2023年P(guān)CIM Asia國(guó)際電力元件、可再生能源管理展覽會(huì)已于2023年8月29日，在上海新國(guó)際博覽中心正式開幕！

展會(huì)介紹

? 專注電力電子領(lǐng)域的國(guó)際展覽會(huì)及研討會(huì)之一，立足行業(yè)二十余載

?展示電力電子、智能運(yùn)動(dòng)、可再生能源及能源管理前沿技術(shù)產(chǎn)品及案例分享

?國(guó)際研討會(huì)發(fā)表國(guó)內(nèi)外最新學(xué)術(shù)成果，深入探討電力電子行業(yè)技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)

?多個(gè)主題專區(qū)聚焦電力電子關(guān)鍵應(yīng)用領(lǐng)域的解決方案

泰克攜重量級(jí)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)及模擬芯片全棧式測(cè)試解決方案亮相PCIM Asia 2023，誠(chéng)邀各位工程師來(lái)現(xiàn)場(chǎng)交個(gè)“芯”朋友，助您更懂您的“芯”~

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Here We Go！

重量級(jí)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)繼慕尼黑電子展后再度亮相！

半導(dǎo)體功率器件動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)

DPT1000A功率器件動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)由泰克科技領(lǐng)銜開發(fā)，專門用于針對(duì)三代半導(dǎo)體功率器件的動(dòng)態(tài)特性分析測(cè)試，旨在解決客戶在功率器件動(dòng)態(tài)特性表征中常見的疑難問題，包括如何設(shè)計(jì)高速工作的驅(qū)動(dòng)電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進(jìn)行信號(hào)測(cè)試，如何優(yōu)化和抑制測(cè)試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發(fā)設(shè)計(jì)和試產(chǎn)階段，快速評(píng)估器件性能，更快應(yīng)對(duì)市場(chǎng)需求改善產(chǎn)品性能。

系統(tǒng)主要特點(diǎn)

定制化系統(tǒng)設(shè)計(jì) , 豐富的硬件配置和高靈活性的驅(qū)動(dòng)電路

自動(dòng)化測(cè)試軟件，測(cè)試功能豐富 , 可以自動(dòng)配置參數(shù)，測(cè)試和生成數(shù)據(jù)報(bào)告

高帶寬/高分辨率測(cè)試設(shè)備 , 在高速開關(guān)條件下準(zhǔn)確表征功率器件

覆蓋高壓、中壓、低壓、pmos、GaN 等不同類型，不同封裝芯片測(cè)試

可以提供單脈沖、雙脈沖、反向恢復(fù)、Qg、短路測(cè)試、雪崩參數(shù)、RBSOA等測(cè)試功能

動(dòng)靜態(tài)綜合老化測(cè)試系統(tǒng)

HTXB-1000D動(dòng)靜態(tài)綜合老化測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)以 SiC/GaN 為首的新型三代半導(dǎo)體功率器件，根據(jù)其特有的器件結(jié)構(gòu)和失效機(jī)理，在加速老化條件下，有針對(duì)性的施加特定壓力條件 ( 包括靜態(tài)壓力和動(dòng)態(tài)壓力 )，用以測(cè)試功率器件器件的漏流指標(biāo)，以及其他典型特性參數(shù) ( 例如閾值開啟電壓，導(dǎo)通電阻等關(guān)鍵指標(biāo) )，以表征器件的老化特性和工作壽命。可以讓器件生產(chǎn)廠商和器件使用者在較短時(shí)間內(nèi)了解新型功率器件的老化特性，以及長(zhǎng)期使用條件下的性能變化，為器件實(shí)際應(yīng)用過程中可能出現(xiàn)的故障進(jìn)行預(yù)判和分析。

該動(dòng)靜態(tài)壓力綜合老化測(cè)試系統(tǒng)用于批量 SiC/GaN器件老化測(cè)試，通過測(cè)試數(shù)據(jù)可以研究SiC/GaN器件的典型參數(shù)在不同壓力條件下的變化特性，幫助客戶了解器件可靠性相關(guān)信息并表征老化特性。

模擬芯片流程全棧式測(cè)試方案

芯片從晶圓到封裝為終端客戶使用的過程中，不同職能工程師會(huì)在各個(gè)階段進(jìn)行不同的測(cè)試，確保產(chǎn)品的安全性，穩(wěn)定性和可靠性。泰克科技致力于提供卓越的測(cè)試解決方案助力模擬芯片全流程的測(cè)試測(cè)量需求。

隔離驅(qū)動(dòng)芯片測(cè)試

時(shí)序及抖動(dòng)測(cè)試

CMTI測(cè)試

DC-DC芯片測(cè)試

包括多相均流時(shí)序驗(yàn)證、極小紋波時(shí)頻域驗(yàn)證、電源抑制比驗(yàn)證（PSRR）、PSIJ等。

電源抑制比驗(yàn)證（PSRR）

AC-DC芯片測(cè)試

電驅(qū)及逆變測(cè)試

更多芯片測(cè)試方案待您解鎖，

期待您蒞臨現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)交流！

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泰克展位號(hào)：

上海新國(guó)際博覽中心 W2號(hào)館2B07

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泰克設(shè)計(jì)和制造能夠幫助您測(cè)試和測(cè)量各種解決方案，從而突破復(fù)雜性的層層壁壘，加快您的全局創(chuàng)新步伐。我們攜手共進(jìn)，一定能夠幫助各級(jí)工程師更方便、更快速、更準(zhǔn)確地創(chuàng)造和實(shí)現(xiàn)技術(shù)進(jìn)步。

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