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探討關(guān)于驅(qū)動采樣ADC的電阻和電容影響輸入端的穩(wěn)定性

電子設(shè)計(jì) ? 來源:電子技術(shù)設(shè)計(jì) ? 作者:Kendall Castor-Perry ? 2021-02-10 09:31 ? 次閱讀
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作者:Kendall Castor-Perry

在一些關(guān)于驅(qū)動采樣ADC的文章中,談到了電阻電容影響輸入端的穩(wěn)定性。這個(gè)問題能被提出來是好事,但在我看來,處理方式似乎總是有點(diǎn)經(jīng)驗(yàn)主義,卻并沒解釋那些經(jīng)驗(yàn)從何而來。你們都想知道原因的,對吧?這里是我多年前做過的一些仿真試驗(yàn),相信可以對此作出一些解釋。

高速ADC將輸入電壓采樣到內(nèi)部電容上,因此存在充電電流。在為電荷轉(zhuǎn)移保留的一小段采樣周期時(shí)間內(nèi),必須獲取快速變化的輸入電壓以實(shí)現(xiàn)高精確度。輸入端子和采樣開關(guān)之間通常沒有緩沖。因此,電荷流的時(shí)域性能由內(nèi)部電容器和充電電流通路(包括芯片外部和內(nèi)部)的阻抗之間形成的時(shí)間常數(shù)來確定。

充電過程不是由ADC設(shè)計(jì)人員或數(shù)據(jù)表編寫人員控制的。如果外部阻抗影響充電波形(讀數(shù)器亦如此)的穩(wěn)定性,則可能阻礙輸入電壓在規(guī)定時(shí)間內(nèi)達(dá)到足夠的精度。與電平和斜率相關(guān)的誤差也會隨之出現(xiàn),甚至在低頻輸入信號上出現(xiàn)增益和線性問題。

這樣的ADC作為一個(gè)采樣數(shù)據(jù)系統(tǒng)卻不適合做連續(xù)瞬態(tài)分析——這真讓人驚訝!然而,采樣周期內(nèi)的充電完全可以由等效輸入網(wǎng)絡(luò)對表示時(shí)鐘的電壓階躍輸入的響應(yīng)來預(yù)測。用時(shí)鐘作為輸入信號,在時(shí)域中將組合的外部和內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)仿真為濾波器(嘿,想到這一點(diǎn)了嗎?),便可檢查外部元件的影響。這種方法在下一個(gè)時(shí)鐘邊緣之外是不準(zhǔn)確的——但如果到那時(shí)系統(tǒng)還未穩(wěn)定下來,那這個(gè)系統(tǒng)就會完全不準(zhǔn)確。

等效電路如圖1所示,它源自一款現(xiàn)在已經(jīng)相當(dāng)過時(shí)的Burr-Brown ADC的原理圖,其中有一個(gè)拓?fù)涓淖円苑奖惴抡妫粗匦掳才盘菪坞娐返淖詈笠粋€(gè)分支,讓2pF采樣電容接地;而且,整個(gè)電路是這個(gè)差分電路的單端等效電路。與外部元件相比,內(nèi)部細(xì)節(jié)影響不大。

pIYBAGAPxi-AItHNAAI2R5f7-mc117.png

圖1:基本電路分析。

對于80MHz轉(zhuǎn)換器來說,輸入為5MHz方波是較慢的采樣速率,這說明外部元件值雖然看起來合理,但也可能導(dǎo)致不好的穩(wěn)定性。文中的圖顯示了采樣電容器上電壓的穩(wěn)定性。忽略三個(gè)時(shí)鐘周期中的第一個(gè)(仔細(xì)觀察它與其它周期的細(xì)微差別),我并沒有讓電路達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài),好吧,這是我的錯。

這里展示了對三個(gè)參數(shù)的掃描:電容Cextx2、串聯(lián)電阻Rext和緩沖器Lopeff的有效電感(類似積分器的放大器噪聲增益帶寬將其輸出電阻Ropol轉(zhuǎn)換為電感)。

布局電感包括在內(nèi),但源阻抗的電感元件完全由驅(qū)動放大器的上升閉環(huán)輸出阻抗支配。改善這種系統(tǒng)的穩(wěn)定性的主要原因是使用了寬帶放大器,而不是放大器輸出級能有效驅(qū)動ADC不良輸入阻抗這類略而不證的斷言?,F(xiàn)在開始掃描。首先是電容Cextx2(圖2):

pIYBAGAPxkCAR_whAANr-EGNqY0489.png

圖2:在3pF和300pF之間掃描輸入電容(最慢速度)。

隨著電容器數(shù)值的增加,波形受到的阻尼效果變得更好,但穩(wěn)定所需的時(shí)間卻更長。這里,Rext=30Ω,Lopeff=160nH(對應(yīng)具有100Ω開環(huán)Ropol和100MHz噪聲增益帶寬的放大器)。無論通過什么方法來改善實(shí)際波形,增大電容都將延長穩(wěn)定時(shí)間。所以對于高速系統(tǒng),應(yīng)該使該電容盡可能小。接下來,我們掃描電阻Rext(圖3):

pIYBAGAPxlCAFSUkAAPKoLoSXys101.png

圖3:在3Ω和300Ω之間掃描外部電阻(最慢速度)。

掃描該電阻會改變外部RC時(shí)間常數(shù),但由于串聯(lián)電壓下降,增大Rext比增大Cextx2具有更顯著的效果。這里Cextx2=30pF,Lopeff=160nH。增大電阻值改善了在輸入端形成的諧振電路阻尼,特別是當(dāng)輸入電容值較小時(shí),但這同時(shí)也降低了系統(tǒng)速度。由于源電感增加(即運(yùn)算放大器的噪聲增益帶寬減?。?a target="_blank">電阻器數(shù)值也需要增大,以保持較好的采集波形。

現(xiàn)在來看看電感——實(shí)際上我們是掃描放大器的GBW。圖4顯示了將放大器的噪聲增益帶寬從1000MHz降低到10MHz的影響,此時(shí)Rext=30Ω,Cextx2=30pF。如同所預(yù)料的,使用較慢的運(yùn)算放大器顯著延長了穩(wěn)定所需的時(shí)間。此外,較大的過沖可能會導(dǎo)致輸入極問題。

pIYBAGAPxl2AWxzNAAO1A22YE4U789.png

圖4:在16nH和1600nH之間掃描有效的源電感(最慢速度)。

隨著運(yùn)算放大器GBW的降低,干凈采集時(shí)間(采用最恰當(dāng)?shù)腞ext和Cextx2)也會增加,這表明較慢的緩沖放大器可能根本無法以所需的速度實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確采集。波形的變化表明,如果三個(gè)主要外部元件中任意一個(gè)的值固定不變(比如運(yùn)算放大器不能改變,或ADC有一個(gè)較大的Cin),就需要優(yōu)化其他兩個(gè)元件來獲得良好的性能。值得注意的是,這個(gè)固定值的選擇有可能根本無法實(shí)現(xiàn)所需的穩(wěn)定時(shí)間!

希望上面的分析能讓你明白問題可能出現(xiàn)在哪里,以及如何在系統(tǒng)中查找問題——親自嘗試一下吧!
編輯:hfy

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