在芯片制造的納米級(jí)工藝中，漏電流的微小波動(dòng)可能決定芯片良率;在電池研發(fā)的毫厘之爭(zhēng)里，自放電電流的精準(zhǔn)捕捉關(guān)乎能量密度突破;在電子元器件的可靠性測(cè)試中，微弱電流的長(zhǎng)期監(jiān)測(cè)更是品質(zhì)保障的關(guān)鍵……

面對(duì)這些挑戰(zhàn)，傳統(tǒng)微電流測(cè)試設(shè)備常因量程局限、通道不足或抗干擾能力弱而“力不從心”。

TH2550H模塊化微電流測(cè)試系統(tǒng)是同惠公司微弱信號(hào)測(cè)試的重要組成部分。 相較于以往常規(guī)微電流測(cè)試儀，TH2550H可多模塊并行測(cè)試，保證精度的同時(shí)也大大提高了測(cè)試效率。

一、從皮安到毫安級(jí)，一機(jī)全覆蓋

傳統(tǒng)微電流測(cè)試設(shè)備常面臨“量程與分辨率不可兼得”的困境：追求低量程時(shí)犧牲動(dòng)態(tài)范圍，擴(kuò)大量程時(shí)又損失微弱信號(hào)檢測(cè)能力。

本系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)1pA至20mA的無(wú)縫覆蓋，分辨率穩(wěn)定在5?位，無(wú)論檢測(cè)光電二極管暗電流、存儲(chǔ)器漏電流，還是測(cè)量生物神經(jīng)元微弱信號(hào)，均可輕松勝任。

二、10通道獨(dú)立同步，效率提升10倍

傳統(tǒng)單通道設(shè)備在多參數(shù)測(cè)試中需反復(fù)插拔、耗時(shí)耗力。多通道解決方案以：

(1)飛安表技術(shù)為基礎(chǔ)，保證了測(cè)試小電流的精度及采樣速度;

(2)采用了模組式運(yùn)行方式，一個(gè)模組支持10個(gè)通道的并行(同步)采樣，保證了測(cè)試速度和效率;

(3)模組間支持?jǐn)U展，可根據(jù)需要擴(kuò)展至200個(gè)通道甚至更多，保證了其擴(kuò)展性。

三、LAN+USB雙接口，無(wú)縫集成

本系統(tǒng)提供LAN與USB雙接口，數(shù)據(jù)采集用上位機(jī)來(lái)控制，可實(shí)時(shí)采樣每個(gè)通道的測(cè)試結(jié)果并用數(shù)據(jù)、圖形等方式顯示，測(cè)試結(jié)果可實(shí)時(shí)顯示合格與否，上位機(jī)軟件提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析及存儲(chǔ)能力。對(duì)于不同的產(chǎn)品，可根據(jù)需求提供測(cè)試工裝或整套測(cè)試系統(tǒng)。

TH2550H以模塊化創(chuàng)新重塑微電流測(cè)試體驗(yàn)，經(jīng)嚴(yán)格研發(fā)與驗(yàn)證，能夠精確測(cè)量極微弱的電流信號(hào)，為用戶(hù)提供準(zhǔn)確可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)。