1. 背景
隨著AI大數(shù)據(jù)模型的興起,對高效率、高功率密度的電源需求逐步加強。世界能源短缺的加劇導(dǎo)致了其他領(lǐng)域?qū)﹄娫吹母咝市枨?,各產(chǎn)業(yè)迫切希望技術(shù)進步推動能源供應(yīng)性能提升。
與此相對應(yīng)的一個變化是關(guān)鍵性的半導(dǎo)體和器件已經(jīng)出現(xiàn)了明顯的國產(chǎn)化率迅速提升的趨勢。寬禁帶半導(dǎo)體材料(如氮化鎵、碳化硅)的應(yīng)用顯著降低了開關(guān)損耗,同時數(shù)字控制技術(shù)的引入實現(xiàn)了精準調(diào)壓與動態(tài)響應(yīng),進一步提高了電源的性能和可靠性。
常州云鎵半導(dǎo)體公司作為新興國產(chǎn)寬禁帶半導(dǎo)體公司也推出了一系列E mode GaN功率器件,見下圖所示:

圖1、常州云鎵半導(dǎo)體公司的650V/700V E mode GaN產(chǎn)品系列(部分)
2、4.5kW對稱半橋LLC諧振變換器評估板項目
應(yīng)客戶的需求,云鎵半導(dǎo)體結(jié)合公司的產(chǎn)品安排了本次評估板項目的開發(fā)。為了在提升效率的基礎(chǔ)上,盡量減少項目難度,本次項目采用了對稱半橋LLC諧振變換器拓撲,如下圖所示:

圖2、對稱半橋LLC諧振變換器拓撲及同步整流設(shè)計方案
對于LLC諧振變換器來說,其零電壓開關(guān)(ZVS)技術(shù),能大幅降低開關(guān)損耗,實現(xiàn)高效電能轉(zhuǎn)換。通常來說可以實現(xiàn)94%以上的效率,部分產(chǎn)品甚至突破了98%的效率大關(guān)。
通常來說,提升LLC效率的主要措施是:
選擇合中的工作頻率-影響功率半導(dǎo)體的開關(guān)損耗和磁性器件的鐵損
設(shè)計合格的諧振參數(shù)-影響諧振電感、諧振電容和勵磁電感等諧振參數(shù)
采取合理的控制策略-影響電源工作狀態(tài),影響工作效率
引入合適的功率器件-影響開關(guān)損耗、影響導(dǎo)通損耗
那么,可否對目前的功率半導(dǎo)體定一個小目標(biāo),SJ Mosfet、IGBT、SiC Mosfet和GaN哪一種能夠幫助LLC實現(xiàn)99%以上的效率呢?
功率半導(dǎo)體的損耗一般分為開關(guān)損耗和導(dǎo)通損耗兩部分,見下圖所示:

圖3、功率半導(dǎo)體的開關(guān)過程及其主要損耗
LLC工作在ZVS模式,其開通損耗(Turn-on Loss)可以忽略不計,如果能夠盡量減少關(guān)斷損耗(Turn-off Loss),就可以有效提升整機的效率。作為GaN器件設(shè)計公司,云鎵半導(dǎo)體的主要策略是應(yīng)用E mode GaN,利用GaN器件開關(guān)損耗低的特點,減小LLC的開關(guān)損耗。
云鎵半導(dǎo)體公司的4.5kW LLC評估板如下圖所示:

圖4、4.5kW LLC評估板及其主要組成部分
云鎵半導(dǎo)體公司采用的E mode GaN的主要性能參數(shù)見下圖:
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圖5、CG65030TBD的封裝及主要性能參數(shù)
E mode GaN作為常關(guān)型功率半導(dǎo)體,高頻性能優(yōu)越,開關(guān)損耗低,無反向恢復(fù)電荷,無寄生續(xù)流二極管。可以最大限度減少損耗并降低EMI騷擾。
3.測試結(jié)果及效率曲線
測試平臺如下圖所示:
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圖6、測試平臺 | 圖7、功率分析儀(HIOKI日置) |
部分測試波形和數(shù)據(jù)如下表所示:
輸入:400V;開關(guān)頻率:55~100kHz;輸出:53.5V/4.5kW 環(huán)溫25℃,無外部其他輔助散熱,無外殼,滿載工作半小時后開始測試 | ||
編號 | 名稱 | 測試波形 |
1 | 測試數(shù)據(jù) |
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實測APF≈0.995,THDi≈3% | ||
2 | 效率曲線 |
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實測直流輸出電壓395.8V,粗估紋波電壓率大致在6%左右。 | ||
3 | 溫度測試 |
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最高溫度不到73℃ | ||
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