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測(cè)試小白3分鐘上手,零代碼自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái),15分鐘搭建自動(dòng)化測(cè)試方案

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 2025-09-22 17:52 ? 次閱讀
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還在為不懂代碼、搭建測(cè)試方案耗時(shí)久而發(fā)愁?ATECLOUD 零代碼自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái),專為自動(dòng)化測(cè)試量身打造,小白3 分鐘就能輕松上手,15 分鐘即可完成自動(dòng)化測(cè)試方案搭建,徹底打破傳統(tǒng)測(cè)試的技術(shù)壁壘與效率瓶頸。

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零代碼測(cè)試平臺(tái)

零代碼賦能,測(cè)試小白 3 分鐘就能玩轉(zhuǎn)

對(duì)測(cè)試小白而言,代碼是入門路上的 “攔路虎”,傳統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)復(fù)雜的編程要求,往往讓人望而卻步。但在 ATECLOUD 平臺(tái),零代碼搭建操作讓這一難題迎刃而解。

平臺(tái)將所有測(cè)試儀器指令提前封裝成直觀的文本框,就像一個(gè)個(gè) “測(cè)試積木”。小白無需學(xué)習(xí)任何編程語言,只需用鼠標(biāo)拖拽文本框到工作區(qū),再通過簡單連線梳理邏輯關(guān)系,就能完成基礎(chǔ)操作設(shè)置。整個(gè)過程無需敲一行代碼,哪怕是剛接觸測(cè)試的新人,跟著平臺(tái)引導(dǎo)一步步操作,3 分鐘內(nèi)就能熟悉基本功能,獨(dú)立開展簡單測(cè)試任務(wù),真正實(shí)現(xiàn) “零門檻入門”。

以往測(cè)試方案搭建只能依賴專業(yè)開發(fā)人員,而 ATECLOUD 讓新手也能深度參與:無需掌握復(fù)雜開發(fā)框架,只要了解測(cè)試流程和儀器基本功能,就能自主調(diào)整文本框組合與邏輯連線,輕松搭建符合需求的測(cè)試流程。這種 “人人可操作” 的模式,不僅讓新手快速找到測(cè)試工作的節(jié)奏感,更讓企業(yè)省去大量專業(yè)人才培訓(xùn)成本,提升團(tuán)隊(duì)整體協(xié)作效率。

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流程搭建

高效流程設(shè)計(jì),15 分鐘搭建完整自動(dòng)化測(cè)試方案

傳統(tǒng)測(cè)試方案搭建,從儀器對(duì)接、流程設(shè)計(jì)到數(shù)據(jù)處理,往往需要幾天甚至幾周。但 ATECLOUD 通過優(yōu)化全流程,將這一時(shí)間壓縮至 15 分鐘,讓測(cè)試方案搭建效率飆升。

1. ATECLOUD 已兼容國內(nèi)外主流品牌測(cè)試儀器,從示波器、萬用表信號(hào)發(fā)生器、頻譜儀,覆蓋絕大多數(shù)測(cè)試場(chǎng)景,還能快速對(duì)接非標(biāo)設(shè)備(如探針臺(tái)、萬用表切換工裝)。用戶只需將儀器通過ATEBOX連接服務(wù)器,平臺(tái)會(huì)自動(dòng)識(shí)別儀器型號(hào)與參數(shù),無需手動(dòng)配置驅(qū)動(dòng)或調(diào)試接口,5 分鐘內(nèi)即可完成所有儀器的接入與適配,為方案搭建打好基礎(chǔ)。

2. 平臺(tái)提供豐富的指令節(jié)點(diǎn),用戶只需根據(jù)測(cè)試需求,拖拽對(duì)應(yīng)儀器指令文本框(如 “電源輸出電壓設(shè)置”“示波器波形采集”),就能搭建完整測(cè)試流程。以電源模塊測(cè)試為例,拖拽 “電源啟動(dòng)”“萬用表測(cè)電壓”“電子負(fù)載調(diào)節(jié)” 等文本框,連線設(shè)置測(cè)試順序,輕輕松松就能完成空載測(cè)紋波、電壓調(diào)整率等多項(xiàng)目的自動(dòng)化流程設(shè)計(jì)。若需求變更,直接調(diào)整文本框位置或連線,無需重新開發(fā),靈活又高效。

3. 流程搭建完成后,用戶只需點(diǎn)擊 “一鍵執(zhí)行”,平臺(tái)就會(huì)自動(dòng)運(yùn)行測(cè)試任務(wù),實(shí)時(shí)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)、反饋結(jié)果。測(cè)試結(jié)束后,平臺(tái)可自動(dòng)生成分析報(bào)告,支持一鍵導(dǎo)出 Excel 或 Word 格式,無需手動(dòng)整理數(shù)據(jù)。從啟動(dòng)測(cè)試到拿到完整報(bào)告,僅需 2 分鐘,15 分鐘內(nèi)就能完成 “儀器接入 - 流程搭建 - 測(cè)試執(zhí)行 - 報(bào)告生成” 的全流程,大幅縮短測(cè)試周期。

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測(cè)試項(xiàng)目方案

用戶友好型優(yōu)勢(shì),讓高效測(cè)試更有保障

LabVIEW 化:無需學(xué)習(xí)專業(yè)圖形化編程軟件,文本框拖拽操作比 LabVIEW 更簡單,小白只需記住測(cè)試步驟,就能搭建流程;

自定義報(bào)告模板:支持上傳現(xiàn)成 Word 模板,測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)填充,用戶不用再花時(shí)間學(xué)習(xí)報(bào)告設(shè)計(jì),直接生成規(guī)范報(bào)告;

傻瓜式數(shù)據(jù)分析:平臺(tái)內(nèi)置基礎(chǔ)統(tǒng)計(jì)與高級(jí)分析算法,自動(dòng)識(shí)別數(shù)據(jù)異常、計(jì)算良品率,用戶不用懂?dāng)?shù)據(jù)分析,也能快速掌握產(chǎn)品質(zhì)量情況。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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    的頭像 發(fā)表于 07-30 17:18 ?1261次閱讀
    除了LabVIEW還有哪些<b class='flag-5'>自動(dòng)化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>的軟件?

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    的頭像 發(fā)表于 07-25 09:54 ?887次閱讀
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    <b class='flag-5'>自動(dòng)化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>平臺(tái)</b>ATECLOUD推出AI算法功能

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