的水平霍爾陣列及聚磁片，可沿X、Y、Z三軸精準(zhǔn)測(cè)量磁場(chǎng)分量。得益于靈活的型號(hào)配置，MT652x系列能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)XY、XZ以及YZ平面磁場(chǎng)變化的精準(zhǔn)檢測(cè)，從而精確測(cè)量線性位移和旋轉(zhuǎn)位置。

（來源：納芯微）

相比傳統(tǒng)上需要多顆器件協(xié)同工作的方案，MT652x系列將多維檢測(cè)功能高度集成于單一芯片，在顯著提升系統(tǒng)集成度的同時(shí)，優(yōu)化多場(chǎng)景檢測(cè)效率，為汽車電子系統(tǒng)提供更簡潔、高效的解決方案。

高精度高可靠，滿足嚴(yán)苛應(yīng)用需求

MT652x系列芯片以卓越的性能和可靠性，能夠從容應(yīng)對(duì)各種嚴(yán)苛應(yīng)用環(huán)境的考驗(yàn)。其精心設(shè)計(jì)的寬工作電壓范圍（4.5～5.5V）、高耐壓能力（-14V～20V）以及寬工作溫度范圍（-40～150℃），確保在多種嚴(yán)苛應(yīng)用環(huán)境中的穩(wěn)定運(yùn)行，為系統(tǒng)可靠性保駕護(hù)航。同時(shí)，MT652x系列憑借優(yōu)異的系統(tǒng)匹配度和成本控制優(yōu)勢(shì)，為用戶提供高性價(jià)比的解決方案，滿足汽車電子系統(tǒng)對(duì)高性能、高可靠性的嚴(yán)苛需求。

（來源：納芯微）

MT652x系列芯片以卓越的測(cè)量精度，為系統(tǒng)提供可靠的位置信息保障。其出廠積分非線性誤差嚴(yán)格控制在±1°以內(nèi)，微分非線性誤差更是低至±0.01°，角度噪聲僅為0.03°rms。這些優(yōu)異的性能指標(biāo)確保MT652x系列在各種復(fù)雜工況下都能穩(wěn)定、準(zhǔn)確地輸出位置信息，確保系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性和安全性，助力汽車電子系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)更精準(zhǔn)的控制和更安全的駕駛體驗(yàn)。

多重安全防護(hù)，構(gòu)筑系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行堅(jiān)實(shí)屏障

MT652x系列芯片具備±6KV HBM ESD防護(hù)能力，并集成過壓（OVP）、防反、過流（OCP）以及斷線檢測(cè)等多重保護(hù)機(jī)制，可敏銳捕捉線路故障風(fēng)險(xiǎn)，顯著提升系統(tǒng)失效診斷能力。

該系列芯片不僅滿足AEC-Q100 Grade 0車規(guī)認(rèn)證，更達(dá)到ISO 26262 ASIL B功能安全標(biāo)準(zhǔn)。憑借一系列自檢、診斷等功能安全機(jī)制，MT652x系列芯片構(gòu)建起多重安全防護(hù)體系，確保系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸?shù)某掷m(xù)穩(wěn)定，確保汽車電子系統(tǒng)安全可靠的運(yùn)行。

豐富接口，靈活適配多場(chǎng)景應(yīng)用

MT652x系列芯片提供多種信號(hào)輸出方式，包括12位模擬電壓（DAC）、12位PWM、SENT、3線SPI及開關(guān)量輸出，并支持8點(diǎn)或17點(diǎn)等分可編程線性化功能。豐富的接口與協(xié)議配置其能夠靈活適配各種車載應(yīng)用場(chǎng)景，滿足不同客戶的多樣化需求。

在確保高精度、高可靠性的同時(shí)，MT652x系列有效降低了客戶的設(shè)計(jì)復(fù)雜度和綜合成本，為汽車電子系統(tǒng)提供更靈活、高效的解決方案，助力客戶快速實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品開發(fā)和應(yīng)用部署。

審核編輯 黃宇