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SiC晶圓劃片工藝:速度提升100倍,芯片增加13%

行家說三代半 ? 來源:行家說三代半 ? 2023-11-21 18:15 ? 次閱讀
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近日,一家日本廠商發(fā)布了一種全新的SiC晶圓劃片工藝,與傳統(tǒng)工藝相比,這項技術(shù)可將劃片速度提升100倍,而且可以幫助SiC廠商增加13%的芯片數(shù)量。

據(jù)介紹,該公司已經(jīng)向SiC功率器件制造商交付了約20臺劃片設(shè)備,以及2025-2030年的銷售額將達(dá)到約100億日元(約4.82億人民幣)。

眾所周知,SiC半導(dǎo)體非常硬,其硬度僅次于金剛石,這就導(dǎo)致將芯片從碳化硅晶圓上切割出來需要花費相當(dāng)長的時間。

而且SiC晶圓的劃片主要存在幾個難題

● SiC晶圓在劃片切割時容易約20微米寬的碎裂,因此會導(dǎo)致SiC芯片的角部和周邊部分出現(xiàn)被破壞或碎裂的風(fēng)險。

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●傳統(tǒng)技術(shù)在對SiC晶圓進(jìn)行劃片是需要增大切口寬度,約80μm-100μm,因此切口損耗較大,增加了SiC晶圓的浪費。

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●碳化硅晶圓劃片速度慢,硅晶圓的平均切割速度為100-200毫米/秒,SiC晶圓的平均切割速度僅為3-10毫米/秒。

●傳統(tǒng)劃片主要采用濕法工藝,因此每個SiC晶圓的劃片用水量達(dá)到6-7升/分鐘,對環(huán)境的影響也不低。

11月16日,三星鉆石工業(yè)(MITSUBOSHI DIAMOND)表示,他們的劃線裂片SnB工藝可以一次性解決這些問題。

據(jù)介紹,三星鉆石工業(yè)的SnB工藝已經(jīng)在玻璃和液晶面板的切割中應(yīng)用多年,尤其是在液晶面板領(lǐng)域的份額特別高,總共供應(yīng)了約6000臺切割設(shè)備。

SnB工藝從字面上看,包括兩個過程:劃線Scribe裂片Break。在“劃線”工藝中,通常使用劃線砂輪的刀具在SiC晶圓表面上進(jìn)行淺切割,以產(chǎn)生分離芯片所需的裂紋。然后,在“斷裂”工藝中,將SiC晶圓翻轉(zhuǎn)并從劃線的正后方施加應(yīng)力,以使SiC芯片沿著劃線實現(xiàn)分離。

據(jù)該公司介紹,采用SnB工藝,劃線輪刀片對SiC晶圓(厚度為100-350μm)的切入深度不到1μm

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碳化硅晶圓劃線(左)、碳化硅晶圓裂片(右)

據(jù)介紹,三星鉆石工業(yè)的SnB工藝具有幾個優(yōu)勢

●由于他們只是在晶圓表明進(jìn)行劃線,因此從未發(fā)生過SiC晶圓和芯片的碎裂。

●而且劃片道寬僅為30μm,幾乎沒有切縫損耗。

●與傳統(tǒng)劃片工藝相比,不使用水的干法工藝是他們的另一個主要優(yōu)點。

●切割速度也顯著提高。SnB的切割速度為100-300毫米/秒,這比傳統(tǒng)技術(shù)的3-10毫米/秒快了100倍,這將大大提高SiC功率器件的生產(chǎn)效率。

●劃片后芯片的橫截面也更為光滑。采用傳統(tǒng)劃片技術(shù)的SiC表面粗糙度“Rz”分別為1.43μm(水平方向)和1.47μm(垂直方向),而SnB的表面粗糙度“Rz”分別為0.17μm和0.07μm,兩者相差一個數(shù)量級。

該公司認(rèn)為,基于SnB工藝的DIALOGIC設(shè)備可以大幅降低碳化硅企業(yè)的成本。

首先,由于SnB劃片工藝幾乎沒有切口損耗,這增加了單片晶圓上可獲得的SiC芯片數(shù)量。據(jù)測算,6英寸SiC晶圓上采用傳統(tǒng)劃片技術(shù)可獲得 2.3936萬顆 0.75 mm2的芯片,而使用SnB可以獲得2.7144萬顆,多出約13%,這將有助于降低碳化硅功率半導(dǎo)體成本。

其次,DIALOGIC有助于大幅減少占比面積,據(jù)測算,采用傳統(tǒng)劃片技術(shù),有一條月產(chǎn) 9000萬顆1mm2SiC芯片的6英寸線,大約需要18臺劃片機(jī),安裝面積大約為65平方米。而使用該公司的DIALOGIC劃片設(shè)備,只需要三個單元,安裝面積減少75%,只需要16.5平方米。

該公司還表示,DIALOGIC的產(chǎn)能為每小時可加工約10片SiC晶圓,可兼容6英寸和8英寸晶圓。







審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:SiC新工藝:速度提升100倍,芯片增加13%

文章出處:【微信號:SiC_GaN,微信公眾號:行家說三代半】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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