TEM小室法應用在集成電路制造的電磁兼容測試
集成電路（IC）的電磁兼容性，是衡量IC器件在預定電磁環(huán)境下工作時是否會對其他器件的工作產(chǎn)生騷擾，同時自身性能是否會受到其他器件所騷擾的一個重要指標。
對于集成電路來說，這個指標的提出是電子產(chǎn)品電磁環(huán)境高可靠設計的需求，同時也是芯片集成度日益增高時電磁環(huán)境可靠性問題越來越突出以致直接關系到芯片性能的結果。
集成電路的電磁兼容性測試在國內(nèi)屬于一個相對較新的領域，在IEC61967提到了用TEM小室法對集成電路的電磁發(fā)射情況進行測試。
在IEC62132則提到了用TEM小室法用于測量電磁輻射抗擾度的測試。
TEM小室法是非常適用于集成電路制造商評估芯片管芯的設計以及封裝對電磁輻射發(fā)射的影響。
HTM-80HA將工作頻率范圍允許對集成電路進行8GHz的發(fā)射和抗擾度測試。IC安裝在一個測試夾具上，該夾具用螺栓固定到位。
用戶只要制作好專門的測試板，一旦安裝，可根據(jù)IEC 61967-2和-8、SAE 1752-3和IEC 62132-8在8GHz下進行測量，并且實現(xiàn)可重復性的測試，極大的節(jié)省了測試成本。
我司最新推出的TEM小室可以用來測量來自被測件EUT或集成電路PCB的輻射敏感度和傳導抗擾度的試驗，其頻率可以達到8GHz。其駐波比可以到達1.25，傳輸衰減比小于0.3dB。
深圳市華瑞高電子技術有限公司，是一家專業(yè)致力于為客戶提供優(yōu)質且性價比高的電磁兼容抗擾度校準裝置，屏蔽效能測試系統(tǒng)和電磁兼容測試的研發(fā)生產(chǎn)性企業(yè)。
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