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季豐電子功率器件動態(tài)老化測試能力介紹

上海季豐電子 ? 來源:上海季豐電子 ? 2025-11-19 11:19 ? 次閱讀
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DGS & DRB

DGS & DRB是功率器件可靠性測試中的關鍵內(nèi)容。DGS評估器件檢測碳化硅功率MOSFET 的柵極開關不穩(wěn)定性,DRB評估器件芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)因高dv/dt 導致的快速充電老化現(xiàn)象。因此,季豐電子引入業(yè)內(nèi)先進設備為廣大客戶提供檢測服務,為產(chǎn)品質(zhì)量把關,創(chuàng)造共贏。

AQG324內(nèi)QL-9 & QL-10 的測試參數(shù)需求

a1688d50-c39e-11f0-8c8f-92fbcf53809c.png (圖1) ? a1c015b6-c39e-11f0-8c8f-92fbcf53809c.png (圖2) ? a2179c0a-c39e-11f0-8c8f-92fbcf53809c.png (圖3) ? a272ca1c-c39e-11f0-8c8f-92fbcf53809c.png

(圖4)

季豐測試設備能力

動態(tài)可靠性測試系統(tǒng),系統(tǒng)可設置頻率、占空比、電壓、溫度等器件可靠性影響因子,在設定的影響因子作用下,實時監(jiān)測每個被測器件的可靠性特征參數(shù)。

a2c9ba5c-c39e-11f0-8c8f-92fbcf53809c.jpg

工位曲線及監(jiān)控參數(shù)

a325aa06-c39e-11f0-8c8f-92fbcf53809c.png ? a37a77a2-c39e-11f0-8c8f-92fbcf53809c.png

DGS

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a442aea2-c39e-11f0-8c8f-92fbcf53809c.png

DRB

設備照片

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(注:文中圖1/2/3/4均來源于《ECPE Guideline AQG 324》,如有侵權(quán),請聯(lián)系刪除。)

季豐電子

季豐電子成立于2008年,是一家聚焦半導體領域,深耕集成電路檢測相關的軟硬件研發(fā)及技術服務的賦能型平臺科技公司。公司業(yè)務分為四大板塊,分別為基礎實驗室、軟硬件開發(fā)、測試封裝和儀器設備,可為芯片設計、晶圓制造、封裝測試、材料裝備等半導體產(chǎn)業(yè)鏈和新能源領域公司提供一站式的檢測分析解決方案。

季豐電子通過國家級專精特新“小巨人”、國家高新技術企業(yè)、上海市“科技小巨人”、上海市企業(yè)技術中心、研發(fā)機構(gòu)、公共服務平臺等企業(yè)資質(zhì)認定,通過了ISO9001、 ISO/IEC17025、CMA、CNAS、IATF16949、ISO/IEC27001、ISO14001、ISO45001、ANSI/ESD S20.20等認證。公司員工超1000人,總部位于上海,在浙江、北京、深圳、成都等地設有子公司。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標題:季豐功率器件動態(tài)老化測試能力介紹

文章出處:【微信號:zzz9970814,微信公眾號:上海季豐電子】歡迎添加關注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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