半導(dǎo)體激光器通常根據(jù)老化前（Pre-Burn In）及老化后（Post Burn-In）測量的一個(gè)或多個(gè)關(guān)鍵運(yùn)行參數(shù)的變化進(jìn)行篩選，剔除早期失效，提高產(chǎn)品可靠性，這些參數(shù)通常包括閾值電流，在特定工作條件下的輸出光功率，達(dá)到特定輸出光功率所需要的電流，斜線效率以及光譜特性等等。

聯(lián)訊儀器CoC測試

聯(lián)訊儀器全自動(dòng)CoC測試系統(tǒng)CT6201 ，與聯(lián)訊儀器 BI6201老化系統(tǒng)共用夾具，降低了被測芯片上下料的流程，同時(shí)也消除了上下料過程中EOS/ESD潛在風(fēng)險(xiǎn)以及CoC產(chǎn)品外觀不良的引入。

專利光功率耦合系統(tǒng)設(shè)計(jì)，確保了光學(xué)耦合和光譜測量的快速性和重復(fù)性。

特有的雙測試載臺設(shè)計(jì)，每個(gè)載臺可以獨(dú)立溫控，節(jié)省升降溫等待的時(shí)間，配合 CoC 夾具雙側(cè)并行測試，大大提高了測試效率。

產(chǎn)品特點(diǎn)及優(yōu)勢

1測試效率高

雙測試載臺設(shè)計(jì)

每個(gè)載臺可以獨(dú)立溫控

同時(shí)支持雙側(cè)并行測試

自動(dòng)對比老化前后參數(shù)變化量，并給出判定

2測試速度快

每個(gè)CoC（DFB）測試時(shí)間<7s

快速升降溫

3特殊夾具設(shè)計(jì)上下夾具設(shè)計(jì)，

老化測試過程中上下不分離，

避免多次壓接，提高上電通電率

全自動(dòng)測試，調(diào)高測試效率，

避免人工取放夾具引入的外力損傷

測試夾具與自動(dòng)上下料系統(tǒng)AL6201/

老化系統(tǒng)BI6201共用

無EOS產(chǎn)生

4聯(lián)訊自研高精度源表I/V 源分辨率，10fA/100nV

I/V 測量分辨率，10fA/100nV

支持直流或者脈沖電源驅(qū)動(dòng)激光器

5專利設(shè)計(jì)光耦合系統(tǒng)

確保了光學(xué)耦合和光譜測量的快速性和重復(fù)性

6測試重復(fù)性高閾值電流重復(fù)性<±0.5%；功率重復(fù)性<±1%

波長重復(fù)性<±0.05nm；SMSR重復(fù)性 <5dB

7規(guī)?；瘧?yīng)用

聯(lián)訊CoC老化測試解決方案

聯(lián)訊儀器提供CoC/CoS上下料，測試以及老化完整解決方案，適配不同測試溫度要求，不同尺寸，不同類型半導(dǎo)體激光器，極大地提高了測試效率，降低了測試成本！