電源芯片測試貫穿著研發(fā)、設(shè)計、生產(chǎn)過程的始終，目的就是為了通過反復(fù)檢測來確保電源芯片的性能、質(zhì)量和可靠性，保證正常工作運行。電源芯片測試涉及到許多測試項目，并且有著具體的測試規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)和方法。本文納米軟件將介紹電源芯片輸入電壓范圍的測試規(guī)范。

電源芯片測試規(guī)范介紹

適用范圍：主要是基于PCB板焊接的電源芯片，如DC/DC、LDO電源芯片等，也包括小功率DC/DC電源模塊。

測試工具：可調(diào)電源、電子負(fù)載、示波器、萬用表

測試環(huán)境：溫度(25±2℃);濕度(60%~70%);大氣壓強(86kPa~106kPa)

測試原理圖：

電源芯片測試原理圖

電源芯片輸入電壓范圍測試方法

輸入電壓范圍指該芯片可以接受的輸入電壓范圍。根據(jù)使用場景選擇合適的電源芯片確?？梢哉９ぷ鳌z測輸入電壓范圍的具體步驟如下：

調(diào)節(jié)電子負(fù)載，保證電源芯片滿載工作;

調(diào)節(jié)可調(diào)電源輸出為下限值VIN_MIN，記錄此時對應(yīng)輸出電壓，記為V1;

調(diào)節(jié)可調(diào)電源輸出為上限值VIN_MAX，記錄此時輸出電壓，記為V2;

電源芯片額定輸出為V0;

分別計算{|V1—V0|/V0}×100%，{|V2-V0|/V0}×100%，判斷此時的輸出是否滿足精度要求。

用納米軟件ATECLOUD-POWER電源測試系統(tǒng)測試輸入電壓范圍，不僅可以自動存儲管理測試數(shù)據(jù)，而且還可以對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行多方面圖表分析，以指標(biāo)形式反饋測試結(jié)果。電源測試系統(tǒng)可以幫助實現(xiàn)自動化測試，解決傳統(tǒng)手動測試繁瑣復(fù)雜、手動記錄數(shù)據(jù)、人工分析數(shù)據(jù)等痛點，助力高效能測試和生產(chǎn)。

審核編輯：湯梓紅