1/f產(chǎn)品特性及優(yōu)勢(shì)的介紹
將多種多樣的測(cè)量設(shè)備與探針臺(tái)進(jìn)行整合是相當(dāng)復(fù)雜的，這是因?yàn)樵诟鞣N不同組成部分之間存在諸多的相互影響因素。在片的 1/f 噪聲測(cè)量是任何特性分析和建模測(cè)試系統(tǒng)至關(guān)重要的組成部分。由于靈敏度要求的原因，它們會(huì)很容易遭受外部干擾源的破壞。為了克服這些難題，我們必須擁有由眾所周知且經(jīng)過(guò)預(yù)先驗(yàn)證的配置構(gòu)成的全面解決方案，從而確保包含所有的組成部分以完成盡可能好的測(cè)量。
MeasureOne 優(yōu)勢(shì)
- 有保證的配置
- 準(zhǔn)確和可重復(fù)的晶圓級(jí) 1/f 及 RTN 測(cè)量
- 經(jīng)過(guò)預(yù)先驗(yàn)證的系統(tǒng)配置
- 由專業(yè)的工程師負(fù)責(zé)安裝
- 由解決方案專家實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)優(yōu)化
解決方案組件
- Cascade 200 mm或300 mm半自動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)
- Velox? 軟件
- DCP 探針、ACP 探針、In?nity ?探針、或 |Z|?探針
- DPP 精準(zhǔn)型 DC 定位器
- Keysight Technologies E4727A 高級(jí)低頻分析儀 (A-LFNA)
- Keysight Technologies B1500A 半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀
- Keysight Technologies WaferPro Express 軟件和 A-LFNA
審核編輯：符乾江
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