Q1

打聽一下季豐有TDR可以測PCB trace阻抗嗎？

A

季豐可以，以刀片切割優(yōu)先。

Q2

請問各位這樣的SHMOO各位有沒有啥經(jīng)驗。這樣的芯片正常flow還是pass的？如何才能篩出來？

A

Scan還是mbist的shmoo， 看看fail cycles是不是有共性，是不是地不干凈，GND noise太大了。

Q3

請教一下，各位有遇到過做完HAST后，芯片焊盤出現(xiàn)沾污的嗎？這種現(xiàn)象是芯片本身問題還是socket、爐子環(huán)境臟？

A

放大看看是不是有可能是錫鼓，高度差導致了看上去像是沾污了，中間的也可以看看，散熱盤看上去有點色差的。可以試試看SEM看看。

Q4

做完h3trb的樣品ate測試過不了，做完烘烤一天之后放置了兩天又pass了，這種芯片算可靠性失效么？

A

算，氣密性不好，進水氣了。

Q5

請問各位芯片BV測試，會影響芯片的壽命嗎？

A

功率器件一般要測BV，B1506A測的 I/V曲線，一般參數(shù)都會做BV，看BV曲線是否會疲軟 軟擊穿會造成器件的性能裂化或參數(shù)指標下降， 多次軟擊穿可能會造成硬擊穿，則會導致器件永久失效 。

Q6

請問HTOL pass的標準是各個read point的FT過就好，還是對read point之間的drift有要求？

A

我們會在FT Pass基礎之上在拉實驗前后偏差，shift 超過20% 的units 會針對測試數(shù)據(jù)進一步驗證，確認變化對應用的影響。

Q7

HD4100 和 BL301 烘烤條件一樣嗎？

A

BL301 是250℃/2H，HD4100 是375℃/1H，如果產(chǎn)品不需要低溫cure，就選HD4100肯定質(zhì)量更好。

Q8

請教一下季豐，貴司引腳錫氧化物的厚度能測不？

A

我問了季豐材料分析王博，確定是可以測的。如果尺寸大，就用FIB，如果是小尺寸的就用TEM。

Q9

咨詢一下，這個是什么flash制程？

A

NOR Flash

Q10

請問nor flash和nand flash切片上有什么不一樣的？

A

nand flash 源極漏極首尾相接，俗稱拉小手。

Q11

請教大家一個問題，國內(nèi)有哪些foundry可以代工光電鼠標傳感器（sensor）芯片的？多謝

A

SMIC ，上華，和艦都可以代工的。

Q12

請問有esd表面處理說明么？

A

Q13

請教個問題，像bhast，HTOL這些項目，樣品需要做預處理嘛？

A

HTOL不需要的，預處理還是針對芯片封裝可靠性相關評估。

Q14

再請教一下，HTOL試驗中樣品數(shù)量、失效數(shù)和PPM的計算方法?；蛘哒f，如果按照HTOL試驗一般性要求，77顆，125℃，1000H情況下0失效，能否對應到一個PPM。

A

ppm得拿elfr數(shù)據(jù)參考。htol樣本量太小了，htol更多的側(cè)重于評估芯片本身的壽命，其實不管怎么算出來，都只能和客戶說是ppm評估值，實際值要按照實際出貨量和客退來算。

Q15

大家好，請教一下，晶圓背面金屬的粘附性監(jiān)控一般用什么方法？

A

芯片背面的金屬通常是同時具備導電導熱功能的，所以粘附性監(jiān)控也許可以從這兩個角度考慮。die attach后，1.die share可以用于check物理強度。2.經(jīng)過熱應力實驗后（TC， thermal shock等）的ground resistance check。3.thermal performance evaluation。

原文標題：季豐電子IC運營工程技術知乎 –22W9

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