日B视频 亚洲,啪啪啪网站一区二区,91色情精品久久,日日噜狠狠色综合久,超碰人妻少妇97在线,999青青视频,亚洲一区二卡,让本一区二区视频,日韩网站推荐

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

AI在半導體器件生產(chǎn)測試中的應(yīng)用

新思科技 ? 來源:新思科技 ? 2023-12-25 17:21 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

“時間就是金錢”這句話在半導體器件的生產(chǎn)測試中尤為貼切。

因為只有晶圓或芯片測試完畢后,其他部件才能開始測試。測試速度越慢,就越需要更多的自動化測試設(shè)備(ATE)來滿足生產(chǎn)測試吞吐量要求。最近幾代的先進工藝節(jié)點器件有更多的測試引腳數(shù)、更快的測試通道和更大測試向量存儲容量導致ATE硬件的價格大幅上漲。

此外,由于芯片功能的不斷增加,需要測試的邏輯增加,因此需要更多的測試向量和測試儀內(nèi)存,成本也隨之增加。更多的測試向量還需要更長的測試運行時間,為了保持吞吐量,就需要增加測試儀數(shù)量。

所以說,如果測試速度不夠快,芯片生廠商的成本會越來越高。

自動測試向量生成(ATPG)廣泛用于生成在生產(chǎn)測試儀上運行的程序?,F(xiàn)代芯片的復(fù)雜性也給測試過程帶來了壓力,通常需要較長的運行時間,這可能會導致生產(chǎn)測試推遲。

e0aa3d34-a306-11ee-8b88-92fbcf53809c.png

特別是對于需要測試數(shù)百萬芯片的大批量產(chǎn)品而言,每節(jié)省一秒鐘的測試時間都會帶來巨大的收益。然而,在減少測試向量的同時,必須保證盡可能高的測試覆蓋率或向客戶交付的產(chǎn)品質(zhì)量。因此,有效的高效ATPG解決方案對生成的測試程序乃至生成過程都有很高的要求。

傳統(tǒng)的向量生成流程是一個迭代的手動循環(huán),開發(fā)者首先要設(shè)置典型的ATPG工具參數(shù),如提供故障模型、定義設(shè)計約束、指定所生成測試的ATPG指標目標等。然后,開發(fā)者對達到目標結(jié)果質(zhì)量(QoR)所需的工具設(shè)置做出盡可能準確的估計,并運行測試向量生成。

第一次嘗試很可能無法達到ATPG目標,通常需要大量的專業(yè)知識和多次嘗試,而且開發(fā)者需要對工具設(shè)置進行反復(fù)微調(diào),才能收斂到可接受的結(jié)果。之所以會出現(xiàn)這種情況主要是由于多個ATPG工具參數(shù)之間的相互依賴關(guān)系及其對ATPG QoR的影響,使得手動管理變得非常復(fù)雜。即便是測試專家,也需要更長的時間才能獲得理想結(jié)果。

即使使用這樣的流程達到了預(yù)期的結(jié)果,也無法保證設(shè)計之間的可重復(fù)性,因此周轉(zhuǎn)時間和測試向量簽核時間表擁有一定的不可預(yù)測性。這可能意味著,當芯片從晶圓廠運回進行測試時,測試向量可能還沒有準備就緒,從而使ATPG在關(guān)鍵路徑上和設(shè)計進度上面臨風險。

引入人工智能AI)是滿足現(xiàn)代測試向量生成流程要求的一種創(chuàng)新方法。基于人工智能的ATPG解決方案可以通過并行運行的方式,不斷學習設(shè)計特性、ATPG引擎行為、用戶約束/目標以及可用的設(shè)置。在優(yōu)化設(shè)置時,通過對結(jié)果進行相關(guān)性分析,了解哪些有效、哪些無效,這正是人工智能擅長的工作。在這個工具內(nèi)部,無需任何手動迭代或設(shè)置操作,即可收斂至測試覆蓋率目標,從而實現(xiàn)一次就正確的結(jié)果。

e0c3c970-a306-11ee-8b88-92fbcf53809c.png

以下是我們建議的流程:使用標準ATPG進行初始運行,以獲得干凈的設(shè)計DRC,然后使用分布式ATPG運行,通過網(wǎng)表下降和/或ATPG更改來分析、優(yōu)化和驗證目標測試覆蓋率,運行時間非常短。在達到所需的測試覆蓋率后,可以利用人工智能盡量減少芯片進入生產(chǎn)測試前所需的測試向量。這一流程可以在保證設(shè)計進度的同時,得到低成本高質(zhì)量的測試向量,并實現(xiàn)快速周轉(zhuǎn)。

新思科技TSO.ai(測試空間優(yōu)化)是一種人工智能驅(qū)動型ATPG解決方案,可學習和調(diào)整設(shè)置,持續(xù)生成盡可能少的測試向量,同時消除不必要的迭代,加快任何設(shè)計的結(jié)果生成時間。在一些情況下,當測試儀內(nèi)存有限時,它還能在固定測試向量數(shù)量下實現(xiàn)更高的測試覆蓋率。該技術(shù)可用于最大限度地減少最終流片網(wǎng)表或已投入生產(chǎn)的設(shè)計所需的測試向量,以快速節(jié)省測試成本,同時也可在整個設(shè)計過程中通過網(wǎng)表下降進行學習,以縮短最終向量減少過程的周轉(zhuǎn)時間。

e0db7caa-a306-11ee-8b88-92fbcf53809c.png

事實表明,這種方法可在所有應(yīng)用領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一致的測試成本降低,通常情況下向量數(shù)量會減少20%至25%,在某些情況下甚至超過50%。這加快了生產(chǎn)測試的速度,節(jié)省了時間和成本,同時減少了特定產(chǎn)量所需的測試儀數(shù)量。

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 半導體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    339

    文章

    31279

    瀏覽量

    266792
  • 晶圓
    +關(guān)注

    關(guān)注

    53

    文章

    5451

    瀏覽量

    132781
  • AI
    AI
    +關(guān)注

    關(guān)注

    91

    文章

    41326

    瀏覽量

    302707
  • 新思科技
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5

    文章

    981

    瀏覽量

    52998

原文標題:“時間+成本”雙贏,AI如何改寫半導體生產(chǎn)測試?

文章出處:【微信號:Synopsys_CN,微信公眾號:新思科技】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    BW-4022A半導體分立器件綜合測試平臺---精準洞察,卓越測量

    精準洞察,卓越測量---BW-4022A半導體分立器件綜合測試平臺 原創(chuàng) 一覺睡到童年 陜西博微電通科技 2025年09月25日 19:08 陜西
    發(fā)表于 10-10 10:35

    「聚焦半導體分立器件綜合測試系統(tǒng)」“測什么?為什么測!用在哪?”「深度解讀」

    隨著科技發(fā)展,高端設(shè)備應(yīng)用與半導體器件發(fā)展密不可分,其應(yīng)用場景與穩(wěn)定性直接決定產(chǎn)品性能,半導體分立器件綜合測試系統(tǒng)是
    發(fā)表于 01-29 16:20

    仿真技術(shù)半導體和集成電路生產(chǎn)流程優(yōu)化的應(yīng)用

    仿真技術(shù)半導體和集成電路生產(chǎn)流程優(yōu)化的應(yīng)用閔春燕(1)       
    發(fā)表于 08-20 18:35

    半導體器件生產(chǎn)中的靜電

    絕大多數(shù)半導體器件都是靜電敏感器件,而在生產(chǎn)過程中靜電又是無處不在的,生產(chǎn)廠必須對靜電防護措施給予充分的重視。
    發(fā)表于 07-03 14:25

    半導體生產(chǎn)中的靜電問題

    絕大多數(shù)半導體器件都是靜電敏感器件,而在生產(chǎn)過程中靜電又是無處不在的,生產(chǎn)廠必須對靜電防護措施給予充分的重視。
    發(fā)表于 07-23 11:22

    SPC半導體半導體晶圓廠的實際應(yīng)用

    半導體過程控制技術(shù)來嚴格監(jiān)控工藝過程狀態(tài),而SPC就是其中最重要的一種技術(shù)。本文針對SPC做了簡要概述,著重論述了根據(jù)半導體生產(chǎn)工藝的特點來實現(xiàn)其
    發(fā)表于 08-29 10:28

    【基礎(chǔ)知識】功率半導體器件的簡介

    研究雷達探測整流器時,發(fā)現(xiàn)硅存在PN結(jié)效應(yīng),1958年美國通用電氣(GE)公司研發(fā)出世界上第一個工業(yè)用普通晶閘管,標志著電力電子技術(shù)的誕生。從此功率半導體器件的研制及應(yīng)用得到了飛速發(fā)展,并快速成長為
    發(fā)表于 02-26 17:04

    是不是所有的半導體生產(chǎn)廠商對所有的器件都需要進行老化測試?

    ` 不是所有的半導體生產(chǎn)廠商對所有的器件都需要進行老化測試。普通器件制造由于對生產(chǎn)制程比較了解,
    發(fā)表于 08-02 17:08

    半導體功率器件的分類

    近年來,全球半導體功率器件的制造環(huán)節(jié)以較快速度向我國轉(zhuǎn)移。目前,我國已經(jīng)成為全球最重要的半導體功率器件封測基地。如IDM類(吉林華微電子、華潤微電子、杭州士蘭微電子、比亞迪股份、株洲
    發(fā)表于 07-12 07:49

    什么是基于SiC和GaN的功率半導體器件?

    (SiC)和氮化鎵(GaN)是功率半導體生產(chǎn)中采用的主要半導體材料。與硅相比,兩種材料中較低的本征載流子濃度有助于降低漏電流,從而可以提高半導體工作溫度。此外,SiC 的導熱性和 Ga
    發(fā)表于 02-21 16:01

    霍爾效應(yīng)在半導體性能測試的作用

    隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的快速發(fā)展,半導體器件各個領(lǐng)域中的應(yīng)用越來越廣泛。而為了確保半導體器件的質(zhì)量和性能,進行準確的
    的頭像 發(fā)表于 12-25 14:52 ?3767次閱讀

    安泰高壓功率放大器半導體測試的應(yīng)用

    高壓功率放大器半導體測試扮演著重要的角色。半導體測試是指對
    的頭像 發(fā)表于 01-15 11:24 ?1237次閱讀
    安泰高壓功率放大器<b class='flag-5'>在</b><b class='flag-5'>半導體</b><b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>中</b>的應(yīng)用

    半導體測試遇到的問題

    半導體器件的實際部署,它們會因功率耗散及周圍環(huán)境溫度而發(fā)熱,過高的溫度會削弱甚至損害器件性能。因此,熱
    的頭像 發(fā)表于 01-06 11:44 ?1991次閱讀

    是德示波器半導體器件測試的應(yīng)用

    半導體產(chǎn)業(yè)作為現(xiàn)代科技的基石,其技術(shù)的發(fā)展日新月異。半導體器件從設(shè)計到生產(chǎn),每個環(huán)節(jié)都對測試設(shè)備的精度、效率提出了嚴苛要求。示波器作為關(guān)鍵的
    的頭像 發(fā)表于 07-25 17:34 ?997次閱讀
    是德示波器<b class='flag-5'>在</b><b class='flag-5'>半導體</b><b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>中</b>的應(yīng)用

    半導體器件的通用測試項目都有哪些?

    的保障,半導體器件測試也愈發(fā)重要。 對于半導體器件而言,它的分類非常廣泛,例如二極管、三極管、MOSFET、IC等,不過這些
    的頭像 發(fā)表于 11-17 18:18 ?2919次閱讀
    <b class='flag-5'>半導體</b><b class='flag-5'>器件</b>的通用<b class='flag-5'>測試</b>項目都有哪些?
    松桃| 丽江市| 天祝| 安宁市| 巨野县| 苏尼特左旗| 邢台市| 和静县| 郑州市| 金秀| 洞头县| 吐鲁番市| 临海市| 威信县| 双鸭山市| 渑池县| 大关县| 资中县| 清水县| 焉耆| 黔东| 本溪| 嘉峪关市| 普安县| 胶州市| 昌乐县| 肥西县| 莱州市| 景宁| 桃源县| 建湖县| 建昌县| 平度市| 封丘县| 夏河县| 盘锦市| 乌拉特中旗| 宝鸡市| 罗城| 望谟县| 吴忠市|