電學測試是芯片測試的一個重要環(huán)節(jié)，用來描述和評估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學測試包括直流參數測試、交流參數測試和高速數字信號性能測試等。

什么是芯片電學測試?

芯片電學測試就是檢測芯片、元件等電性能參數是否滿足設計的要求。檢測的項目有電壓、電流、阻抗、電場、磁場、EDM、相應時間等。電學測試是評估芯片性能的重要環(huán)節(jié)，確保芯片的穩(wěn)定性、可靠性，保證其可以正常運行工作。

芯片電學測試參數

芯片電測試參數包括直流參數測試、交流參數測試和高速數字信號性能測試等。

1. 直流參數測試

是對芯片的直流特性進行測試，包括：

靜態(tài)電流測試：測試芯片在不同電壓下靜態(tài)電流的大小，評估芯片的電流驅動能力。

電壓測試：測試芯片在不同電壓下的表現，包括芯片的最大工作電壓和靜態(tài)電壓。

斜率測試：測試芯片在不同電流下的電壓數值變化。

反向電流測試：測試芯片在反向電流下的性能表現。

2.交流參數測試

是測試芯片的動態(tài)電特性，包括：

共模抑制比(CMRR)測試：測試芯片在輸入信號存在共模干擾時輸出信號的變化量。

變化時間測試：測試芯片在輸入信號變化時輸出信號的變化時間。

放大器帶寬測試：測試芯片放大器的傳輸帶寬。

相位測試：測試芯片信號傳輸的相位變化。

3.高速數字信號性能測試

主要是針對數字信號處理芯片進行測試，包括：

時鐘偏移測試：測試芯片的時鐘誤差，評估芯片時鐘同步性。

捕獲時延測試：測試芯片捕獲信號的時延。

輸出時延測試：測試芯片輸出數字信號的時延。

串行接口電氣特性測試：測試芯片的串行接口傳輸電氣特性。

納米軟件專注于各類儀器自動化測試軟件的開發(fā)，其研發(fā)的ATECLOUD-IC芯片測試系統針對MCU、Analog、IGBT、半導體等以及各分立器件指標測試提供軟硬件解決方案，實現自動化測試、數據自動采集記錄、多方位多層級數據圖表分析，助力解決測試難點。

審核編輯：湯梓紅