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集成電路可靠性預(yù)測

星星科技指導(dǎo)員 ? 來源:ADI ? 作者: Tom-M ? 2023-02-07 11:29 ? 次閱讀
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具有良好的可靠性是功能安全的 3 大支柱之一,因此可靠性預(yù)測非常重要,如果沒有其他方法可以允許在不同架構(gòu)之間進行比較,但 IEC 61508 確實對每小時危險故障概率有強制性值,為了滿足這一點,您需要可靠性預(yù)測。但是,在有人發(fā)表評論之前,可以使用冗余和診斷來使用不可靠的組件設(shè)計一個安全的系統(tǒng),我在最近的博客中談到了這一點。也可以使用可靠的組件設(shè)計不安全的系統(tǒng),但我跑題了。然而,正如我所說,可靠性以及HFT(硬件容錯),SFF(安全故障分數(shù))以及采取措施防止引入設(shè)計錯誤是功能安全的支柱。

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圖1 ADI公司可靠性手冊中的浴盆曲線

許多物品的可靠性遵循通常稱為浴缸曲線的形狀,如上所示。首次通電時,故障率可能很高,一旦超過物品的使用壽命,故障率再次很高,但在其壽命中期,可靠性達到穩(wěn)定的故障率,這是通常用于可靠性預(yù)測的數(shù)字。開始時的延長期可能為48小時或更短,ADI公司會進行ELF(早期故障)測試,以測量此故障率并調(diào)試其制造工藝以消除此類故障。半導(dǎo)體的磨損階段通常為20年或更長時間,但取決于任務(wù)概況(在不同溫度下花費的時間)。還進行了測試以確保此使用壽命,HTOL – 高溫工作壽命,以及使用DRC(設(shè)計規(guī)則檢查器)和其他工具。

對此數(shù)據(jù)的批評是,它只包括隨機硬件故障,不包括由于系統(tǒng)原因引起的故障。這種批評是有道理的,因為如果ADI在HTOL測試期間發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)故障,則會修復(fù)故障,并消除故障源。因此,基于HTOL的數(shù)據(jù)不包括由于客戶誤用設(shè)備而導(dǎo)致的故障,由于誤讀或數(shù)據(jù)表不準確的故障,由于未正確保護設(shè)備免受電氣過應(yīng)力而導(dǎo)致的故障等。但是,我對此很好,因為我認為我們應(yīng)該只使用包含隨機硬件故障率的數(shù)據(jù),因為在IEC 61508等功能安全標準中,隨機和系統(tǒng)故障的處理方式不同。

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可靠性數(shù)據(jù)以FIT(時間故障)引用,F(xiàn)IT(在1億年的運行時間內(nèi)預(yù)期的故障次數(shù))。當(dāng)某些東西具有非常高的可靠性時,可以使用該單位,因為它提供易于解釋的數(shù)字,例如 10 FIT 或 100 FIT,而不是 1e-8/h 和 1e-7/h。如果某物的 FIT 為 1,這并不是說該設(shè)備的壽命為 1 億年,而是如果您有 1 萬臺設(shè)備運行 1000 小時,如果 FIT 為 1,則可以預(yù)期由于隨機硬件故障問題而導(dǎo)致的一次故障。

FIT實際上是在60%的置信水平和90%的置信水平下給出的。功能安全標準通常尋找70%或其他置信水平的數(shù)字,我之前寫過一篇關(guān)于如何從一個置信度轉(zhuǎn)換到另一個置信度的博客,見這里。該工具僅允許您輸入平均工作溫度,雖然這對于工業(yè)應(yīng)用通常是可以接受的,但我們的汽車同事使用更令人印象深刻的任務(wù)配置文件來反映更高溫度下的更高故障率。在這些情況下,可以將上述預(yù)測輸入Excel電子表格,并使用Arrhenius方程求解任意任務(wù)配置文件的可靠性數(shù)字。

如果產(chǎn)品是多芯片解決方案,例如我們的數(shù)字隔離器中經(jīng)常使用的解決方案(光耦合器替代品),則將對封裝中的每個芯片進行預(yù)測。

表中的數(shù)據(jù)基于HTOL(高溫工作壽命)測試,該測試是在燃燒爐中進行的一種形式或加速測試。此外,它不僅包括其自身的數(shù)據(jù),而且通常還包括ADI在該工藝節(jié)點上提交給HTOL測試的每個部件的數(shù)據(jù)。還給出了這些部件和測試溫度(通常為125'c或150'c以獲得加速度系數(shù))的列表。使用這種替代數(shù)據(jù)是被廣泛接受的。如果您使用的是ADI的新工藝節(jié)點,則不會有很多先前完成的定性來收集數(shù)據(jù),也無法在60%置信水平下獲得可靠性預(yù)測,而報價的FIT可能非常高。隨著越來越多的零件在工藝節(jié)點上完成HTOL測試,置信度會增強,當(dāng)然,如果沒有發(fā)現(xiàn)故障,報價的FIT將會下降。

如果您不想使用ADI數(shù)據(jù),那么可靠性預(yù)測的常見來源是使用IEC 62380。下面顯示了使用 IEC 62380 預(yù)測芯片可靠性的公式,對于我們的客戶來說,使用該公式可能很困難,因為您可能不知道晶體管數(shù)量等信息。

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圖 3 - 根據(jù) IEC 62380 進行可靠性預(yù)測的公式

該等式并不像看起來那么糟糕,可以封裝到電子表格中,其中包含下面所示的電子表格中的樣本。

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圖 4 - 根據(jù) IEC 62380 進行可靠性預(yù)測的快照

IEC 62380允許輸入更精細的任務(wù)配置文件。在上面的示例中,總壽命為 7920 小時(汽車典型壽命不到 1 年),包括在 -480'C 下為 20 小時,在 1600'C 下為 23 小時,在 5200'C 下為 60 小時。IEC 62380要求單獨計算封裝可靠性。

是呢環(huán)保局:郭婷

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