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【可靠性試驗分享專欄】關(guān)于可靠性,應(yīng)該了解的那些知識

新陽檢測中心 ? 來源:新陽檢測中心 ? 作者:新陽檢測中心 ? 2023-03-27 15:09 ? 次閱讀
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1.定義與概念

可靠性試驗是為了保證產(chǎn)品在規(guī)定的時間內(nèi),在規(guī)定的條件下,包括運輸、儲存、使用,完成規(guī)定功能的能力而進行的活動。

環(huán)境試驗是將產(chǎn)品暴露在自然或者人工的環(huán)境條件下,模擬產(chǎn)品在實際壞境條件下的性能,并進行評估分析該產(chǎn)品在此環(huán)境作用下,所受到的影響程度及可能發(fā)生失效的機理。

2.作用發(fā)生階段

可靠性試驗在以下各階段發(fā)揮的重要作用。

2.1 研發(fā)階段

對試樣進行環(huán)境分析,找出產(chǎn)品的原材料、結(jié)構(gòu)、工藝、安全性、環(huán)境適應(yīng)性等各方面存在的潛在故障。經(jīng)過反復測試預(yù)先發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的前期故障,提高產(chǎn)品的可靠性指標。

2.2 產(chǎn)品定型階段

根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)條件進行型式試驗和鑒定試驗,全面考核產(chǎn)品是否達到客戶的要求和可靠性指標。

2.3 量產(chǎn)階段

監(jiān)控產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中的穩(wěn)定程度,通過驗收試驗和其他環(huán)境試驗,評估產(chǎn)品的工藝性能和工藝流程。

3.試驗?zāi)康目偨Y(jié)

3.1 通過試驗,發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在失效模式;

3.2 探求失效機理;

3.3 優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計,監(jiān)控產(chǎn)品工藝流程;

3.4 監(jiān)控工藝流程的更替對產(chǎn)品品質(zhì)的改變;

3.5 評估產(chǎn)品的使用壽命。

4.檢測服務(wù)范圍

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新陽檢測中心依托自身的專業(yè)能力,在可靠性測試領(lǐng)域沉淀出以“氣候環(huán)境試驗”“機械環(huán)境試驗”“包裝運輸試驗”以及“材料試驗”四個方面為主的環(huán)境可靠性試驗體系,囊括了“高低溫”“老化”“鹽霧”“振動”“跌落”等多項可靠性試驗。并且,提供可靠性試驗咨詢與方案設(shè)計。

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5.檢測標準及項目

5.1

GB/T 2423.1-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗A 低溫

5.2

GB/T 2423.22-2012

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化

5.3

GB/T 2423.34-2012

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗

5.4

GB/T 2423.102-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 試驗:溫度(低溫/高溫)低氣壓/振動(正弦)綜合

5.5

GB/T 2423.8-1995

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落

5.6

GB/T 2423.17-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧

5.7

GB/TT 2423.51-2000

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Ke :流動混合氣體腐蝕試驗

5.8

GB/T 16422.3-2014

塑料 實驗室光源暴露試驗方法 第3部份:熒光紫外燈

5.9

GB/T 28046.4 : 2011

道路車輛電工電子設(shè)備環(huán)境條件 氣候負載

5.10

GB/T 28046.3 : 2011

道路車輛電工電子設(shè)備環(huán)境條件 機械負載

pYYBAGQhQTqAKHzGAAAGWt94gig834.jpg

新陽檢測中心有話說:

本篇文章介紹了可靠性相關(guān)知識,接下來將帶來“可靠性知識百問百答系列”,敬請關(guān)注!如需轉(zhuǎn)載本篇文章,后臺私信獲取授權(quán)即可。若未經(jīng)授權(quán)轉(zhuǎn)載,我們將依法維護法定權(quán)利。原創(chuàng)不易,感謝支持!

新陽檢測中心將繼續(xù)分享關(guān)于PCB/PCBA、汽車電子及相關(guān)電子元器件失效分析、可靠性評價、真?zhèn)舞b別等方面的專業(yè)知識,點擊關(guān)注獲取更多知識分享與資訊信息。

審核編輯黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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