實驗名稱：功率放大器在高頻磁芯損耗測量中的應(yīng)用

研究方向：高頻磁芯損耗測量

實驗內(nèi)容：測量頻率在10kHz到500kHz范圍內(nèi)，磁通密度幅值在0~0.2T范圍內(nèi)，正弦波以及PWM波激勵下的環(huán)型磁芯損耗，通過信號發(fā)生器產(chǎn)生所需波形，再利用功率放大器將信號輸入磁芯的一次側(cè)，利用雙繞組法測量環(huán)型磁芯內(nèi)部的磁芯損耗。

測試設(shè)備：信號發(fā)生器，ATA-4052C高壓功率放大器、示波器、高頻電流、電壓探頭等等。

實驗過程：

圖1：實驗測試實物圖

根據(jù)雙繞組法，2個電壓探頭檢測環(huán)型磁芯的一次側(cè)和二次側(cè)電壓，1個電流探頭檢測一次側(cè)電流，將檢測信號輸入示波器。利用信號發(fā)生器產(chǎn)生所需頻率、幅值、形狀的波形，經(jīng)功率放大器放大輸入環(huán)型磁芯的一次側(cè)。采集電壓電流數(shù)據(jù)，換算為磁通密度和磁場強度，通過B-H曲線計算磁芯損耗。

實驗結(jié)果：

圖：實驗結(jié)果

如圖所示，根據(jù)測量到的電信號，通過全電流定律和電磁感應(yīng)定律轉(zhuǎn)換為磁路磁信號。繪制轉(zhuǎn)換后的磁通密度B和磁場強度H，可分別得到頻率f或者磁通密度對B-H回線的影響，進而可直觀的揭示B和f對磁芯損耗的影響。

功率放大器推薦：ATA-4052C高壓功率放大器

圖：ATA-4052C高壓功率放大器指標參數(shù)

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