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氟化銅(CuF2)在金屬氟化物正極中的作用

工程師鄧生 ? 來源:新威 ? 作者:景行 ? 2022-09-20 10:01 ? 次閱讀
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01 導(dǎo)讀

由于其高理論電位(3.55 V)和高容量(528 mAh/g),氟化銅(CuF2)在所有金屬氟化物正極中具有最高的能量密度。然而,CuF2只能進(jìn)行不到5個(gè)循環(huán),這主要是由于在充電/放電循環(huán)期間Cu離子嚴(yán)重溶解。

02 成果背景

近日,馬里蘭大學(xué)王春生教授和戴爾豪西大學(xué)楊崇英(助理)教授等在電極制造過程中使用水作為漿料溶劑和海藻酸鈉(SA) 作為粘合劑,通過在CuF2顆粒表面形成Cu2+配位的海藻酸鈉(Cu-SA),成功抑制了銅溶解。在0.05 C下循環(huán)50次后,具有SA粘合劑的CuF2電極的可逆容量為420.4 mAh g-1,能量密度達(dá)到1009.1 Wh kg-1。相關(guān)工作以Super-reversible CuF2 Cathodes Enabled by Cu2+Coordinated Alginate為題發(fā)表在Advanced Materials上。

03 關(guān)鍵創(chuàng)新

作者利用在CuF2納米顆粒表面原位形成Cu2+配位SA層的簡(jiǎn)單策略,成功地抑制了CuF2正極中Cu離子的溶解,實(shí)現(xiàn)了高可逆CuF2正極。

04 核心內(nèi)容解讀

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圖1(a)海藻酸鈉(SA)鏈的化學(xué)結(jié)構(gòu);(b)Cu-SA凝膠的照片和Cu-SA的化學(xué)結(jié)構(gòu),直觀地演示了SA和Cu2+離子交聯(lián)作用干燥的SA和Cu-SA粉末的(c)拉曼光譜;(d)PVDF、SA和Cu-SA薄膜在EC/PC溶劑中的膨脹比。@The Authors

作為一種從褐藻中提取的天然多糖,SA包含大量的羥基和羧基(圖1a)。將稀釋的CuF2水溶液滴加入SA水溶液中,SA分子立即與Cu2+離子相互作用,形成一個(gè)具有“蛋盒結(jié)構(gòu)”的藍(lán)色Cu-SA水凝膠(圖1b)。

作者利用傅里葉變換紅外(FTIR)表征了SA和Cu2+離子之間的強(qiáng)交聯(lián)。如圖1c所示,SA粉末在~3300cm-1處表現(xiàn)出氫鍵鍵合的O-H伸縮振動(dòng)相關(guān)的寬吸收帶,在1000~1700cm-1范圍內(nèi)有一系列對(duì)應(yīng)的尖銳峰。與Cu2+離子交聯(lián)后,C-O吸收峰出現(xiàn)明顯的藍(lán)移。位于1592、1406和1026 cm-1處的峰與COO-的不對(duì)稱/對(duì)稱振動(dòng)和C-O-C基團(tuán)的不對(duì)稱振動(dòng)有關(guān),分別移至1608、1412和1032 cm-1。這些峰的位移為SA和Cu2+離子之間的化學(xué)相互作用提供了強(qiáng)有力的證據(jù)。

SA和Cu-SA薄膜在EC/PC有機(jī)溶劑中的溶脹性較小,這對(duì)有效抑制Cu傳輸和實(shí)現(xiàn)快速鋰離子傳輸具有重要意義。如圖1d所示,在EC/PC有機(jī)溶劑浸泡24個(gè)小時(shí),SA和Cu-SA膜的重量分別增加了14.5%和8.5%,而厚度相近的PVDF膜吸收了大量的碳酸鹽溶劑,重量增加達(dá)到42.4%。SA和Cu-SA的低膨脹度,保證了Cu-SA層在CuF2表面的高穩(wěn)定性。

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圖2(a)H-CuF2-SA電極的制備示意圖;原始H-CuF2-SA電極納米顆粒的(b)(c)TEM圖像和(d)HRTEM圖像;(e)H-CuF2-SA納米顆粒的HAADF-STEM圖像,及Cu、F、O元素的EDS;H-CuF2-PVDF電極納米顆粒(f)(g)TEM和(h) HRTEM圖像;(i)H-CuF2-PVDF電極納米顆粒的HAADF-STEM圖像及相應(yīng)的Cu、F、O元素的EDS。@The Authors

圖2a展示了用SA粘合劑的羥基化CuF2電極(表示為H-CuF2-SA電極)的制備過程。與傳統(tǒng)的電極制備工藝不同,作者沒有直接將SA水溶液與CuF2粒子混合,以避免SA和Cu2+離子之間的快速交聯(lián)效應(yīng)。相反,作者首先用CuF2納米顆粒球磨SA粉,以確保SA的均勻分散,并與CuF2顆粒緊密接觸。然后作者將KB加入球磨的CuF2-SA混合物中,進(jìn)一步球磨得到CuF2-KB-SA納米顆粒(HBM-CuF2-KB-SA)。

H-CuF2-SA電極粉末的TEM圖像顯示,CuF2表面的Cu-SA層的厚度為~5 nm(圖2b,2c)。從HRTEM圖像中可以看出,Cu-SA層具有無定形結(jié)構(gòu)(圖2c,2d)。Cu、F和O的元素能譜圖顯示了Cu-SA和SA的均勻分布(圖2e)。為了進(jìn)行比較,作者還采用PVDF粘合劑和NMP溶劑制備了不含Cu-SA涂層的CuF2·2H2O-KB電極(表示為H-CuF2-PVDF電極)。

由于H-CuF2-PVDF中的PVDF粘合劑很難被觀察到,其形態(tài)與HBM-H-CuF2-KB納米顆粒幾乎相同(圖2f-g)。平面間距為0.245 nm的單個(gè)粒子中的平行晶格條紋與Cu(OH)F的(200)晶格平面有關(guān)(圖2h)。同時(shí),HRTEM圖像上的特征圓形晶格條紋是炭黑的特征條紋。

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圖3不同粘合劑對(duì)無水CuF2和羥基化CuF2極的電化學(xué)性能。(a)在0.05 C下,CuF2-PVDF、H-CuF2-PVDF和H-CuF2-SA極的長(zhǎng)循環(huán)性能;(b)在不同倍率,H-CuF2-SA的循環(huán)穩(wěn)定性;(c)H-CuF2-SA在0.05 C(1 C=519 mAh g-1)的充放電曲線;(d)0.2C下,H-CuF2-SA電極的充放電曲線;(e)CuF2-PVDF、H-CuF2-PVDF和H-CuF2-SA極的倍率性能;(f)與其他CuF2或銅基氟化物極的循環(huán)性能比較。@The Authors

圖3a顯示了H-CuF2-SA、H-CuF2-PVDF和CuF2-PVDF電極在0.05 C下的循環(huán)性能。僅經(jīng)過5個(gè)循環(huán)后,CuF2-PVDF的容量迅速下降到104.5 mAh g-1,低于其初始容量的20%。H-CuF2-PVDF比CuF2-PVDF具有更好的循環(huán)穩(wěn)定性,但在50次循環(huán)時(shí),其容量仍下降到148.6 mAh g-1。與之形成鮮明對(duì)比的是,H-CuF2-SA在0.05 C下進(jìn)行50個(gè)循環(huán)時(shí)保持了420.4 mAh g-1的可逆容量,這是以前從未報(bào)道過的。

作者還評(píng)估了三種電極在不同倍率下的長(zhǎng)循環(huán)穩(wěn)定性(圖3b)。H-CuF2-SA(圖3f)在0.05 C時(shí),可達(dá)到420.4 mAh g-1的容量,在1 C高倍率下50個(gè)循環(huán)后保持200.1 mAh g-1,是CuF2-PVDF或H-CuF2-PVDF的5-10倍。與CuF2-PVDF不同,在0.05 C下,H-CuF2-SA和H-CuF2-PVDF的第一次恒流放電曲線顯示出一個(gè)在2.0 V左右的長(zhǎng)平臺(tái),分別達(dá)到622.8和588.3 mAh g-1的高比容量(圖3c)。還原電位較低是由于Cu-OH的電負(fù)性低于Cu-F,降低了氟化銅轉(zhuǎn)化的活化能壘。在第二次及之后的放電中,H-CuF2-SA和H-CuF2-PVDF電極在3.1 V和2.1 V左右均具有較高的放電電位。

由于充電過程中電解質(zhì)中銅離子的溶解,H-CuF2-PVDF的放電容量迅速衰減。值得一提的是,由于氟化鋰形成的能量勢(shì)壘更大,在3.1 V時(shí)的容量在初始循環(huán)中衰減得更快。由于Cu-SA涂層抑制了Cu陽離子的溶解,H-CuF2-SA顯示出穩(wěn)定的容量(圖3c)。通過歸一化容量的充放電曲線進(jìn)一步證明了H-CuF2-SA的可逆轉(zhuǎn)換(圖3d)。經(jīng)過50個(gè)循環(huán)后,H-CuF2-SA在3.0 V和2.1 V左右的還原電位仍清晰可見。

此外,H-CuF2-SA的倍率性能也遠(yuǎn)高于H-CuF2-PVDF和CuF2-PVDF(圖3e)。圖3f比較了迄今為止報(bào)道的基于CuF2的轉(zhuǎn)換正極。所有報(bào)道的基于CuF2的轉(zhuǎn)換正極在前5個(gè)循環(huán)中迅速下降,無論在0.2 C高倍率下或在0.02 C極低的電流密度下。與之形成鮮明對(duì)比的是,H-CuF2-SA可以實(shí)現(xiàn)50個(gè)可逆循環(huán),并保持420.4 mAh g-1的容量,在所有基于CuF2的正極中表現(xiàn)出優(yōu)越的循環(huán)穩(wěn)定性。

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4(a)在不同充放電狀態(tài)下H-CuF2-SA極的XRD;(b)第一次放電后,H-CuF2-SA極的HRTEM圖像;(c)對(duì)應(yīng)的區(qū)域I和(d)區(qū)域II的FFT模式。@The Authors

作者通過XRD研究了H-CuF2-SA的相變和反應(yīng)可逆性(圖4a)。當(dāng)H-CuF2-SA完全放電到1.5 V時(shí),與Cu(OH)F的(001)平面相關(guān)的18.7°處的峰消失,在43.2°左右出現(xiàn)了一個(gè)明顯的與Cu的(111)平面對(duì)應(yīng)的寬峰。這表明了Cu(OH)F的完全轉(zhuǎn)化。作者通過HRTEM圖像和相應(yīng)的FFT模式,進(jìn)一步證明了LiF和LiOH的存在(圖4b-d)。由于Cu、LiF和LiOH納米顆粒的疊加分布,它們?cè)贖RTEM圖像中的晶格平面存在重疊,難以區(qū)分(圖4b)。對(duì)HRTEM圖像的兩個(gè)選定區(qū)域(圖4b中的紅框)進(jìn)行了快速傅里葉變換(FFT)分析,以闡明LiF和LiOH的存在。

區(qū)域I對(duì)應(yīng)的FFT模式顯示了三組衍射點(diǎn),表明了該區(qū)域的多晶分布(圖4c)。晶格平面距離為0.208 nm的最亮衍射點(diǎn)與高結(jié)晶Cu的(111)平面有關(guān),這與XRD的結(jié)果一致。晶格距離較低的暗點(diǎn)與LiF的(200)平面有關(guān)。由于(111)平面與Cu的平面距離最大,因此用Cu可以很容易地分辨出表現(xiàn)出較大平面距離的衍射點(diǎn)。因此,在區(qū)域I和區(qū)域II,位于較小圓上的衍射點(diǎn)可以根據(jù)其特征晶格距離分別對(duì)應(yīng)到LiF的(111)平面、LiOH的(101)和(001)平面(圖4c,d)。

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5a-c)H-CuF2-SA;(d-f)H-CuF2-PVDF和(g-i)CuF2-PVDF電極循環(huán)前后的Cu 2p2/3、F 1s和Li 1s的XPS光譜。每個(gè)光譜都從電極表面進(jìn)行測(cè)試。@The Authors

對(duì)原始和循環(huán)后的CuF2-PVDF、H-CuF2-PVDF和H-CuF2-SA電極進(jìn)行XPS分析,以揭示它們的可逆性(圖5)。對(duì)于兩個(gè)原始的H-CuF2-SA(圖5a)和H-CuF2-PVDF(圖5d)電極,Cu 2p3/2光譜可以很好地模擬為位于933.1 eV和935.2 eV處的兩個(gè)峰,這可以分別歸因于Cu+和Cu2+的氧化態(tài),表明了銅在Cu(OH)F中的多價(jià)性質(zhì)。而在原始CuF2-PVDF電極中,只觀察到一個(gè)與Cu2+-F相關(guān)的在935.7 eV的單峰(圖5g)。

當(dāng)電池第一次放電至1.5 V,所有三個(gè)電極的Cu 2p3/2光譜均移到932.6 eV,對(duì)應(yīng)于金屬Cu0,表明這些氟化物電極完全還原。在第一個(gè)充滿電狀態(tài)下,原始樣品在H-CuF2-SA電極中恢復(fù)了Cu2+和Cu+的價(jià)態(tài),具有良好的轉(zhuǎn)化反應(yīng)可逆性。而在H-CuF2-PVDF中,由于電極表面充電過程中銅的嚴(yán)重溶解,Cu2+信號(hào)幾乎消失,這與其充放電性能相一致。對(duì)于CuF2-PVDF電極,Cu0峰的存在表明,由于Cu顆粒的粗化,只有部分金屬銅被重新轉(zhuǎn)化為CuF2。純CuF2的不完全轉(zhuǎn)換主要是由于導(dǎo)電金屬銅與分離的LiF聚集體之間的電子傳輸中斷,導(dǎo)致CuF2-PVDF電極中存在大量的“死”活性物質(zhì)。

放電狀態(tài)下的Li1s光譜顯示了純CuF2和羥基化CuF2之間不同的轉(zhuǎn)化反應(yīng)路徑(圖5c,f,i)。在放電狀態(tài)下,H-CuF2-PVDF和H-CuF2-SA電極的F1s光譜中都可以檢測(cè)到Li-F和Li-OH,這有力地證明了在還原反應(yīng)中形成了LiF和LiOH的混合物,而不是純LiF。LiOH的存在有效地降低了轉(zhuǎn)化反應(yīng)的自由焓,從而保證了Cu(OH)F的反應(yīng)比純CuF2正極材料更徹底。

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650圈循環(huán)后,與(a-c)H-CuF2-SA(D-F)H-CuF2-PVDF配對(duì)的Li負(fù)極的SEM圖像,及相應(yīng)的Cu、O、C元素能譜圖。(g)H-CuF2-SAh)H-CuF2-PVDF配對(duì)的Li負(fù)極循環(huán)后的表面的EDS。@The Authors

由于銅離子在電解液中的溶解會(huì)沉積在鋰負(fù)極上,因此可以用掃描電鏡和EDS進(jìn)行分析。如圖6a-b所示,與H-CuF2-SA正極結(jié)合的循環(huán)后的Li負(fù)極,表面光滑,只有少量鹽殘留可見,圖6c所示的C和O元素圖像進(jìn)一步證明了這一點(diǎn)。在相應(yīng)的EDS光譜中沒有觀察到Cu信號(hào)的痕跡(圖6g),這表明H-CuF2-SA的鋰化/去鋰化過程中沒有發(fā)生明顯的銅溶解。

與之形成鮮明對(duì)比的是,與H-CuF2-PVDF正極結(jié)合的循環(huán)后的Li負(fù)極的SEM圖像顯示,表面極其粗糙,大量的Cu粒子被鍍?cè)贚i表面(圖6d-e)。Cu元素能譜圖中的亮藍(lán)色點(diǎn)和相應(yīng)EDS光譜中的強(qiáng)Cu峰進(jìn)一步顯示了Cu的顯著含量(圖6f,6h),表明H-CuF2-PVDF中銅溶解嚴(yán)重。

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7(a)SA粘結(jié)劑增強(qiáng)H-CuF2-SA電化學(xué)性能的工作機(jī)理示意圖;(b)H-CuF2-SA與其他金屬氟化物和插入極的容量、電壓和能量密度的對(duì)比,放電能量密度基于0.05 C的放電電流計(jì)算。@The Authors

對(duì)H-CuF2-SA的綜合表征和電化學(xué)分析表明,H-CuF2-SA的超循環(huán)穩(wěn)定性歸因于在電極制造過程中原位形成的獨(dú)特的Cu-SA涂層。圖7a示出了H-CuF2顆粒上Cu-SA涂層的形成和功能。在電極制備過程中,由于SA鏈與水溶液中銅離子之間的強(qiáng)交聯(lián)效應(yīng),在CuF2顆粒表面原位形成了堅(jiān)固的Cu-SA層。Cu-SA層對(duì)Li+有選擇性的滲透性,而對(duì)Cu2+具有不滲透性,有效地抑制了Cu離子的溶解和降解。此外,Cu-SA層和SA粘合劑在碳酸酯電解質(zhì)溶劑中的膨脹性都較低,降低了電極/電解質(zhì)的相互作用,防止了電解液進(jìn)入粘合劑/電極界面,從而進(jìn)一步降低了銅在電極中溶解的可能性。

雖然,水基SA粘合劑將水合雜質(zhì)引入到CuF2材料中,但H-CuF2-SA仍能提供2.4 V以上的平均放電電位。高容量與高放電電壓相結(jié)合,在50次循環(huán)后,電流密度為0.05 C時(shí),可逆放電能量密度為~1009.1 Wh kg-1(圖7b),高于大部分金屬氟化物。更重要的是,本研究中H-CuF2-SA的能量密度高于大多數(shù)鐵基氟化物和商用插入正極材料。

05 成果啟示

本文通過在CuF2納米顆粒表面原位形成Cu2+配位SA層,成功地抑制了CuF2正極中Cu離子的溶解。在0.05 C下50次循環(huán)后,獲得的H-CuF2-SA電極的可逆容量為420.4 mAh g-1,達(dá)到1009.1 Wh kg-1的高能量密度。其優(yōu)越的循環(huán)穩(wěn)定性和能量密度證明了銅基氟化物正極的最佳性能。



審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:王春生&楊崇英Adv. Mater.:高可逆氟化銅正極

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    氟化硫因其卓越的絕緣和滅弧性能,已成為高壓及特高壓氣體絕緣組合電器等關(guān)鍵設(shè)備的核心絕緣介質(zhì)。然而,其潛在泄漏及電弧作用下產(chǎn)生的有毒分解,對(duì)設(shè)備安全與人員保障構(gòu)成雙重挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)依賴
    的頭像 發(fā)表于 02-02 15:34 ?299次閱讀
    六<b class='flag-5'>氟化</b>硫氣體檢測(cè)儀如何提升電網(wǎng)設(shè)備狀態(tài)監(jiān)測(cè)水平

    2026年適用電力工程各環(huán)節(jié)的六氟化硫氣體檢測(cè)儀品牌推薦

    電力、半導(dǎo)體及精密制造行業(yè),六氟化硫因其優(yōu)異的絕緣與滅弧性能被廣泛應(yīng)用,但其強(qiáng)溫室效應(yīng)潛值使得對(duì)泄漏的高精度監(jiān)測(cè)成為安全生產(chǎn)與環(huán)保合規(guī)的核心環(huán)節(jié)。選擇一款可靠的六氟化硫檢測(cè)儀,直接關(guān)系到電網(wǎng)設(shè)備
    的頭像 發(fā)表于 01-21 17:14 ?1701次閱讀
    2026年適用電力工程各環(huán)節(jié)的六<b class='flag-5'>氟化</b>硫氣體檢測(cè)儀品牌推薦

    盤點(diǎn)六氟化硫氣體檢測(cè)儀電力全鏈條的布防要點(diǎn)

    電力系統(tǒng),六氟化硫因其卓越的絕緣和滅弧性能,已成為高壓開關(guān)設(shè)備不可或缺的介質(zhì)。然而,其一旦發(fā)生泄漏,不僅會(huì)危及電氣設(shè)備的安全穩(wěn)定運(yùn)行,還可能對(duì)人員健康和環(huán)境造成威脅。因此,構(gòu)建一套覆蓋電力“發(fā)
    的頭像 發(fā)表于 01-20 15:04 ?310次閱讀
    盤點(diǎn)六<b class='flag-5'>氟化</b>硫氣體檢測(cè)儀<b class='flag-5'>在</b>電力全鏈條的布防要點(diǎn)

    TDK SIOV-S10K***K11金屬氧化壓敏電阻:小尺寸大作用

    TDK SIOV-S10K***K11金屬氧化壓敏電阻:小尺寸大作用 電子設(shè)備的設(shè)計(jì),過壓保護(hù)是至關(guān)重要的一環(huán)。
    的頭像 發(fā)表于 12-26 14:40 ?464次閱讀

    半導(dǎo)體制程SF6氣體泄漏檢測(cè)

    半導(dǎo)體行業(yè)作為現(xiàn)代科技領(lǐng)域的關(guān)鍵支柱之一,為各種電子設(shè)備的發(fā)展提供了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。半導(dǎo)體制造的各個(gè)環(huán)節(jié),不同的氣體特定應(yīng)用中發(fā)揮著重要作用。其中,六
    的頭像 發(fā)表于 11-05 10:57 ?499次閱讀
    半導(dǎo)體制程<b class='flag-5'>中</b>SF6氣體泄漏檢測(cè)

    凱米斯科技創(chuàng)新破局,首發(fā)“便攜+顯微+快檢”三位一體新型污染檢測(cè)方案

    點(diǎn)擊藍(lán)字,關(guān)注我們CHEMINS環(huán)境污染日益復(fù)雜化的今天,抗生素、重金屬、農(nóng)藥殘留、全氟化合物和微塑料等新型污染已成為全球關(guān)注的焦點(diǎn)。這類污染
    的頭像 發(fā)表于 09-28 09:36 ?914次閱讀
    凱米斯科技創(chuàng)新破局,首發(fā)“便攜+顯微+快檢”三位一體新型污染<b class='flag-5'>物</b>檢測(cè)方案

    什么是IMC(金屬間化合

    什么是金屬間化合(IMC)金屬間化合(IMC)是兩種及以上金屬原子經(jīng)擴(kuò)散反應(yīng)形成的特定化學(xué)計(jì)量比化合
    的頭像 發(fā)表于 09-11 14:42 ?3652次閱讀
    什么是IMC(<b class='flag-5'>金屬</b>間化合<b class='flag-5'>物</b>)

    氟化硫(SF?)氣體傳感器—電力安全環(huán)保的“隱形衛(wèi)士”

    氟化硫(SF?)是一種無機(jī)化合,常溫常壓下為無色無臭無毒不燃的穩(wěn)定氣體,具有優(yōu)良的滅弧和絕緣性能以及良好的化學(xué)穩(wěn)定性,且運(yùn)行不受外界氣象和環(huán)境條件影響,因此被廣泛用于超高壓和特高壓電力系統(tǒng)
    的頭像 發(fā)表于 08-06 17:06 ?1610次閱讀
    六<b class='flag-5'>氟化</b>硫(SF?)氣體傳感器—電力安全環(huán)保的“隱形衛(wèi)士”

    金屬低蝕刻率光刻膠剝離液組合應(yīng)用及白光干涉儀光刻圖形的測(cè)量

    的應(yīng)用,并探討白光干涉儀光刻圖形測(cè)量作用。 金屬低蝕刻率光刻膠剝離液組合 配方組成
    的頭像 發(fā)表于 06-24 10:58 ?970次閱讀
    <b class='flag-5'>金屬</b>低蝕刻率光刻膠剝離液組合<b class='flag-5'>物</b>應(yīng)用及白光干涉儀<b class='flag-5'>在</b>光刻圖形的測(cè)量
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