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AD9731:10位、170 MSPS DAC的技術(shù)解析

h1654155282.3538 ? 2026-04-13 11:15 ? 次閱讀
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AD9731:10位、170 MSPS DAC的技術(shù)解析

在電子設(shè)計領(lǐng)域,數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)是連接數(shù)字世界和模擬世界的關(guān)鍵橋梁。今天我們要深入探討的是Analog Devices公司的AD9731,一款10位、170 MSPS的DAC,它在航天等對可靠性要求極高的領(lǐng)域有著重要應(yīng)用。

文件下載:AD9731S.pdf

一、規(guī)格范圍與適用標(biāo)準(zhǔn)

AD9731的規(guī)格文檔詳細(xì)規(guī)定了基于Analog Devices公司QML認(rèn)證生產(chǎn)線制造的航天級產(chǎn)品的具體要求,遵循MIL - PRF - 38535 Level V標(biāo)準(zhǔn),但有部分內(nèi)容在此文檔中進(jìn)行了修改。其制造流程參考了《STANDARD SPACE LEVEL PRODUCTS PROGRAM》手冊,相關(guān)信息可在http://www.analog.com/aerospace查詢。此數(shù)據(jù)手冊主要針對航天級版本,商業(yè)級產(chǎn)品更詳細(xì)的操作說明和完整數(shù)據(jù)手冊可在www.analog.com/AD9731獲取。

二、產(chǎn)品型號與封裝

2.1 產(chǎn)品型號

產(chǎn)品型號 描述
AD9731 - 703D 10位、170 MSPS的DAC
AD9731 - 713D 經(jīng)過輻射測試的10位、170 MSPS的DAC
AD9731 - 703F 10位、170 MSPS的DAC
AD9731 - 713F 經(jīng)過輻射測試的10位、170 MSPS的DAC

2.2 封裝形式

代碼 封裝類型 描述
D CDIP2 - T28 28引腳陶瓷側(cè)面釬焊雙列直插式封裝
F CDFP3 - F28 28引腳陶瓷底部釬焊扁平封裝

這里大家可以思考一下,不同的封裝形式會對產(chǎn)品在實際應(yīng)用中的性能和布局產(chǎn)生哪些影響呢?

三、絕對最大額定值與熱特性

3.1 絕對最大額定值

除非另有說明,測試條件為環(huán)境溫度 (T_{A}=25^{circ}C)。

3.2 熱特性

  • 側(cè)面釬焊(D)封裝和底部釬焊(F)封裝的結(jié)到環(huán)境熱阻 (Theta_{JA}) 最大為 (66^{circ}C / W)。在實際設(shè)計中,熱特性是一個不可忽視的因素,因為過高的溫度可能會影響DAC的性能和壽命,大家在設(shè)計散熱方案時需要重點考慮。

四、電氣參數(shù)

4.1 電氣參數(shù)表

符號 條件 備注 參數(shù) 子組 最小值 最大值 單位
DNL 1 差分非線性 1 1.5 LSB
INL 1 積分非線性 1 1.5 LSB
IOS 1 零刻度偏移誤差 70 100 μA
Ae 1, 2, 3 滿量程增益誤差 ±5 % FS
VREF IREF = - 50 μA 到 500 μA 1 內(nèi)部參考電壓 - 1.35 - 1.15 V
VIH 1, 2, 3 輸入邏輯“1”電壓 2 V
VIL 1, 2, 3 輸入邏輯“0”電壓 0.8 V
IIH 1, 2, 3 輸入邏輯“1”電流 50 μA
IIL 1, 2, 3 輸入邏輯“0”電流 100 μA
+IDIG 1 數(shù)字電源電流 20 22 mA
-IDIG 1 負(fù)數(shù)字電源電流 42 47 mA
-IANA 1 負(fù)模擬電源電流 53 66 mA

4.2 電氣測試要求

文檔還給出了詳細(xì)的電氣測試要求,包括不同子組的測試要求、臨時電氣參數(shù)、最終電氣參數(shù)以及各測試組的端點電氣參數(shù)等。大家在進(jìn)行測試時,一定要嚴(yán)格按照這些要求進(jìn)行,以確保產(chǎn)品的性能符合標(biāo)準(zhǔn)。

五、其他信息

5.1 封裝引腳布局

文檔中對AD9731的封裝引腳布局有相關(guān)說明,但文檔中未詳細(xì)展示,大家在實際使用時可以進(jìn)一步查閱相關(guān)資料。

5.2 微電路技術(shù)組

該微電路屬于技術(shù)組80。

5.3 壽命測試/老化電路

穩(wěn)態(tài)壽命測試遵循MIL - STD - 883 Method 1005,老化測試遵循MIL - STD - 883 Method 1015測試條件B。

5.4 MIL - STD - 38535 QMLV例外情況

對于采用QMLQ晶圓工藝制造的產(chǎn)品,無法進(jìn)行MIL - STD - 883 TM 5007規(guī)定的全晶圓級外觀檢查(WLA),僅可按照MIL - STD - 883, TM2018進(jìn)行掃描電子顯微鏡(SEM)檢查。

5.5 版本變更記錄

文檔記錄了從2000年6月30日到2009年8月18日的多次版本變更,包括功能的添加、刪除以及文檔內(nèi)容的更新等。了解這些變更歷史可以幫助我們更好地理解產(chǎn)品的發(fā)展和改進(jìn)過程。

總之,AD9731是一款性能優(yōu)良的DAC產(chǎn)品,在航天等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景。電子工程師在設(shè)計和使用過程中,需要充分了解其各項參數(shù)和特性,以確保產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。大家在實際應(yīng)用中遇到過哪些關(guān)于DAC的問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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