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迪賽康科技推出全新差分測試可調(diào)間距探針

高頻高速研究中心 ? 來源:高頻高速研究中心 ? 作者:迪賽康科技 ? 2022-04-15 17:55 ? 次閱讀
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迪賽康科技(深圳)有限公司一直專注于高頻、高速相關(guān)的產(chǎn)品研發(fā),已經(jīng)陸續(xù)推出全系列接口高速測試夾具,多款同軸連接器,高頻高速線纜和測試探針等高速相關(guān)產(chǎn)品,并申請專利。

最近研發(fā)出一款最新的差分測試可調(diào)間距探針,非常適用于信號完整性驗證、芯片評估、共面波導(dǎo)、電路調(diào)試及測試裝置用途,配合探針臺和網(wǎng)絡(luò)分析儀,基本可以做到高速信號測試無死角(阻抗,損耗哪里不對點哪里)。

差分仿真模型及仿真結(jié)果:

通過控制差分探針SS之間的距離,將探針針尖位置阻抗優(yōu)化至100±1ohm(Tr=35ps),且實現(xiàn)本款可調(diào)間距的差分探針在0.05~5.0mm范圍內(nèi)調(diào)整間距時,探針針尖阻抗波動在100±2ohm以內(nèi),40GHz回?fù)p滿足18dB。

我們推出的這款探針具有寬頻帶、精阻抗、高性價比、高可靠性等特點,精細(xì)研磨,特制倒角,有效解決ACP探針測試堆金問題,高可靠性測試,無縫隙覆蓋DC~40GHz,產(chǎn)品統(tǒng)一采用標(biāo)準(zhǔn)安裝接口,GSSG間距可調(diào)觸點形式,觸點尺寸50um,可通用適配多種探針臺、探針臂,適用于微波集成電路在片測試、管結(jié)參數(shù)提取、MEMS產(chǎn)品測試及片上天線測試等領(lǐng)域。

注:以上S參數(shù)測試結(jié)果包括兩個差分探針,一個差分探針插損測試結(jié)果應(yīng)該為上圖測試結(jié)果的一半。

迪賽康差分探針參數(shù)

1. 阻抗特性:100Ω±2%

2. 引出角度: 45°

3. 信號形式:GSSG

4. 觸點間距:可調(diào)間距

5. 觸點寬度:50um

6. 接觸電阻:30mΩ

7. 工作溫度:-55~125°

外形尺寸:

注意事項:探針頭部結(jié)構(gòu)都為精密零件,測試時必須配合探針臺使用!

我們很高興能夠?qū)⒋颂结槷a(chǎn)品推向市場,并為當(dāng)下該領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)難題提供一種新穎獨特的解決方案。有了這款性能已得到驗證的產(chǎn)品,客戶無需再使用當(dāng)前作為權(quán)宜之計的臨時探針,而且測試人員可實現(xiàn)控制性和可重復(fù)性更高的測試。

原文標(biāo)題:一款高性能、差分可調(diào)間距測試探針(GSSG)

文章出處:【微信公眾號:高頻高速研究中心】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

審核編輯:湯梓紅


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原文標(biāo)題:一款高性能、差分可調(diào)間距測試探針(GSSG)

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