該AFE1256是一款 256 通道模擬前端 (AFE),旨在滿足以下要求: 基于數(shù)字 X 射線系統(tǒng)的平板探測(cè)器 (FPD)。該器件包括 256 個(gè)積分器、一個(gè) 可編程增益放大器 (PGA),用于滿量程、電荷電平選擇、相關(guān)雙精度 具有雙組、256:4模擬多路復(fù)用器和四個(gè)16位、 板載逐次逼近寄存器 (SAR) 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。串行數(shù)據(jù) ADC的音頻以SPI?格式提供。
*附件:afe1256.pdf
硬件可選的集成極性允許集成正極或 帶負(fù)電荷,為系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供更大的靈活性。Nap 功能可實(shí)現(xiàn)大量 省電。這種節(jié)能方式在電池供電系統(tǒng)中特別有用。
該器件有 22 毫米× 5 毫米鍍金兩種顏色 芯片和 38 mm × 28 mm COF-314 TDS 封裝 單一形式。
特性
- 256 個(gè)通道
- 片內(nèi)16位ADC
- 光電二極管短抗擾度
- 色譜柱短免疫度
- 高性能:
- 集成:
- 八個(gè)可選滿量程范圍:
0.15 pC(最小值)至 9.6 pC(最大值) - 內(nèi)置相關(guān)雙采樣器
- 2 倍分檔(兩個(gè)相鄰
通道的平均電荷)可實(shí)現(xiàn)更快的吞吐量 - 流水線集成和讀?。涸试S在集成過(guò)程中讀取數(shù)據(jù)
- 八個(gè)可選滿量程范圍:
- 靈活性:
- 電子和空穴積分
- 低功耗:
- 2.9 mW/通道,帶ADC
- 2.3 mW/通道,不帶ADC
- 0.1 mW/Ch(在 Nap 模式下)
- 全面掉電功能
- 22 mm × 5 mm 鍍金芯片,
適用于 TCP 和 COF
參數(shù)
方框圖
AFE1256 是德州儀器推出的 256 通道高集成度模擬前端(AFE),專為數(shù)字 X 射線平板探測(cè)器(FPD)設(shè)計(jì),核心優(yōu)勢(shì)為多通道并行采集、低功耗及靈活的電荷處理能力,適配醫(yī)療影像等高精度信號(hào)采集場(chǎng)景。
一、核心產(chǎn)品參數(shù)
1. 基礎(chǔ)規(guī)格
- 通道與分辨率:256 個(gè)獨(dú)立采集通道,集成 4 個(gè) 16 位 SAR ADC,支持 256:4 模擬多路復(fù)用
- 采樣與掃描性能:正常模式最小掃描時(shí)間 37.9 μs,2x 合并模式(Binning)下最小 20 μs,支持流水線式積分與讀?。ㄟ叿e分邊讀數(shù))
- 封裝與溫度:提供兩種封裝 —— 金凸點(diǎn)裸片(22mm×5mm)、COF-314 TDS 封裝(38mm×28mm);工作溫度 0°C 至 70°C
- 電源與功耗:差異化功耗設(shè)計(jì),開(kāi)啟 ADC 時(shí) 2.9 mW / 通道,關(guān)閉 ADC 時(shí) 2.3 mW / 通道,休眠模式(Nap Mode)僅 0.1 mW / 通道,支持全局掉電
2. 性能特性
- 電荷處理:8 檔可編程滿量程電荷范圍(0.15 pC-9.6 pC),支持電子 / 空穴雙極性積分,適配不同類型探測(cè)器
- 噪聲與線性度:28 pF 傳感器電容、1.2 pC 量程下,輸入?yún)⒖荚肼暤湫?758 e-RMS;積分非線性(INL)典型 ±2 LSB,無(wú)丟失碼
- 抗干擾能力:內(nèi)置相關(guān)雙采樣器(CDS),具備光電二極管短路免疫、列短路免疫特性,提升信號(hào)完整性
二、關(guān)鍵功能特性
1. 高靈活信號(hào)采集
- 合并模式(Binning):支持 2 鄰接通道電荷平均合并,提升吞吐量的同時(shí)優(yōu)化信噪比
- 雙極性積分:硬件可選擇積分極性,適配正負(fù)電荷輸入場(chǎng)景,增強(qiáng)系統(tǒng)設(shè)計(jì)靈活性
- 并行處理:256 通道同步采集,通過(guò)多路復(fù)用器與 4 個(gè) ADC 配合,平衡采集速度與硬件成本
2. 低功耗與可靠性設(shè)計(jì)
- 多功耗模式:支持正常工作、休眠、全局掉電三種模式,休眠模式功耗驟降,適配電池供電設(shè)備
- 抗干擾設(shè)計(jì):相關(guān)雙采樣(CDS)抑制低頻噪聲與偏移,針對(duì)平板探測(cè)器場(chǎng)景優(yōu)化短路免疫能力
- 封裝適配:金凸點(diǎn)裸片支持 TCP/COF 封裝工藝,COF 封裝提供 314 引腳配置,適配不同板級(jí)集成需求
三、典型應(yīng)用場(chǎng)景
- 醫(yī)療影像:數(shù)字 X 射線平板探測(cè)器信號(hào)采集
- 工業(yè)檢測(cè):高精度射線成像系統(tǒng)前端信號(hào)調(diào)理
四、設(shè)計(jì)與使用建議
1. 信號(hào)調(diào)理
- 電荷匹配:根據(jù)探測(cè)器輸出電荷特性,選擇合適的滿量程電荷檔位,避免信號(hào)飽和或噪聲占比過(guò)高
- 采樣時(shí)序:優(yōu)先采用流水線式積分與讀取模式,提升數(shù)據(jù)吞吐量;高速場(chǎng)景可啟用 2x Binning 模式
2. 功耗優(yōu)化
- 模式切換:非采集時(shí)段啟用休眠模式,長(zhǎng)時(shí)間停機(jī)時(shí)觸發(fā)全局掉電,最大化節(jié)能
- 通道配置:無(wú)需全部通道工作時(shí),可針對(duì)性關(guān)閉冗余通道,進(jìn)一步降低功耗
3. 封裝與布局
- 封裝選擇:空間受限場(chǎng)景選用金凸點(diǎn)裸片,需簡(jiǎn)化板級(jí)集成時(shí)選擇 COF 封裝
- ESD 防護(hù):存儲(chǔ)與操作時(shí)需注意靜電防護(hù),建議將引腳短接或放置在導(dǎo)電泡沫中,避免 MOS 柵極損壞。
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