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考拉悠然國內(nèi)首臺玻璃基Micro LED晶圓量檢測設備正式完成出貨

半導體芯科技SiSC ? 來源:投影時代 ? 作者:投影時代 ? 2024-08-10 11:18 ? 次閱讀
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來源:投影時代

考拉悠然自主研發(fā)的國內(nèi)首臺玻璃基Micro LED晶圓量檢測設備近日正式完成出貨。這標志著考拉悠然已完成產(chǎn)品的技術研發(fā)并獲得客戶認可,同時具備了Micro LED晶圓量檢測設備批量生產(chǎn)的能力。該產(chǎn)品具有高精度、高穩(wěn)定性、高效率等特點。

據(jù)考拉悠然介紹,Micro LED晶圓檢測除了進行外觀檢測外,還需要準確測量芯片的偏位旋轉,以滿足Micro LED晶圓品質的核心要求。其研發(fā)的玻璃基Micro LED晶圓量檢測設備融合國際先進的技術和其自主研發(fā)的核心算法,具有高精度、高穩(wěn)定性、高效率等特點。

該設備采用高精度的倍率可調光學系統(tǒng),20X光學精度高達0.16um,結合公司自研的“主動學習”AI算法,不僅能夠精確識別外觀缺陷,還能進行缺陷的準確分類。

在偏位量測方面,考拉悠然通過標定和坐標系轉換等方式,消除了運動和畸變等因素引起的系統(tǒng)誤差,確保偏位測量的高準確性,在標準片測試下的測量誤差控制在±0.5um以內(nèi)。

考拉悠然是業(yè)界領先的多模態(tài)大模型行業(yè)解決方案提供商,由歐洲科學院外籍院士、ACM/IEEE/OSA Fellow 申恒濤教授領銜20余位海外名校歸國博士創(chuàng)立。今年7月,考拉悠然在WAIC 2024上全新推出悠然遠智全模態(tài)AI交互平臺,通過引入個性化業(yè)務流程和組織知識,實現(xiàn)了視頻全要素解析與檢索、產(chǎn)線缺陷監(jiān)測與設備故障溯源、事件多模態(tài)信息處置研判RPA、數(shù)據(jù)趨勢預測與風險預警等功能。

在泛半導體領域,考拉悠然的主動學習AI算法提供了一種創(chuàng)新的缺陷檢測和分類解決方案,并研發(fā)了半導體晶圓缺陷自動識別與分類設備,自建約2000㎡的檢測工廠,在屏顯設備檢測方面,為京東方、惠科等知名品牌提供服務。據(jù)介紹,以往LED類屏幕出廠前的檢測多靠人力肉眼檢查,如今通過考拉悠然的檢測設備,架設最高0.16um的光學精度,結合高達65M像素的相機,內(nèi)置人工智能的圖像識別和分析能力,能夠更高效地檢測半導體產(chǎn)品的塌線、膠高、膠偏、劃痕、裂紋、異物、色差等問題。

今日,策源資本繼完對考拉悠然A輪投資之后,再度于B輪融資中追加投資,助力考拉悠然完成了億元級別的B輪融資。這一里程碑式的成果,不僅為考拉悠然的發(fā)展注入了強大的資本動力,更凸顯了其在多模態(tài)人工智能領域的市場地位,贏得了資本市場的高度認可和深度信賴。本輪融資的注入,將為悠然大模型的迭代升級提供堅實支持。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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