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DigiPCBA常見(jiàn)問(wèn)題之關(guān)于可靠性

DigiPCBA得極 ? 來(lái)源:DigiPCBA得極 ? 作者:DigiPCBA得極 ? 2022-11-11 09:15 ? 次閱讀
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FAQ列表

1.是否有可能從DigiPCBA云端輸出元器件庫(kù)用于離線訪問(wèn)或備份?

2.是否能創(chuàng)建一個(gè)離線的備份?

3.我已經(jīng)使用版本控制(git,svn等)將我的數(shù)據(jù)保存在云端,為什么我需要DigiPCBA上的Workspace,而放棄我當(dāng)前的部署?

4.我可以維護(hù)我的元器件數(shù)據(jù)在本地的副本嗎?

1.是否有可能從DigiPCBA云端輸出元器件庫(kù)用于離線訪問(wèn)或備份?

是的,你可以將它們導(dǎo)出作為備份。元器件數(shù)據(jù)會(huì)自動(dòng)緩存于本地用于在Altium Designer中離線使用,你不需要擔(dān)心關(guān)于離線訪問(wèn)。

2.是否能創(chuàng)建一個(gè)離線的備份?

目前還不具備這個(gè)功能,您的數(shù)據(jù)會(huì)每24h自動(dòng)備份。

3.我已經(jīng)使用版本控制(git,svn等)將我的數(shù)據(jù)保存在云端,為什么我需要DigiPCBA上的Workspace,而放棄我當(dāng)前的部署?

你可以繼續(xù)像以前一樣使用基于本地或云端的VCS版本控制系統(tǒng),只需要注冊(cè)您的設(shè)計(jì)(使設(shè)計(jì)項(xiàng)目在您的Workspace中在線可用available)。這將解除大部分基于Workspace的項(xiàng)目管理功能:

Where used 使用記錄追蹤

Web Design Viewer 瀏覽器設(shè)計(jì)查看

MCAD CoDesigner 機(jī)電協(xié)同設(shè)計(jì)

Commenting/Redlining 評(píng)論/紅線

Etc 等。。。

4.我可以維護(hù)我的元器件數(shù)據(jù)在本地的副本嗎?

可以,但不推薦,這是一個(gè)時(shí)間的過(guò)程。大部分元器件數(shù)據(jù)緩存在訪問(wèn)了Workspace的每臺(tái)機(jī)器上(除了本質(zhì)上是動(dòng)態(tài)的數(shù)據(jù)——價(jià)格、狀態(tài)等)。如果您決定退出DigiPCBA,您將有一個(gè)寬限期來(lái)將數(shù)據(jù)從Workspace中轉(zhuǎn)移。

審核編輯 :李倩

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原文標(biāo)題:FAQ系列 | DigiPCBA常見(jiàn)問(wèn)題之關(guān)于可靠性

文章出處:【微信號(hào):gh_eca3aaae664e,微信公眾號(hào):DigiPCBA得極】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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    的頭像 發(fā)表于 08-01 22:55 ?1237次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計(jì)的十個(gè)重點(diǎn)

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    的頭像 發(fā)表于 06-18 14:48 ?1364次閱讀
    <b class='flag-5'>關(guān)于</b>LED燈具的9種<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試方案

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    的頭像 發(fā)表于 06-03 10:52 ?1643次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試包括哪些測(cè)試和設(shè)備?

    半導(dǎo)體測(cè)試可靠性測(cè)試設(shè)備

    在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測(cè)試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門(mén)員”,通過(guò)模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對(duì)半導(dǎo)體器件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評(píng)估,確保其在實(shí)際使用中能穩(wěn)定運(yùn)行。以下為你詳細(xì)介紹常見(jiàn)的半導(dǎo)體測(cè)試可靠性
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?1540次閱讀
    半導(dǎo)體測(cè)試<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試設(shè)備

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升,可靠性要求與測(cè)試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過(guò)直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力,實(shí)現(xiàn)快速
    發(fā)表于 05-07 20:34
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