FA簡(jiǎn)稱光纖陣列，是把光纖按照一定的間距排列固定起來形成的光器件，它是光進(jìn)出光器件的通道。光纖陣列分為單芯光纖陣列（SFA，盡管只有一根光纖，還是被稱為陣列）和多芯光纖陣列（MFA），光纖陣列有常規(guī)FA、45°光纖懸出FA、光纖轉(zhuǎn)90°FA。

45°FA利用端面全反射使光路90°轉(zhuǎn)角與VCSEL或者PD耦合，這種方法耦合效率高，但苦于45°端面研磨工藝有較大難度，工藝制造成本高，生產(chǎn)良率不高。

光纖轉(zhuǎn)90°FA通常與硅光芯片中的光柵進(jìn)行耦合，不過直接對(duì)準(zhǔn)耦合，會(huì)存在一定的角度失配，盡管國(guó)內(nèi)廠商經(jīng)過這幾年的努力與克服，已有不少廠家能夠批量制造提高良率，但FA耦合面檢測(cè)一直是通信行業(yè)所關(guān)注的熱點(diǎn)話題。

OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀

FA耦合一般都是在一些很小的尺寸里面，例如光器件、光模塊、硅光芯片等等，這些器件級(jí)的檢測(cè)對(duì)設(shè)備要求非常高。OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀，專門針對(duì)這種微小尺寸的檢測(cè)，空間分辨率高達(dá)10微米，能實(shí)現(xiàn)芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)可視化。

OLI測(cè)量FA耦合面

多芯FA耦合面測(cè)量，測(cè)試結(jié)果顯示該耦合位置回?fù)p為-62dB，耦合情況良好。

昊衡科技推出的OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀，能精準(zhǔn)定位器件內(nèi)部斷點(diǎn)、微損傷點(diǎn)、耦合面以及鏈路連接點(diǎn)，以亞毫米級(jí)別分辨率探測(cè)光學(xué)原件內(nèi)部，廣泛用于光器件、光模塊損傷檢測(cè)以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。