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LM-80測(cè)試:評(píng)估LED燈具的壽命與性能2025-03-27 10:26
LM80測(cè)試簡(jiǎn)介L(zhǎng)M80測(cè)試是由北美照明工程協(xié)會(huì)(IESNA)與美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)(ANSI)聯(lián)合發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn),主要用于評(píng)估LED器件的流明維持率和顏色維持性能。這一標(biāo)準(zhǔn)為L(zhǎng)ED產(chǎn)品的壽命和性能評(píng)估提供了科學(xué)且統(tǒng)一的方法,被行業(yè)內(nèi)公認(rèn)為“黃金標(biāo)準(zhǔn)”。對(duì)于LED制造商而言,LM80測(cè)試是產(chǎn)品性能的重要證明,也是申請(qǐng)能效認(rèn)證(如能源之星、中國(guó)能效標(biāo)識(shí))的關(guān)鍵環(huán)節(jié) -
聚焦離子束技術(shù):原理、特性與應(yīng)用2025-03-27 10:24
聚焦離子束(Focused-Ion-Beam,FIB)技術(shù)是一種先進(jìn)的微納加工與分析手段。其基本原理是通過(guò)電場(chǎng)和磁場(chǎng)的作用,將離子束聚焦到亞微米甚至納米級(jí)別,并利用偏轉(zhuǎn)和加速系統(tǒng)控制離子束的掃描運(yùn)動(dòng),實(shí)現(xiàn)微納圖形的監(jiān)測(cè)分析以及微納結(jié)構(gòu)的無(wú)掩模加工。FIB系統(tǒng)基本組成FIB系統(tǒng)由多個(gè)關(guān)鍵部分組成,如圖1所示。離子源是系統(tǒng)的核心,通常采用液態(tài)金屬離子源,如鎵離子 -
紫外線對(duì)產(chǎn)品的影響及紫外老化試驗(yàn)的重要性2025-03-26 15:34
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LED實(shí)用指南:常見(jiàn)導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試方法比較2025-03-26 15:32
眾所周知,隨著溫度升高,電子器件可靠性和壽命將呈指數(shù)規(guī)律下降。對(duì)于LED產(chǎn)品和器件來(lái)說(shuō),選用導(dǎo)熱系數(shù)盡可能小的原材料是改善產(chǎn)品散熱狀況、提高產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。目前,導(dǎo)熱系數(shù)的測(cè)試方法多種多樣,各有優(yōu)勢(shì)與局限性。本文將深入剖析兩種主流的測(cè)試方法——激光閃射法(瞬態(tài)法)與穩(wěn)態(tài)熱流法,并提供科學(xué)合理的優(yōu)選策略,以助于研究人員和工程師在實(shí)際工作中做出明智的選 -
氬離子截面剖析:鋰電池電極材料2025-03-26 15:31
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聚焦離子束技術(shù)在納米加工中的應(yīng)用與特性2025-03-26 15:18
聚焦離子束技術(shù)的崛起近年來(lái),F(xiàn)IB技術(shù)憑借其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì),結(jié)合掃描電鏡(SEM)等高倍數(shù)電子顯微鏡的實(shí)時(shí)觀察功能,迅速成為納米級(jí)分析與制造的主流方法。它在半導(dǎo)體集成電路的修改、切割以及故障分析等關(guān)鍵環(huán)節(jié)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用,為電子器件的微型化、高性能化提供了有力的技術(shù)支撐。FIB-SEM雙束系統(tǒng)的協(xié)同工作原理當(dāng)樣品表面垂直于離子束時(shí),離子束可以高效地進(jìn)行切割 -
LED光生物安全理論及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)2025-03-25 17:13
光生物效應(yīng)光生物效應(yīng)是光與生物體相互作用的核心內(nèi)容。在人體生理反應(yīng)層面,光生物效應(yīng)可歸納為視覺(jué)效應(yīng)、非視覺(jué)效應(yīng)與輻射效應(yīng)三大類別。視覺(jué)效應(yīng)是光的最基礎(chǔ)作用,其影響因素豐富多樣,包括亮度、空間分布、顯色性、眩光等,這些因素相互作用,可能導(dǎo)致眼睛疲勞、視力模糊,甚至降低視覺(jué)相關(guān)作業(yè)的效率。非視覺(jué)效應(yīng)則涉及人體除視覺(jué)外的廣泛生理與心理反應(yīng),與工作效率、安全感、舒適 -
透射電子顯微鏡(TEM)的優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用2025-03-25 17:10
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車規(guī)級(jí)與非車規(guī)級(jí)有什么區(qū)別?如何管控?2025-03-24 14:36
車規(guī)VS非車規(guī)的差異1.可靠性要求車規(guī)級(jí):車規(guī)級(jí)產(chǎn)品在可靠性方面的要求極為嚴(yán)苛,其缺陷率需控制在百萬(wàn)分之一(PPM)級(jí)別,設(shè)計(jì)壽命通常為15年或20萬(wàn)公里,且必須通過(guò)AEC-Q系列認(rèn)證,如AEC-Q100是針對(duì)芯片的專門認(rèn)證。相比之下,非車規(guī)級(jí)產(chǎn)品(例如消費(fèi)級(jí))的缺陷率容忍度相對(duì)較高,壽命周期一般僅為2-3年。環(huán)境測(cè)試:車規(guī)級(jí)元器件需要經(jīng)受極端溫度循環(huán)測(cè)試( -
案例展示||FIB-SEM在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用2025-03-21 15:27