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10位電流輸出數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC100技術(shù)解析

h1654155282.3538 ? 2026-04-16 11:00 ? 次閱讀
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10位電流輸出數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC100技術(shù)解析

在電子設(shè)計領(lǐng)域,數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)是模擬與數(shù)字世界之間的橋梁,起著至關(guān)重要的作用。今天我們就來深入了解一下Analog Devices公司的10位電流輸出數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC100。

文件下載:DAC100S.pdf

一、規(guī)格范圍

DAC100的規(guī)格文檔詳細(xì)規(guī)定了其作為太空合格產(chǎn)品的要求,該產(chǎn)品在Analog Devices公司經(jīng)QML認(rèn)證的生產(chǎn)線上制造,遵循MIL - PRF - 38535 V級標(biāo)準(zhǔn),但有部分內(nèi)容在此處進行了修改。標(biāo)準(zhǔn)太空級產(chǎn)品計劃手冊中描述的制造流程也是本規(guī)格的一部分,該手冊可在http://www.analog.com/aerospace 找到。此數(shù)據(jù)手冊專門針對該產(chǎn)品的太空級版本,而商業(yè)產(chǎn)品級別的更詳細(xì)操作說明和完整數(shù)據(jù)手冊可在www.analog.com/DAC100獲取。

二、產(chǎn)品型號與封裝

2.1 產(chǎn)品型號

DAC100有兩個具體型號:

  • DAC100 - 703Q:10位電流輸出數(shù)模轉(zhuǎn)換器。
  • DAC100 - 713Q:經(jīng)過輻射測試的10位電流輸出數(shù)模轉(zhuǎn)換器。

2.2 封裝形式

采用GDIP1 - T16封裝,即16引腳陶瓷雙列直插式封裝(CERDIP)。其引腳連接如圖1所示,清晰展示了各個引腳的功能,包括電源引腳(V +、V -)、輸出引腳(OUTPUT)、全量程調(diào)整引腳(Full Scale Adjust)以及各位數(shù)據(jù)引腳(BIT 0 - BIT 9)等。同時,圖1A給出了簡化原理圖,包含了關(guān)鍵電阻(RB = 6.12KΩ,RS = 4.88KΩ)等信息。

三、絕對最大額定值

3.1 電壓與功率

  • V + 電源到V - 電源:0V至36V。
  • V + 電源到輸出:0V至 + 18V。
  • V - 電源到輸出:0V至 - 18V。
  • 功率耗散:最大500mW。

3.2 溫度范圍

  • 工作溫度范圍: - 55°C至 + 125°C。
  • 存儲溫度范圍: - 65°C至 + 150°C。
  • 引腳焊接溫度(60秒): + 300°C。
  • 芯片結(jié)溫(TJ):最大 + 175°C。

3.3 熱特性

不同封裝的熱阻有所不同:

  • CERDIP(Q)封裝:結(jié)到殼熱阻(ΘJC)最大29°C/W,結(jié)到環(huán)境熱阻(ΘJA)最大91°C/W。
  • FLATPAK(N)封裝:結(jié)到殼熱阻(ΘJC)最大22°C/W,結(jié)到環(huán)境熱阻(ΘJA)最大90°C/W。

四、電氣參數(shù)

4.1 電氣參數(shù)表

參數(shù) 符號 條件 子組 最小值 最大值 單位
電源電流 I +、I - V IH = 2.1V 1, 2, 3 8.33 mA
全量程輸出電壓 V FR V IL = 0.7V,全調(diào)整引腳連接到V - 1, 2, 3 10.0 11.1 V
零量程輸出電壓 V ZS V IH = 2.1V 1, 2, 3 ±0.013 %FS
積分非線性 NL ± ? LSB – 9 Bits 1, 2, 3 ±0.1
全量程溫度系數(shù) TCV FR V IL = 0.7V,全量程調(diào)整引腳連接到V - 8 ±60 ppm/°C
邏輯輸入高電平 V IH V IN = 2.1V至3V(所有輸入),相對于輸出引腳測量,允許?V IN變化時≤ ±? LSB變化 1, 2, 3 2.1 V
邏輯輸入低電平 V IL V IN = 0.7V至0V(所有輸入),相對于輸出引腳測量,允許?V IN變化時≤ ±? LSB變化 1, 2, 3 0.7 V
邏輯輸入高電平電流 I IH V IH = 6.0V,每個輸入 1, 2, 3 5 μA
邏輯輸入低電平電流 I IL V IL = 0V,每個輸入 1, 2, 3 5
電源靈敏度 PSS V IL = 0.7V(所有輸入),V S = ±6V至±18V 1, 2, 3 ±0.1 %/V
單調(diào)性 ?I O 在每個主要進位碼點測量 1 0 μA
建立時間 T SHL R L = 1KΩ,C L ≤ 10pF 9 375 nS

4.2 電氣測試要求

MIL - STD - 883測試要求 子組(見表I)
臨時電氣參數(shù)(預(yù)老化) 1
最終電氣測試參數(shù) 1, 2, 3, 8
A組測試要求 1, 2, 3, 8, 9
C組測試要求 1
D組測試要求 1

4.3 老化測試增量限制

測試標(biāo)題 老化終點 終點 壽命測試 增量限制 單位
V FR 10.55 ± 0.55 10.55 ± 0.75 ±0.2 V
V ZS ±0.013 ±0.018 ±0.005 %FS
I + 8.33 8.33 ±10% mA
I - 8.33 8.33 ±10% mA

五、壽命測試與老化電路

5.1 高溫反向偏置(HTRB)

HTRB不適用于此設(shè)計。

5.2 老化測試

老化測試按照MIL - STD - 883方法1015測試條件B進行。

5.3 穩(wěn)態(tài)壽命測試

穩(wěn)態(tài)壽命測試按照MIL - STD - 883方法1005進行。

六、版本變更記錄

DAC100的版本經(jīng)歷了多次變更,每次變更都有其特定的內(nèi)容,如更新網(wǎng)頁地址、添加測試組信息、修改范圍描述等。這反映了產(chǎn)品在不斷優(yōu)化和完善的過程。

在實際設(shè)計中,工程師們需要根據(jù)這些詳細(xì)的規(guī)格參數(shù)和測試要求,合理選擇和使用DAC100,以確保電路的性能和可靠性。大家在使用過程中有沒有遇到過類似產(chǎn)品的一些特殊問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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