金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 透射電鏡與 FIB 制樣技術(shù)解析2025-04-16 15:17

  

  透射電鏡的樣品種類透射電鏡（TEM）的樣品類型多樣，涵蓋了粉末試樣、薄膜試樣、表面復(fù)型和萃取復(fù)型等多種形式。薄膜試樣則側(cè)重于研究樣品內(nèi)部的組織、結(jié)構(gòu)、成分、位錯(cuò)組態(tài)和密度、相取向關(guān)系等。表面復(fù)型和萃取復(fù)型主要用于金相組織觀察、斷口形貌、形變條紋、第二相形態(tài)、分布和結(jié)構(gòu)等方面的分析。透射電鏡工作原理透射電子顯微鏡（TEM）是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù)，其工作原理

  fib TEM 電鏡 1090瀏覽量

• 機(jī)械沖擊試驗(yàn)參數(shù)選擇指南2025-04-15 15:48

  

  機(jī)械沖擊試驗(yàn)是力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)中極為關(guān)鍵的檢測(cè)手段。它以瞬間性和破壞性為特點(diǎn)，主要用于評(píng)估電工電子元器件、設(shè)備及其他產(chǎn)品在實(shí)際使用和運(yùn)輸過(guò)程中抵御非多次重復(fù)機(jī)械沖擊的能力。通過(guò)該試驗(yàn)，可以判斷產(chǎn)品對(duì)沖擊環(huán)境的適應(yīng)性和結(jié)構(gòu)的完整性。沖擊方向的確定在進(jìn)行機(jī)械沖擊試驗(yàn)時(shí)，沖擊方向的確定是基礎(chǔ)且關(guān)鍵的一步。通常情況下，沖擊測(cè)試的方向涵蓋三個(gè)相互垂直的正反向，具體而言，即

  沖擊試驗(yàn) 機(jī)械 1632瀏覽量

• PCB紅墨水試驗(yàn)的作用2025-04-14 16:07

  

  在電子制造領(lǐng)域，PCB的質(zhì)量直接影響到電子設(shè)備的性能與可靠性。PCB紅墨水試驗(yàn)的主要作用包括以下3個(gè)方面：檢測(cè)焊點(diǎn)完整性焊點(diǎn)的完整性是PCB質(zhì)量的關(guān)鍵指標(biāo)之一。在PCB紅墨水試驗(yàn)中，通過(guò)將PCB浸泡在紅墨水中，可以利用紅墨水的滲透性來(lái)檢測(cè)焊點(diǎn)內(nèi)部的情況。當(dāng)焊點(diǎn)完整時(shí)，紅墨水無(wú)法滲透到焊點(diǎn)內(nèi)部，焊點(diǎn)表面會(huì)被紅墨水均勻覆蓋；然而，如果焊點(diǎn)存在裂縫、空洞等缺陷，紅

  pcb PCB 試驗(yàn) 1006瀏覽量

• 聚焦離子束技術(shù)的原理和應(yīng)用2025-04-11 22:51

  

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)在納米科技里很重要，它在材料科學(xué)、微納加工和微觀分析等方面用處很多。離子源：FIB的核心部件離子源是FIB系統(tǒng)的關(guān)鍵部分，液態(tài)金屬離子源（LMIS）用得最多，特別是鎵（Ga）離子源。鎵的熔點(diǎn)低，能形成穩(wěn)定的液態(tài)金屬源，而且鎵離子聚焦性能好，能聚焦成很細(xì)的束斑，用來(lái)精確加工和分析材料。在離子源里，金屬離子被電場(chǎng)加速和聚焦，形成高能、高精

  fib 掃描系統(tǒng) 離子束 941瀏覽量

• 什么是AEC-Q200認(rèn)證2025-04-10 12:17

  

  AEC-Q200認(rèn)證是由汽車電子協(xié)會(huì)（AutomotiveElectronicsCouncil，簡(jiǎn)稱AEC）制定的一套標(biāo)準(zhǔn)，其目的在于確保汽車電子部件的可靠性和質(zhì)量。AEC是由克萊斯勒、福特和通用汽車等主要汽車制造商與美國(guó)主要部件制造商共同成立的組織，旨在為車載電子部件的可靠性和認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格化提供統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)。在2023年3月20日，AEC發(fā)布了最新的無(wú)源元

  AEC 汽車電子 認(rèn)證 1725瀏覽量

• 恒溫試驗(yàn)：產(chǎn)品性能的關(guān)鍵檢測(cè)方法2025-04-10 12:15

  

  恒溫試驗(yàn)簡(jiǎn)介恒溫試驗(yàn)是通過(guò)在特定溫度條件下對(duì)各類材料、產(chǎn)品和設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，以評(píng)估其性能穩(wěn)定性和可靠性的一種實(shí)驗(yàn)方法。恒溫試驗(yàn)?zāi)M了產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能遇到的溫度環(huán)境，是確保產(chǎn)品在不同環(huán)境下都能正常工作的關(guān)鍵手段，為產(chǎn)品的技術(shù)改進(jìn)和性能提升提供了重要依據(jù)。核心參數(shù)與指標(biāo)1.溫度范圍：試驗(yàn)溫度通常介于-40℃至+150℃，但可根據(jù)具體需求調(diào)整。2.溫度均勻性：試

  PID 檢測(cè) 1256瀏覽量

• 聚焦離子束雙束系統(tǒng) FIB - SEM 的技術(shù)剖析與應(yīng)用拓展2025-04-10 11:53

  

  技術(shù)原理與核心優(yōu)勢(shì)聚焦離子束雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）是一種集成多種先進(jìn)技術(shù)的高端設(shè)備，其核心構(gòu)成包括聚焦離子束（FIB）模塊、掃描電子顯微鏡（SEM）模塊以及多軸樣品臺(tái)，這種獨(dú)特的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使得它能夠?qū)崿F(xiàn)加工與觀測(cè)的一體化操作，極大地提高了工作效率和分析精度。1.FIB模塊的關(guān)鍵作用FIB模塊采用液態(tài)金屬離子源（LMIS）產(chǎn)生鎵離子束（Ga?），這種鎵離子束

  fib SEM 離子束 1414瀏覽量

• RoHS、REACH 、無(wú)鹵的區(qū)別2025-04-08 17:58

  

  RoHS指令詳解RoHS（限制特定有害物質(zhì)）是歐盟為降低電子和電氣設(shè)備中有害物質(zhì)含量而實(shí)施的一項(xiàng)法規(guī)。該指令的主要目的是限制六種有害物質(zhì)的使用，以減少對(duì)環(huán)境和人類健康的影響。鉛（Pb）：不得超過(guò)0.1%（1000ppm），常見用途包括焊料、玻璃和PVC穩(wěn)定劑。汞（Hg）：不得超過(guò)0.1%（1000ppm），用于溫控器、傳感器等。鎘（Cd）：不得超過(guò)0.01%

  REACH RoHS 電氣設(shè)備 2117瀏覽量

• 熱膨脹系數(shù)測(cè)試2025-04-08 17:57

  

  熱膨脹系數(shù)測(cè)試是材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)一項(xiàng)至關(guān)重要的實(shí)驗(yàn)技術(shù)。熱膨脹系數(shù)測(cè)試的原理熱膨脹系數(shù)是衡量材料在溫度變化時(shí)尺寸（長(zhǎng)度或體積）相對(duì)變化量的物理指標(biāo)，具體定義為：當(dāng)溫度升高1K時(shí)，材料尺寸相對(duì)于其原始尺寸的增量比例。熱膨脹系數(shù)的大小受多種因素影響，包括材料的化學(xué)構(gòu)成、鍵的牢固程度、結(jié)晶狀態(tài)、晶體取向、相轉(zhuǎn)變過(guò)程、內(nèi)部裂紋及缺陷等對(duì)于同一材料而言，熱膨脹系數(shù)并非恒

  測(cè)試 熱膨脹 2871瀏覽量

• 聚焦離子束技術(shù)之納米尺度2025-04-08 17:56

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡(jiǎn)稱FIB）技術(shù)，宛如一把納米尺度的“萬(wàn)能鑰匙”，在材料加工、分析及成像領(lǐng)域大放異彩。它憑借高度集中的離子束，精準(zhǔn)操控離子束與樣品表面的相互作用，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)別的精細(xì)操作，為眾多學(xué)科和工業(yè)領(lǐng)域帶來(lái)了前所未有的機(jī)遇。核心構(gòu)成FIB系統(tǒng)的核心在于離子束的生成與調(diào)控。生成用于撞擊樣品的離子束，其中最為普遍的離子源類型為液態(tài)金

  fib 離子束 納米 847瀏覽量