立儀科技光譜共焦應用之金屬隔膜靜態(tài)重復性測量
01｜檢測需求：金屬隔膜重復性測量
立儀科技光譜共焦應用之金屬隔膜靜態(tài)重復性測量
02｜檢測方式
為了保證精度，首先先用千分尺進行測量，得出相應的厚度數(shù)據(jù)，在選擇合適的側頭，根據(jù)結果，我們現(xiàn)在立儀科技H4UO控制器搭配D27A20側頭
03｜千分尺測量結果
經(jīng)過測量可以厚度是84微米
立儀科技光譜共焦應用之金屬隔膜靜態(tài)重復性測量
04｜光譜共焦測量結果
經(jīng)過測量可以厚度83.417μm
立儀科技光譜共焦應用之金屬隔膜靜態(tài)重復性測量
05｜60秒內重復精度展示（部分）
60秒內重復精度展示（部分）
立儀科技光譜共焦應用之金屬隔膜靜態(tài)重復性測量
06｜光譜共焦側頭
D27A20側頭相關參數(shù)
立儀科技光譜共焦應用之金屬隔膜靜態(tài)重復性測量
審核編輯 黃宇
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