自動化測試設備

應用

由計算機控制的測試系統(tǒng)通過提高效率和質(zhì)量來幫助提高制造生產(chǎn)力。自動測試設備（ATE）起著至關重要的作用，因為它能夠以更快的速度和更可控的方式進行更有力的測試。ATE可以實現(xiàn)以非常高的速率連續(xù)進行的單個測量，也可以實現(xiàn)由許多不同的儀器進行的多次測量。在被測設備（DUT）或被測單元（UUT）上進行的測量通常由某種形式的計算機以自動方式計算，存儲和分析。該過程有助于消除人為錯誤，并允許以可重復的方式執(zhí)行故障診斷，即使涉及復雜的測量。

虹科

方案

虹科Spectrum提供極其廣泛的數(shù)字化儀和任意波形發(fā)生器，適用于需要捕獲，生成和分析電子信號的ATE應用。這些產(chǎn)品適用于各種流行的標準，包括PCI、PCIe、PXI、LXI和cPCI。數(shù)字化儀提供 50 kHz 至 1.5 GHz 的帶寬、100 KS/s 至 5 GS/s 的采樣率以及 8 位至 16 位的分辨率。由于能夠捕獲和分析從DC到1.5 GHz的信號，數(shù)字化儀可用于測試各種DUT和UUT。例如，當需要大動態(tài)范圍和最大靈敏度時，高分辨率14位和16位數(shù)字化儀可用于捕獲和分析頻率高達250 MHz的信號。這些高分辨率產(chǎn)品具有出色的信噪比（高達72 dB）和無雜散動態(tài)范圍（高達90 dB），因此可以檢測和分析微小的信號變化。它們是測試精密組件、傳感器和系統(tǒng)的完美工具，這些組件、傳感器和系統(tǒng)產(chǎn)生的信號需要嚴格控制。對于更高頻率的測量，例如PCB板和半導體器件上的測量，虹科Spectrum的具有5 GS/s的板卡可以表征低至納秒和亞納秒范圍的信號和脈沖。

為了便于集成到ATE系統(tǒng)中，虹科Spectrum提供了與32位和64位版本的Windows和Linux配合使用的軟件和儀器驅(qū)動程序。這些板卡的編程可以使用各種語言進行，如 LabVIEW、 LabWindows/CVI、 C++、 MatLab、 Borland Delphi、 Visual Basic、 VB.NET、 C#、 J# 和 IVI。

每個數(shù)字化儀卡可以有一到十六個通道，多個卡可以與虹科Spectrum的StarHub系統(tǒng)連接在一起，以創(chuàng)建具有多達數(shù)百個完全同步通道的儀器。這使得它們非常適合需要監(jiān)控多個信號或測試點的應用。一些卡還提供額外的模擬和數(shù)字I /O功能以及高級觸發(fā)和時鐘選項，以便它們可以與許多不同的測試儀器一起工作。

虹科推薦

板卡系列

59XX系列

65XX系列

75XX系列

虹科

產(chǎn)品特點

l PCIe、PXIe 和 LXI 外形規(guī)格

l分辨率從 8 位到 16 位

l 具有模擬和數(shù)字通道采集和生成的混合模式系統(tǒng)

l 采樣率從 100 kS/s 到 10 GS/s

l 用于具有完全同步功能的高通道數(shù)系統(tǒng)的 Star-Hub功能

l LabVIEW、 LabWindows、 MATLAB、 C++、 Delphi、 Visual Basic、 VB.NET、 c#、 J#、 Python 和 IVI 驅(qū)動程序