具備低功耗和小體積等優(yōu)勢的LPDDR

隨著可移動設(shè)備的發(fā)展

逐漸進入大家的視線

技術(shù)迭代更新越來越快

對LPDDR的質(zhì)量與可靠性要求進一步提高

其測試變量也變得越來越多

比如

漏電流測試、協(xié)議測試、

開短路測試、時序測試、高溫測試等

Q

@“有人”

測試不能給LPDDR增加功能，也不能提升性能，對產(chǎn)品本身，不體現(xiàn)價值......

A

@江小編

確實，測試不能改變芯片制造的質(zhì)量，只能在現(xiàn)有質(zhì)量條件下進行度量。但是，制造缺陷或者瑕疵會對LPDDR的正常工作帶來一定影響。

就拿漏電流測試來說，如果LPDDR存在漏電流異常，應(yīng)用到手機、筆記本電腦等終端設(shè)備時，輕則會增加LPDDR的功耗，降低續(xù)航力，重則可能會發(fā)生故障或燒毀等問題。

并且測試本身就是設(shè)計的一環(huán)，對于像江波龍這樣擁有芯片設(shè)計能力的企業(yè)來說，測試的重要性不亞于電路設(shè)計本身。

為了幫助內(nèi)存設(shè)計師和工程師應(yīng)對調(diào)試和驗證內(nèi)設(shè)計時不斷面臨新的挑戰(zhàn)，江波龍在進行LPDDR3/4/4X的信號測試時，通過Turbocats測試機臺，進行IDD/Leakage、O/S、Pattern存儲、算法、Schmoo/Timing、高溫85℃等測試，并支持1333~3200Mbps速率和178/200/221/254 Ball數(shù)的產(chǎn)品測試。

存儲芯片技術(shù)工程實驗室（創(chuàng)新實驗室）集研發(fā)設(shè)計、失效分析、工程驗證和聯(lián)合開發(fā)于一體，是江波龍電子重要的質(zhì)量保證技術(shù)服務(wù)平臺。實驗室配備先進的研發(fā)試驗設(shè)施和高素質(zhì)的研發(fā)團隊，研發(fā)場所面積為846.72㎡，2021年5月底建成并正式投入使用。