IC的設(shè)計(jì)過(guò)程可分為兩個(gè)部分，分別為：前端設(shè)計(jì)（也稱邏輯設(shè)計(jì)）和后端設(shè)計(jì)（也稱物理設(shè)計(jì)），這兩個(gè)部分并沒(méi)有統(tǒng)一嚴(yán)格的界限，凡涉及到與工藝有關(guān)的設(shè)計(jì)可稱為后端設(shè)計(jì)。 有人將IC設(shè)計(jì)和房屋設(shè)計(jì)做了比較詳細(xì)的類比：

一、前端設(shè)計(jì)的主要流程：

1、規(guī)格制定 芯片規(guī)格，也就像功能列表一樣，是客戶向芯片設(shè)計(jì)公司（稱為Fabless，無(wú)晶圓設(shè)計(jì)公司）提出的設(shè)計(jì)要求，包括芯片需要達(dá)到的具體功能和性能方面的要求。 2、詳細(xì)設(shè)計(jì) Fabless根據(jù)客戶提出的規(guī)格要求，拿出設(shè)計(jì)解決方案和具體實(shí)現(xiàn)架構(gòu)，劃分模塊功能。 3、HDL編碼 使用硬件描述語(yǔ)言（VHDL，Verilog HDL，業(yè)界公司一般都是使用后者）將模塊功能以代碼來(lái)描述實(shí)現(xiàn)，也就是將實(shí)際的硬件電路功能通過(guò)HDL語(yǔ)言描述出來(lái)，形成RTL（寄存器傳輸級(jí)）代碼。 語(yǔ)言輸入工具：

Summit 公司的 VisualHDL

Mentor 公司的 Renoir

圖形輸入工具：

Cadence的composer

viewlogic的viewdraw

4、仿真驗(yàn)證 仿真驗(yàn)證就是檢驗(yàn)編碼設(shè)計(jì)的正確性，檢驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)就是第一步制定的規(guī)格?？丛O(shè)計(jì)是否精確地滿足了規(guī)格中的所有要求。規(guī)格是設(shè)計(jì)正確與否的黃金標(biāo)準(zhǔn)，一切違反，不符合規(guī)格要求的，就需要重新修改設(shè)計(jì)和編碼。設(shè)計(jì)和仿真驗(yàn)證是反復(fù)迭代的過(guò)程，直到驗(yàn)證結(jié)果顯示完全符合規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)。 仿真工具： Verilog HDL：

Mentor公司的Modelsim

Synopsys公司的VCS

Cadence公司的NC-Verilog、Verilog—XL

VHDL：

Mentor公司的Modelsim

Synopsys公司的VSS

Cadence公司的NC-VHDL、Leapfrog

它們均可以對(duì)RTL級(jí)的代碼進(jìn)行設(shè)計(jì)驗(yàn)證。邏輯綜合之前的該部分仿真稱為前仿真，也即功能仿真/行為仿真/邏輯仿真。接下來(lái)在版圖設(shè)計(jì)完成之后還要再進(jìn)行一次仿真，稱為后仿真，也即時(shí)序仿真?。 5、邏輯綜合 仿真驗(yàn)證通過(guò)，進(jìn)行邏輯綜合。邏輯綜合的結(jié)果就是把設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的HDL代碼翻譯成門(mén)級(jí)網(wǎng)表netlist。綜合需要設(shè)定約束條件，就是你希望綜合出來(lái)的電路在面積，時(shí)序等目標(biāo)參數(shù)上達(dá)到的標(biāo)準(zhǔn)。邏輯綜合需要基于特定的綜合庫(kù)，不同的庫(kù)中，門(mén)電路基本標(biāo)準(zhǔn)單元（standard cell）的面積，時(shí)序參數(shù)是不一樣的。所以，選用的綜合庫(kù)不一樣，綜合出來(lái)的電路在時(shí)序，面積上是有差異的。 邏輯綜合工具：

Synopsys的Design Compiler、Behavial Compiler、DC-Expert

Cadence的buildgates、Envisia Ambit

Mentor的Leonardo

6、STA Static Timing Analysis（STA），靜態(tài)時(shí)序分析，這也屬于驗(yàn)證范疇，它主要是在時(shí)序上對(duì)電路進(jìn)行驗(yàn)證，檢查電路是否存在建立時(shí)間（setup time）和保持時(shí)間（hold time）的違例（violation）。這個(gè)是數(shù)字電路基礎(chǔ)知識(shí)，一個(gè)寄存器出現(xiàn)這兩個(gè)時(shí)序違例時(shí)，是沒(méi)有辦法正確采樣數(shù)據(jù)和輸出數(shù)據(jù)的，所以以寄存器為基礎(chǔ)的數(shù)字芯片功能肯定會(huì)出現(xiàn)問(wèn)題。 STA工具：

Synopsys的Prime Time。

Cadence的Pearl、Tempus

Mentor的SST Velocity

7、形式驗(yàn)證 這也是驗(yàn)證范疇，它是從功能上（STA是時(shí)序上）對(duì)綜合后的網(wǎng)表進(jìn)行驗(yàn)證。常用的就是等價(jià)性檢查方法，以功能驗(yàn)證后的HDL設(shè)計(jì)為參考，對(duì)比綜合后的網(wǎng)表功能，他們是否在功能上存在等價(jià)性。這樣做是為了保證在邏輯綜合過(guò)程中沒(méi)有改變?cè)菻DL描述的電路功能。 形式驗(yàn)證工具：

Synopsys的Formality。

Cadence的LEC、FormalCheck

Mentor的FormalPro

前端設(shè)計(jì)的流程到這里就結(jié)束了。從設(shè)計(jì)程度上來(lái)講，前端設(shè)計(jì)的結(jié)果就是得到了芯片的門(mén)級(jí)網(wǎng)表電路。

二、Backend design flow后端設(shè)計(jì)流程 ：

1、DFT Design For Test，可測(cè)性設(shè)計(jì)。芯片內(nèi)部往往都自帶測(cè)試電路，DFT的目的就是在設(shè)計(jì)的時(shí)候就考慮將來(lái)的測(cè)試。DFT的常見(jiàn)方法就是，在設(shè)計(jì)中插入掃描鏈，將非掃描單元（如寄存器）變?yōu)閽呙鑶卧?。關(guān)于DFT，有些書(shū)上有詳細(xì)介紹，對(duì)照?qǐng)D片就好理解一點(diǎn)。 DFT工具：

BSCAN技術(shù)– 測(cè)試IO pad，主要實(shí)現(xiàn)工具是：Mentor的BSDArchit、sysnopsy的BSD Compiler；

MBIST技術(shù)– 測(cè)試mem，主要實(shí)現(xiàn)工具是：Mentor的MBISTArchitect 、Tessent mbist；

ATPG 技術(shù)– 測(cè)試std-logic，主要實(shí)現(xiàn)工具是：產(chǎn)生ATPG使用Mentor的 TestKompress 、synopsys TetraMAX，插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。

2、布局規(guī)劃(FloorPlan) 布局規(guī)劃就是放置芯片的宏單元模塊，在總體上確定各種功能電路的擺放位置，如IP模塊，RAM，I/O引腳等等。布局規(guī)劃能直接影響芯片最終的面積。 布局規(guī)劃工具：

Synopsys的Astro、Physical Compiler、IC Compiler

Cadence的Encounter、PKS、Silicon Ensemble、Design Planner

3、CTS Clock Tree Synthesis，時(shí)鐘樹(shù)綜合，簡(jiǎn)單點(diǎn)說(shuō)就是時(shí)鐘的布線。由于時(shí)鐘信號(hào)在數(shù)字芯片的全局指揮作用，它的分布應(yīng)該是對(duì)稱式的連到各個(gè)寄存器單元，從而使時(shí)鐘從同一個(gè)時(shí)鐘源到達(dá)各個(gè)寄存器時(shí)，時(shí)鐘延遲差異最小。這也是為什么時(shí)鐘信號(hào)需要單獨(dú)布線的原因。 CTS工具：

Synopsys的Clock Tree Compiler

Cadence的CT-Gen

4、布線(Place & Route) 布線就是將前端提供的網(wǎng)表(netlist)，實(shí)現(xiàn)成版圖(layout)，包括各種標(biāo)準(zhǔn)單元（基本邏輯門(mén)電路）之間的走線。比如我們平常聽(tīng)到的0.13um工藝，或者說(shuō)90nm工藝，實(shí)際上就是這里金屬布線可以達(dá)到的最小寬度，從微觀上看就是MOS管的溝道長(zhǎng)度。 布線工具：

Synopsys的Astro、Physical Compiler、IC Compiler

Cadence的Encounter、PKS、Silicon Ensemble、Design Planner

5、寄生參數(shù)提取 由于導(dǎo)線本身存在的電阻，相鄰導(dǎo)線之間的互感,耦合電容在芯片內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生信號(hào)噪聲，串?dāng)_和反射。這些效應(yīng)會(huì)產(chǎn)生信號(hào)完整性問(wèn)題，導(dǎo)致信號(hào)電壓波動(dòng)和變化，如果嚴(yán)重就會(huì)導(dǎo)致信號(hào)失真錯(cuò)誤。提取寄生參數(shù)進(jìn)行再次的分析驗(yàn)證，分析信號(hào)完整性問(wèn)題是非常重要的。 寄生參數(shù)提取工具：

Synopsys的Star-RCXT

Mentor的Calibre xRC

Cadence的 Assure RCX

6、物理版圖驗(yàn)證 對(duì)布線完成的版圖我們還需要進(jìn)行功能和時(shí)序上的驗(yàn)證，驗(yàn)證項(xiàng)目很多，如：

LVS（Layout Vs Schematic）驗(yàn)證：簡(jiǎn)單說(shuō)，就是版圖與邏輯綜合后的門(mén)級(jí)電路圖的對(duì)比驗(yàn)證

DRC（Design Rule Checking）：設(shè)計(jì)規(guī)則檢查，檢查連線間距，連線寬度等是否滿足工藝要求

常用的LVS/DRC工具：

Synopsys的Hercules

Cadence的Dracula、diva、assura

Mentor的Calibre

版圖驗(yàn)證部分，我們還需要進(jìn)行時(shí)序仿真，也就是之前說(shuō)的后仿真。這次的仿真不再是簡(jiǎn)單的功能仿真，而是需要考慮實(shí)際的時(shí)延等因素。 后仿真工具：和前仿真工具一樣。 實(shí)際的后端流程還包括電路功耗分析，以及隨著制造工藝不斷進(jìn)步產(chǎn)生的DFM（可制造性設(shè)計(jì)）問(wèn)題，在此不說(shuō)了。 物理版圖驗(yàn)證完成也就是整個(gè)芯片設(shè)計(jì)階段完成，下面的就是芯片制造了。物理版圖以GDSII的文件格式交給芯片代工廠（稱為Foundry）在晶圓硅片上做出實(shí)際的電路，再進(jìn)行封裝和測(cè)試，就得到了我們實(shí)際看見(jiàn)的芯片。

審核編輯：黃飛

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