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Onsemi N溝道MOSFET FDH047AN08A0和FDP047AN08A0:高性能解決方案

lhl545545 ? 2026-04-21 11:10 ? 次閱讀
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Onsemi N溝道MOSFET FDH047AN08A0和FDP047AN08A0:高性能解決方案

在電子設計領域,MOSFET(金屬 - 氧化物 - 半導體場效應晶體管)扮演著至關重要的角色。今天,我們來深入了解Onsemi公司的兩款N溝道PowerTrench MOSFET——FDH047AN08A0和FDP047AN08A0,看看它們能為我們的設計帶來哪些優(yōu)勢。

文件下載:FDH047AN08A0-D.PDF

產(chǎn)品特性

低導通電阻

這兩款MOSFET的一大亮點就是其低導通電阻 (R{DS(ON)})。在 (V{GS}=10V)、(I{D}=80A) 的典型條件下,(R{DS(ON)}) 僅為 (4.0 mOmega)。低導通電阻意味著在導通狀態(tài)下,MOSFET的功耗更低,能夠有效減少發(fā)熱,提高系統(tǒng)效率。大家可以思考一下,在高功率應用中,這種低功耗特性會帶來怎樣的節(jié)能效果呢?

低總柵極電荷

總柵極電荷 (Q{g(TOT)}) 在 (V{GS}=10V) 時典型值為 (92nC)。低柵極電荷有助于降低開關損耗,提高開關速度,使MOSFET能夠更快速地響應控制信號,適用于高頻開關應用。

其他特性

  • 低米勒電荷:米勒電容是影響MOSFET開關速度的重要因素,低米勒電荷可以減少開關過程中的延遲,提高開關性能。
  • 低 (Q_{rr}) 體二極管:體二極管的反向恢復電荷 (Q_{rr}) 較低,能夠減少反向恢復過程中的能量損耗,提高系統(tǒng)的可靠性。
  • UIS能力:具備單脈沖和重復脈沖的非鉗位電感開關(UIS)能力,能夠承受較高的能量沖擊,增強了器件在惡劣環(huán)境下的穩(wěn)定性。
  • 環(huán)保合規(guī):該器件無鉛且符合RoHS標準,滿足環(huán)保要求。

應用領域

同步整流

適用于ATX電源、服務器電源和電信電源的同步整流電路。在這些應用中,低導通電阻和快速開關特性可以提高電源的效率和功率密度。

電池保護電路

能夠為電池提供可靠的過流、過壓保護,確保電池的安全使用。

電機驅(qū)動和不間斷電源

在電機驅(qū)動和UPS應用中,MOSFET需要具備良好的開關性能和承載能力,這兩款MOSFET正好滿足這些需求。

電氣特性

最大額定值

  • 電壓:漏源電壓 (V{DSS}) 最大為75V,柵源電壓 (V{GS}) 最大為 (pm20V)。
  • 電流:連續(xù)漏極電流 (I{D}) 在 (T{C}<144^{circ}C)、(V{GS}=10V) 時為80A;在 (T{C}=25^{circ}C)、(V{GS}=10V)、(R{JA}=62^{circ}C/W) 時為15A。脈沖漏極電流則需參考相關圖表。
  • 功率:功率耗散 (P_{D}) 最大為310W,在 (25^{circ}C) 以上需以 (2.0W/^{circ}C) 的速率降額。
  • 溫度:工作和存儲溫度范圍為 (-55^{circ}C) 至 (+175^{circ}C)。

電氣參數(shù)測試

在不同的測試條件下,這兩款MOSFET展現(xiàn)出了出色的性能。例如,在截止特性方面,漏源擊穿電壓 (B{VDS}) 在 (I{D}=250mu A)、(V{GS}=0V) 時為75V;零柵壓漏極電流 (I{DSS}) 在 (V{DS}=60V)、(V{GS}=0V) 時最大為1(mu A)。在導通特性方面,柵源閾值電壓 (V{GS(TH)}) 在 (V{GS}=V{DS})、(I{D}=250mu A) 時為2.0 - 4.0V。動態(tài)特性和開關特性也都表現(xiàn)良好,如輸入電容 (C{ISS}) 在 (V{DS}=25V)、(V_{GS}=0V)、(f = 1MHz) 時典型值為6600pF,開關時間也都在合理范圍內(nèi)。

熱特性

熱特性對于MOSFET的性能和可靠性至關重要。這兩款MOSFET的結到殼熱阻 (R{JC}) 最大為 (0.48^{circ}C/W)(TO - 220和TO - 247封裝),結到環(huán)境熱阻 (R{JA}) 在TO - 220封裝時最大為 (62^{circ}C/W),TO - 247封裝時最大為 (30^{circ}C/W)。在設計散熱方案時,我們需要充分考慮這些熱阻參數(shù),以確保MOSFET在工作過程中不會過熱。

模型與測試

電氣模型

提供了PSPICE和SABER電氣模型,方便工程師進行電路仿真。這些模型包含了詳細的參數(shù)和特性,可以幫助工程師在設計階段更好地預測MOSFET的性能。

測試電路和波形

文檔中還給出了未鉗位能量測試電路、柵極電荷測試電路和開關時間測試電路等,以及相應的波形圖。這些測試電路和波形圖可以幫助工程師驗證MOSFET的實際性能,確保其符合設計要求。

封裝與標記

FDH047AN08A0采用TO - 247封裝,每管30個;FDP047AN08A0采用TO - 220封裝,每管50個。同時,文檔中還給出了標記圖和訂購信息,方便工程師進行產(chǎn)品識別和采購。

Onsemi的FDH047AN08A0和FDP047AN08A0 MOSFET以其出色的性能和豐富的特性,為電子工程師在電源、電機驅(qū)動等領域的設計提供了優(yōu)質(zhì)的解決方案。在實際應用中,我們需要根據(jù)具體的需求和電路條件,合理選擇和使用這些器件,以充分發(fā)揮它們的優(yōu)勢。大家在使用過程中有沒有遇到過類似MOSFET的應用問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

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