芯片老化測(cè)試的目的是為了評(píng)估芯片長(zhǎng)期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性，以確保芯片及系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測(cè)試的內(nèi)容及注意事項(xiàng)，今天我們將分享如何用納米軟件半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化。

芯片老化測(cè)試的設(shè)計(jì)

在進(jìn)行老化測(cè)試前應(yīng)該制定好測(cè)試計(jì)劃和流程，制定好測(cè)試條件、參數(shù)等。

1. 選擇合適的測(cè)試負(fù)載

根據(jù)芯片的應(yīng)用場(chǎng)景和預(yù)期使用條件，選擇好測(cè)試負(fù)載，包括電壓、頻率、溫度等參數(shù)。

2. 設(shè)計(jì)測(cè)試持續(xù)時(shí)間

老化測(cè)試的持續(xù)時(shí)間一般根據(jù)芯片的預(yù)期使用壽命和應(yīng)用場(chǎng)景確定，數(shù)小時(shí)至數(shù)千小時(shí)不等。

3. 確定測(cè)試環(huán)境

測(cè)試環(huán)境包括溫度、濕度等環(huán)境條件，模擬實(shí)際使用中的環(huán)境條件。

4. 制定測(cè)試計(jì)劃

根據(jù)測(cè)試需求和時(shí)間限制，制定詳細(xì)的測(cè)試計(jì)劃，包括測(cè)試開始時(shí)間、持續(xù)時(shí)間、測(cè)試參數(shù)等。

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行老化測(cè)試

ATECLOUD-IC是專門針對(duì)于各類芯片、半導(dǎo)體器件、分立器件等測(cè)試的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，采取軟硬件結(jié)構(gòu)，滿足芯片測(cè)試指標(biāo)，提供整體解決方案。用ATECLOUD-IC進(jìn)行芯片老化測(cè)試的方法如下：

1. 連接測(cè)試設(shè)備

將待測(cè)產(chǎn)品與計(jì)算機(jī)、納米BOX(一種邊緣計(jì)算設(shè)備)連接，確保可以傳輸通信。

2. 搭建測(cè)試項(xiàng)目，設(shè)置測(cè)試參數(shù)

在項(xiàng)目維護(hù)界面中選擇儀器型號(hào)，拖拽測(cè)試指令搭建測(cè)試流程，并根據(jù)要求設(shè)置相應(yīng)的測(cè)試參數(shù)，如測(cè)試持續(xù)時(shí)間、電壓、頻率、溫度等。

3. 運(yùn)行測(cè)試

在方案運(yùn)行界面點(diǎn)擊“運(yùn)行”開始芯片老化測(cè)試，啟動(dòng)芯片老化試驗(yàn)。系統(tǒng)會(huì)以指標(biāo)形式反饋測(cè)試結(jié)果。

4. 監(jiān)測(cè)記錄數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)分析

該系統(tǒng)有數(shù)據(jù)洞察功能，會(huì)采集、匯總、管理所測(cè)數(shù)據(jù)，并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和處理。數(shù)據(jù)分析支持圖表形式展示，方便觀測(cè)數(shù)據(jù)，如折線圖、柱狀圖、餅狀圖等。用戶還可以自定義數(shù)據(jù)報(bào)告，選擇數(shù)據(jù)模板，生成導(dǎo)出報(bào)告。

審核編輯 黃宇