精智達：DRAM晶圓老化測試設備進入驗證階段
1月2日，精智達發(fā)布最新研究報告，披露其半導體存儲器件測試設備的研發(fā)進展順利。DRAM晶圓老化測試設備已完成開發(fā)與測試，步入驗證階段； DRAM測試機仍處研發(fā)環(huán)節(jié)。
該公司聲稱，在半導體業(yè)務上，探針卡業(yè)務實現(xiàn)重大突破，開始量產(chǎn)，前景看好。
至于面板業(yè)務，公司正積極涉足MicroLED、Micro-OLED等微型顯示領域，已先后獲得數(shù)個Micro-LED檢測設備訂單。同時，關于微型顯示領域的技術開發(fā)和設備驗證工作正在穩(wěn)步展開。
談及公司近年來的對外投資行動，精智達強調，標的公司主營業(yè)務與公司業(yè)務具備高度協(xié)同效應，有助于加速推動測試設備的核心信號處理引擎芯片國產(chǎn)化進程，同時 豐富產(chǎn)業(yè)鏈布局，提升在ATE設備市場中的核心競爭實力和供應鏈可靠性。
更為詳細地說，標的方提供存儲芯片測試開發(fā)服務，技術水準領先全球，所研發(fā)出的高性能數(shù)字混合信號測試芯片涵蓋DDR5等產(chǎn)品，并支持9Gbps傳輸協(xié)議。該芯片的問世將有助于加快芯片測試裝備的研發(fā)速度及提高測試效率。
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