隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術(shù)的發(fā)展，早已經(jīng)淘汰了LRC電橋這種測(cè)量方法，但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數(shù)字電橋。一般用戶(hù)又稱(chēng)這些為：LCR測(cè)試儀、LCR電橋、LCR表、數(shù)字電橋、LCR Meter等等。

電橋測(cè)試儀測(cè)量原理

Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當(dāng)DUT(Device Under Test)接入電路時(shí)，放大器的負(fù)反饋配置自動(dòng)使得OP輸入端虛地。Vx準(zhǔn)確測(cè)定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0)，Vr與Rr測(cè)得DUT電流Ix，由此可計(jì)算Zx。

HP4275的測(cè)試端Hp，Hc，Lp，Lc(下標(biāo)c代表current， 下標(biāo)p代表Potentail)，Guard(接地)的配置可導(dǎo)致測(cè)試的誤差的差異。

提高精度的方法是：

1、Hp，Lp，Hc，Lc盡量接近DUT;

2、減小測(cè)試電流Ix的回路面積&磁通量(關(guān)鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable小化回路面積);

3、使用Gurard與Cable構(gòu)建地平面中斷信號(hào)線(xiàn)間的電場(chǎng)連接，雖然會(huì)增加信號(hào)線(xiàn)的對(duì)地電容(對(duì)地電容不影響測(cè)試結(jié)果)，但是會(huì)減少信號(hào)線(xiàn)的互容。

Guard與Cable的對(duì)地寄生阻抗(Zhg，Zlg) 不影響測(cè)試結(jié)果，電橋平衡時(shí)Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會(huì)被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測(cè)量。

LCR測(cè)試儀一般用于測(cè)試電感和電容。測(cè)量步驟如下：

設(shè)置測(cè)試頻率

測(cè)試電壓或者電流水平

選擇測(cè)試參數(shù)，比如Z、Q、LS(串聯(lián)電感)、LP(并聯(lián)電感)、CS(串聯(lián)電容)、CP(并聯(lián)電容)、D等

儀器校準(zhǔn)，校準(zhǔn)主要進(jìn)行開(kāi)路、短路校準(zhǔn)，的儀器要進(jìn)行負(fù)載校準(zhǔn)

選擇測(cè)試夾具

夾具補(bǔ)償

將DUT放在夾具上開(kāi)始測(cè)試。

審核編輯黃宇