帶有八進制總線收發(fā)器和寄存器的ABT8652掃描測試設備是德州儀器SCOPE ^TM 可測性集成電路系列的成員。該系列器件支持IEEE標準1149.1-1990邊界掃描，便于測試復雜的電路板組件。掃描訪問測試電路是通過4線測試訪問端口（TAP）接口完成的。

在正常模式下，這些器件在功能上等同于'F652和'ABT652八進制總線收發(fā)器和寄存器。測試電路可以由TAP激活，以獲取出現(xiàn)在器件引腳上的數(shù)據(jù)的快照樣本，或者對邊界測試單元執(zhí)行自測試。在正常模式下激活TAP不會影響SCOPE ^TM 八進制總線收發(fā)器和寄存器的功能操作。

控制每個方向的數(shù)據(jù)流按時鐘（CLKAB和CLKBA），選擇（SAB和SBA）和輸出使能（OEAB和）輸入。對于A到B數(shù)據(jù)流，A總線上的數(shù)據(jù)在CLKAB的低到高轉(zhuǎn)換時被輸入相關寄存器。當SAB為低時，選擇實時A數(shù)據(jù)以呈現(xiàn)給B總線（透明模式）。當SAB為高時，選擇存儲的A數(shù)據(jù)以呈現(xiàn)給B總線（注冊模式）。當OEAB為高電平時，B輸出有效。當OEAB為低電平時，B輸出處于高阻態(tài)。 B-to-A數(shù)據(jù)流的控制類似于A-to-B數(shù)據(jù)流的控制，但使用CLKBA，SBA和輸入。由于輸入為低電平有效，當為低并且在很高。圖1顯示了可以使用'ABT8652執(zhí)行的四種基本總線管理功能。

在測試模式下，SCOPE ^TM 總線收發(fā)器和寄存器的正常操作是禁止并且使測試電路能夠觀察和控制設備的I /O邊界。啟用后，測試電路執(zhí)行邊界掃描測試操作，如IEEE標準1149.1-1990所述。

四個專用測試引腳控制測試電路的操作：測試數(shù)據(jù)輸入（TDI），測試數(shù)據(jù)輸出（TDO），測試模式選擇（TMS）和測試時鐘（TCK）。另外，測試電路執(zhí)行其他測試功能，例如數(shù)據(jù)輸入上的并行簽名分析（PSA）和來自數(shù)據(jù)輸出的偽隨機模式生成（PRPG）。所有測試和掃描操作都與TAP接口同步。

SN54ABT8652的特點是可在-55°C至125°C的整個軍用溫度范圍內(nèi)工作。 SN74ABT8652的工作溫度范圍為-40°C至85°C。