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ESD保護設(shè)計要點

MCU開發(fā)加油站 ? 來源:AT32 MCU 雅特力科技 ? 作者:AT32 MCU 雅特力科技 ? 2022-07-28 10:06 ? 次閱讀
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概述

USB接口的可熱插拔特性會容易受靜電損壞器件,造成死機、燒板、掉線等。在USB接口上設(shè)計ESD保護是必要的,USB ESD設(shè)計需要滿足JS-001-2017(HBM)和IEC61000-4-2兩個標(biāo)準(zhǔn)。HBM要求設(shè)備USB接口能夠承受高達(dá)2 kV的放電,圖1和表1為JS-001-2017標(biāo)準(zhǔn)測試波形和等級分類。圖2和表2為IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)測試波形和等級分類。

圖1. JS-001-2017標(biāo)準(zhǔn)測試波形

1dec3180-0d98-11ed-ba43-dac502259ad0.png

表1. JS-001-2017標(biāo)準(zhǔn)等級分類

1e1848ec-0d98-11ed-ba43-dac502259ad0.png

圖2. IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)測試波形

1e36aa26-0d98-11ed-ba43-dac502259ad0.png

表2. IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)等級分類

1e536d50-0d98-11ed-ba43-dac502259ad0.png

ESD保護設(shè)計要點

在USB接口設(shè)計時建議加入ESD保護器件并加入VBUS偵測電路檢測過壓。設(shè)計要點列出如下:

ESD保護器件應(yīng)盡量靠近USB插座接口放置(ESD進(jìn)入點)

VBUS、USB數(shù)據(jù)線(USB_D+/USB_D-)、ID(若為OTG)都要進(jìn)行ESD保護

圖3. USB ESD保護電路

1e69af70-0d98-11ed-ba43-dac502259ad0.png

VBUS的走線盡量遠(yuǎn)離D+/D-

USB插座金屬殼要與設(shè)備外殼地可靠連接

設(shè)備不需要VBUS提供電源時,可通過電阻分壓后連接于AT32的非5 V耐壓的一般GPIO,或直接連接于5 V耐壓的GPIO,作為VBUS偵測信號

圖4. VBUS偵測電路

1e890e56-0d98-11ed-ba43-dac502259ad0.png

ESD保護器件的選擇

USBFS的傳輸速率達(dá)到12 Mbps,一般選用TVS陣列管來實現(xiàn)ESD防護。當(dāng)ESD事件到來時,TVS中的二極管會正向?qū)?,使得瞬態(tài)電流繞過敏感的CMOS器件,將瞬態(tài)高壓降低到鉗位電壓值,進(jìn)而實現(xiàn)對接口電路的保護。

鉗位電壓

在ESD事件到來時,保護器件對高壓脈沖鉗制到鉗位電壓,并且分流大部分脈沖電流到地,以保護后端敏感器件。但是,仍然會有殘余電流流入受保護器件,ESD事件期間的峰值電流是通過ESD保 護器件的分流電流與流入受保護器件的殘余電流之和。受保護器件承受的功率取決于ESD保護器件的鉗位電壓和流入的殘余電流。

鉗位電壓可用以下公式計算:

鉗位電壓(VCL)=VBR+Io(殘余電流)x Ro(受保護器件電阻)

在選擇ESD保護器件鉗位電壓時,設(shè)計人員必需了解使用何種測試設(shè)置來確定數(shù)值。根據(jù)IEC61000-4-2 Level 4標(biāo)準(zhǔn),ESD脈沖具有少于1 ns的上升時間和小于100 ns的持續(xù)時間,以及30 A峰值電流。具有5 V鉗位電壓的ESD保護二極管可能在實際的ESD測試中出現(xiàn)超過30 V的鉗位電壓。如果不了解這一點,設(shè)計人員可能會僅僅根據(jù)數(shù)據(jù)表中最低鉗位電壓來選擇ESD保護器件。

信號完整性

在數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)中要求確保接收器達(dá)到一定的信號完整性水平,信號的上升、下降時間是由整個傳輸路徑阻抗來限制的,并且結(jié)合了接口的所有寄生電容。這些寄生電容可能由不匹配的PCB線路、USB插座引腳或其它并聯(lián)電容引起,因此要求ESD保護器件的電容必須小,并且也要能提供足夠的ESD防護能力。

審核編輯:彭靜
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原文標(biāo)題:AT32 MCU USB接口ESD防護設(shè)計指南

文章出處:【微信號:mcugeek,微信公眾號:MCU開發(fā)加油站】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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