音頻視頻接口的EEMI,EMC抑制全球銷(xiāo)售的所有電子產(chǎn)品在上市之前必須進(jìn)行EMI/
EMC測(cè)試，證明它們不會(huì)產(chǎn)生干擾，或不會(huì)受到其他
設(shè)備的干擾。出于測(cè)試目的，可將這些產(chǎn)品分成兩類(lèi)：
主動(dòng)輻射產(chǎn)品和非主動(dòng)輻射產(chǎn)品，例如，蜂窩電話和
對(duì)講機(jī)主動(dòng)輻射能量，而電視、電腦和膝上型電腦則
不應(yīng)該輻射能量。
產(chǎn)品的種類(lèi)和測(cè)試機(jī)構(gòu)不同，EMI/EMC的測(cè)試要求也
不同。但還是可以將EMI/EMC測(cè)試大致分為兩類(lèi)：
? 輻射：該測(cè)試限定了某產(chǎn)品輻射或傳導(dǎo)的信號(hào)幅
度和頻率，從而使其不會(huì)對(duì)其它產(chǎn)品產(chǎn)生干擾。
? 敏感度(也稱(chēng)為抗擾度)：該測(cè)試通過(guò)限定會(huì)干擾設(shè)
備正常工作的輻射和傳導(dǎo)信號(hào)的幅度和頻率，說(shuō)明產(chǎn)
品的輻射抑制能力。
如上所述，EMI可分為傳導(dǎo)干擾和輻射干擾兩種。由
于所有的EMI輻射都是由電流產(chǎn)生的，因此這兩種干
擾彼此相關(guān)。但并不是所有的電流都會(huì)產(chǎn)生輻射。因
此，首先要分析和抑制輻射干擾問(wèn)題，然后再處理傳
導(dǎo)干擾問(wèn)題。對(duì)于這兩種干擾來(lái)說(shuō)，輻射干擾更難預(yù)
測(cè)和抑制。因此它是造成大多數(shù)非主動(dòng)輻射產(chǎn)品EMI
測(cè)試失敗的主要原因。在此，我們將著重討論如何解
決眾多產(chǎn)品中普遍存在的音頻/視頻接口的輻射干擾
問(wèn)題。
可以采用多種方法來(lái)滿(mǎn)足EMI/EMC標(biāo)準(zhǔn)中所限定的
條件。但這些方法大都可以歸入屏蔽和濾波兩大類(lèi)。
在實(shí)際產(chǎn)品中，這些方法都要與特定的應(yīng)用相結(jié)合，
實(shí)現(xiàn)全面的EMI解決方案。例如，在大多數(shù)產(chǎn)品中，
都會(huì)用一個(gè)金屬殼體來(lái)屏蔽輻射，同時(shí)利用LC或RC
濾波器來(lái)降低輸入/輸出線的傳導(dǎo)干擾。此外，還可
以使用一個(gè)抖動(dòng)時(shí)鐘來(lái)擴(kuò)展頻譜范圍，以降低特定應(yīng)
用的濾波或屏蔽要求。
當(dāng)產(chǎn)品的EMI性能基本達(dá)到要求時(shí)，都會(huì)被拿到認(rèn)證
實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行正規(guī)測(cè)試。如果產(chǎn)品通過(guò)了測(cè)試，就可以
投放市場(chǎng)；而不能通過(guò)測(cè)試就意味著存在問(wèn)題。解決
問(wèn)題時(shí)，即使一個(gè)小小的改動(dòng)也要花費(fèi)很長(zhǎng)時(shí)間。這
樣就可能耽誤產(chǎn)品的上市時(shí)間，因?yàn)閲?guó)際和國(guó)內(nèi)市場(chǎng)
都要求產(chǎn)品必須通過(guò)EMI/EMC兼容性測(cè)試1。這樣一
來(lái)，EMI設(shè)計(jì)常常要犧牲產(chǎn)品的視頻性能，以確保其
通過(guò)測(cè)試。在現(xiàn)代設(shè)計(jì)中，需要考慮通過(guò)EMI測(cè)試所
需要的元器件的物理尺寸和成本，因此更會(huì)以犧牲視
頻性能作為代價(jià)。
現(xiàn)代音頻/視頻模擬接口的尺寸不斷減小，而性能期
望值卻很高，這對(duì)設(shè)計(jì)提出了非常嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。要解
決這一問(wèn)題，首先要找出大多數(shù)EMI/EMC測(cè)試失敗
的源頭；然后再探究可行的解決方案。