提到“老化”我們第一時(shí)間可能會(huì)想到生銹的鋼材，腐朽的樹木，那么你知道嗎我們?nèi)粘Ｉ钍褂玫碾娮赢a(chǎn)品中的電子元器件也會(huì)老化，這些電子元器件一部分是因?yàn)楣に囍圃爝^程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引線焊接不良、溝道漏電、硅片裂紋等問題而老化，另一部分則是在我們長使用時(shí)間內(nèi)對元器件連續(xù)的使用過程中電熱應(yīng)力加速元器件了內(nèi)部的各種物理、化學(xué)反應(yīng)過程從而造成電子元器件老化損壞。

無論是哪一種情況，電子元器件的老化問題存在于我們生活中的方方面面，因此針對電子元器件的老化問題，它的出廠測試必不可少。

在對電子元器件的老化測試時(shí)我們可以通過電子元器件自動(dòng)測試系統(tǒng)在加速元器件的壽命退化后，對代表其性能退化的電參量進(jìn)行測試，從而獲取測試數(shù)據(jù)，保證獲取數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)性和可靠性，同時(shí)也可以對元器件老化后的功能和交參數(shù)進(jìn)行測試，比如對二極管極性的自動(dòng)識別極性、最大整流電流、正向壓降項(xiàng)目測試等。

通過這些項(xiàng)目的測試我們一方面可以促使隱藏于元器件內(nèi)部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達(dá)到剔除早期失效產(chǎn)品的目的，另一方面可以評定電子元器件是否適合在特點(diǎn)環(huán)境下長期使用，同時(shí)可以判斷出電子元器件的使用壽命和整體性能。

審核編輯黃昊宇