inTEST 熱流儀電源管理芯片高低溫沖擊測試
電源管理芯片由于多是在狹小空間內工作, 散熱的條件不好, 大多是在高溫的環(huán)境中長時間工作, 電源芯片經(jīng)常經(jīng)歷快速升溫的情況, 甚至經(jīng)歷在電壓不穩(wěn)時快速變溫的情況, 所以電源芯片在出廠時需要經(jīng)過測試芯片在快速變溫過程中的穩(wěn)定性, 這點十分重要. 上海伯東美國 inTEST ThermoStream 高低溫沖擊測試機提供 -100°C 至 +225°C 快速溫度沖擊范圍, 滿足各類電源管理芯片的高低溫沖擊測試.

在電源管理芯片可靠性測試方面, 上海伯東美國 inTEST ThermoStream ATS 系列熱流儀有著不同于傳統(tǒng)高低溫箱的獨特優(yōu)勢:
變溫速率快, 每秒快速升溫 / 降溫18°C
通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證
實時監(jiān)測待測元件真實溫度, 可隨時調整沖擊氣流溫度
針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
滿足研發(fā)和大規(guī)模量產要求
可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等各類測試儀聯(lián)用.

電源管理芯片高低溫沖擊測試案例: 應用于電子消費品行業(yè)的電源芯片, 下圖為實際的被測電源芯片, 焊在 PCB 板上. 需要在通電的情況下進行溫度測試.
測試溫度范圍﹣60℃ - 150℃, 進行 12組不同形式的循環(huán)溫度設定.
使用型號:inTEST ATS-545

電源管理芯片高低溫沖擊測試案例:應用于汽車電子行業(yè)的電源管理芯片, 在電測試時, 同時搭配測試儀, 設定不同的溫度數(shù)值, 檢查不同溫度下電源芯片各項功能是否正常. 通過使用上海伯東美國 inTEST 熱流儀, 大幅提高工作效率, 并能及時評估研發(fā)過程中的潛在問題.
測試溫度范圍:-40℃- 80℃
使用型號:inTEST ATS-710E

電源管理芯片高低溫沖擊測試案例:應用于電力系統(tǒng)的電源管理芯片, 因客戶研發(fā)場地受限, 無法使用空壓機, 最終選用 ATS-535 全球唯一內部集成空壓機的高低溫沖擊機進行測試.
測試溫度范圍:-60℃-150℃
使用型號:inTEST ATS-535

電源管理芯片 Power Management Integrated Circuits 是在電子設備系統(tǒng)中擔負起對電能的變換, 分配, 檢測及其他電能管理職責的芯片. 在電源的設計中, 需要用到各種形式的管理芯片, 在電測試下, 隨著電源溫度的變化, 需要保證芯片的正常運轉, 一般芯片的溫度越高, 可靠度越低, 失效率就會變高. 因此在芯片的設計之初就要考慮溫度問題.

70年代成立至今, 美國 inTEST Thermal Solutions 超過 50 年的研發(fā)生產經(jīng)驗, 經(jīng)過多年市場實踐的高可靠性和穩(wěn)定性, 滿足各類電子芯片的測試要求. inTEST 已收購 Thermonics 和 Temptronic. 上海伯東是美國 inTEST 中國總代理.

鑒于客戶信息保密, 若您需要進一步的了解 inTEST 高低溫沖擊測試機詳細信息或討論, 請聯(lián)絡上海伯東葉女士