WAT技術(shù)詳解
審核編輯：湯梓紅
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雖然 WAT測試類型非常多，不過業(yè)界對于 WAT測試類型都有一個明確的要求，就是包括該工藝技術(shù)平臺所有的有源器件和無源器件的典型尺寸。芯片代工廠會依據(jù)這些典型尺寸的特點，制定一套 WAT
一文看懂晶圓測試(WAT)
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Wafer Acceptance Test (WAT) 是晶圓制造中確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵步驟。它通過對晶圓上關(guān)鍵參數(shù)的測量和分析，幫助識別工藝中的問題，并為良率提升提供數(shù)據(jù)支持。在芯片項目的量產(chǎn)管理中，WAT是您保持產(chǎn)線穩(wěn)定性和產(chǎn)品質(zhì)量的重要工具。
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