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FDS6898AZ雙N溝道邏輯電平PWM優(yōu)化功率溝槽MOSFET技術(shù)解析

我快閉嘴 ? 2026-04-20 16:30 ? 次閱讀
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FDS6898AZ雙N溝道邏輯電平PWM優(yōu)化功率溝槽MOSFET技術(shù)解析

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵元件,廣泛應(yīng)用于各類電路中。今天我們來詳細(xì)探討ON Semiconductor旗下的FDS6898AZ雙N溝道邏輯電平PWM優(yōu)化功率溝槽MOSFET,深入了解其特性與應(yīng)用。

文件下載:FDS6898AZ-D.pdf

一、公司背景與產(chǎn)品編號變更

ON Semiconductor是一家在半導(dǎo)體領(lǐng)域頗具影響力的企業(yè)。隨著對Fairchild Semiconductor的整合,部分Fairchild可訂購的產(chǎn)品編號需要變更,以滿足ON Semiconductor的系統(tǒng)要求。由于ON Semiconductor的產(chǎn)品管理系統(tǒng)無法處理帶有下劃線()的部件命名,F(xiàn)airchild部件編號中的下劃線()將改為破折號(-)。大家可通過ON Semiconductor網(wǎng)站(www.onsemi.com)驗(yàn)證更新后的設(shè)備編號。

二、FDS6898AZ概述

2.1 產(chǎn)品特性

FDS6898AZ采用了Fairchild Semiconductor先進(jìn)的PowerTrench工藝,該工藝經(jīng)過特別調(diào)整,能有效降低導(dǎo)通電阻,同時(shí)保持出色的開關(guān)性能。它非常適合低電壓和電池供電的應(yīng)用場景,這些場景通常需要低在線功率損耗和快速開關(guān)。其具體特性如下:

  • 電流電阻:具有9.4 A的連續(xù)電流承載能力,在20 V的耐壓下,當(dāng)VGS = 4.5 V時(shí),RDS(ON) = 14 mΩ;當(dāng)VGS = 2.5 V時(shí),RDS(ON) = 18 mΩ。
  • 低柵極電荷:典型柵極電荷僅為16 nC,有助于減少開關(guān)損耗。
  • ESD保護(hù):內(nèi)置ESD保護(hù)二極管,增強(qiáng)了器件的抗靜電能力。
  • 高性能溝槽技術(shù):極低的RDS(ON),提高了功率轉(zhuǎn)換效率。
  • 高功率和電流處理能力:能夠承受較大的功率和電流,適應(yīng)不同的應(yīng)用需求。

2.2 引腳封裝

該器件采用SO - 8封裝,引腳排列清晰,方便在電路板上進(jìn)行布局和焊接。

三、電氣特性

3.1 絕對最大額定值

在使用FDS6898AZ時(shí),需要注意其絕對最大額定值,以確保器件的安全運(yùn)行。例如,漏源電壓VDSS最大為20 V,柵源電壓VGSS為± 12 V,連續(xù)漏極電流ID為9.4 A等。具體參數(shù)如下表所示: Symbol Parameter Ratings Units
VDSS Drain - Source Voltage 20 V
VGSS Gate - Source Voltage ± 12 V
ID Drain Current – Continuous (Note 1a) 9.4 A
– Pulsed 38
PD Power Dissipation for Dual Operation 2 W
Power Dissipation for Single Operation (Note 1a) 1.6
(Note 1b) 1
(Note 1c) 0.9
TJ, TSTG Operating and Storage Junction Temperature Range –55 to +150 °C

3.2 熱特性

熱特性對于MOSFET的性能和可靠性至關(guān)重要。FDS6898AZ的熱阻參數(shù)如下:

  • 結(jié)到環(huán)境的熱阻RθJA,在不同的安裝條件下有所不同。例如,當(dāng)安裝在0.5 in2的2 oz銅焊盤上時(shí)為78 °C/W;安裝在0.02 in2的2 oz銅焊盤上時(shí)為125 °C/W;安裝在最小安裝焊盤上時(shí)為135 °C/W。
  • 結(jié)到外殼的熱阻RθJC為40 °C/W。

3.3 電氣參數(shù)

FDS6898AZ的電氣參數(shù)涵蓋了關(guān)斷特性、導(dǎo)通特性、動(dòng)態(tài)特性和開關(guān)特性等多個(gè)方面。以下是部分關(guān)鍵參數(shù):

  • 關(guān)斷特性:如漏源擊穿電壓BVDSS為20 V,零柵壓漏極電流IDSS在VDS = 16 V,VGS = 0 V時(shí)為1 μA等。
  • 導(dǎo)通特性:柵極閾值電壓VGS(th)在VDS = VGS,ID = 250 μA時(shí)為0.5 - 1.5 V,靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻RDS(on)在不同的VGS和ID條件下有不同的值。
  • 動(dòng)態(tài)特性:輸入電容Ciss為1821 pF,輸出電容Coss為440 pF,反向傳輸電容Crss為208 pF。
  • 開關(guān)特性:開啟延遲時(shí)間td(on)為10 - 20 ns,上升時(shí)間tr為15 - 27 ns等。

四、典型特性曲線

文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線,直觀地展示了FDS6898AZ在不同條件下的性能表現(xiàn)。例如:

  • 導(dǎo)通區(qū)域特性曲線:展示了不同柵源電壓下,漏源電壓與漏極電流的關(guān)系。
  • 導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵源電壓的變化曲線:幫助工程師了解在不同工作條件下導(dǎo)通電阻的變化情況。
  • 導(dǎo)通電阻隨溫度的變化曲線:反映了溫度對導(dǎo)通電阻的影響,對于在不同溫度環(huán)境下的應(yīng)用設(shè)計(jì)具有重要參考價(jià)值。

五、應(yīng)用注意事項(xiàng)

5.1 產(chǎn)品使用限制

ON Semiconductor明確指出,其產(chǎn)品不設(shè)計(jì)、不打算也未獲授權(quán)用于生命支持系統(tǒng)、FDA Class 3醫(yī)療設(shè)備或具有相同或類似分類的外國醫(yī)療設(shè)備,以及任何用于人體植入的設(shè)備。如果買家將產(chǎn)品用于此類非預(yù)期或未經(jīng)授權(quán)的應(yīng)用,需承擔(dān)相應(yīng)的責(zé)任,并賠償ON Semiconductor及其相關(guān)方的損失。

5.2 參數(shù)驗(yàn)證

文檔中強(qiáng)調(diào),數(shù)據(jù)手冊和規(guī)格書中提供的“典型”參數(shù)在不同應(yīng)用中可能會(huì)有所變化,實(shí)際性能也可能隨時(shí)間而改變。因此,所有工作參數(shù),包括“典型值”,都必須由客戶的技術(shù)專家針對每個(gè)客戶應(yīng)用進(jìn)行驗(yàn)證。

六、總結(jié)

FDS6898AZ雙N溝道邏輯電平PWM優(yōu)化功率溝槽MOSFET憑借其低導(dǎo)通電阻、快速開關(guān)性能和高功率處理能力,在低電壓和電池供電的應(yīng)用中具有顯著優(yōu)勢。電子工程師設(shè)計(jì)相關(guān)電路時(shí),需要充分考慮其電氣特性、熱特性和應(yīng)用限制,以確保產(chǎn)品的可靠性和性能。大家在實(shí)際應(yīng)用中,是否遇到過類似MOSFET的選型和使用問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。

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