ESD測試，即靜電放電測試（Electrostatic Discharge Testing），是一種用于評估電子設備或組件在靜電放電環(huán)境下的性能穩(wěn)定性和可靠性的測試方法。以下是關于ESD測試的詳細解釋：

01 定義與目的

● 定義：ESD測試是模擬操作人員或物體在接觸設備時產(chǎn)生的放電，以及人或物體對鄰近物體之放電，以檢測被測設備抵抗靜電放電之干擾能力。

● 目的：通過ESD測試，可以有效地識別和排除ESD問題，并改進設計，提高電子設備的可靠性和穩(wěn)定性。

02測試標準

● 較為通用的測試標準是國際電工委員會（IEC）于1995年制定的IEC 61000-4-2。該標準定義了ESD測試的分類、測試方法和測試等級，以確保測試結果的準確性和可比性。

03測試分類

● 直接放電：利用放電點擊直接對受試設備實施放電，包括接觸放電（Contact Discharge）和空氣放電（Air Discharge）。接觸放電是放電頭直接接觸受試設備，而空氣放電則是在一定距離內對受試設備放電。

● 間接放電：對受試設備附近的耦合板實施放電，以模擬人體對受試設備附近的物體的放電。這種放電方式更接近實際情況，能更全面地評估設備的抗靜電放電能力。

04 測試方法

● 人體放電模式（HBM, Human Body Model）：

通過模擬人體摩擦產(chǎn)生的電荷釋放來測試電子元件的抗靜電能力。常用標準包括MIL-STD-883C method 3015.7和EIA/JESD22-A114-A。HBM測試的靜電電壓可從小于2kV到16kV不等。

● 機器放電模式（MM, Machine Model）：

通過模擬機器（如機器人）移動產(chǎn)生的靜電對芯片的放電來評估其抗靜電能力。常用標準包括EIAJ-IC-121 method 20和EIA/JESD22-A115-A。由于機器的電阻接近0，放電時間極短，電流較大，導致危害顯著。

● 元件充電模式（CDM, Charge Device Model）：

測試電子元件在生產(chǎn)運輸過程中因摩擦或其他原因積累的靜電釋放對其的影響。CDM測試的放電時間可能在幾納秒內，評估元件在靜電放電過程中的響應和耐受能力。

05測試過程

使用專用的靜電放電發(fā)生器產(chǎn)生一定強度的靜電放電脈沖，對測試樣品進行非接觸式的電擊。

測試樣品在靜電放電脈沖沖擊下的性能穩(wěn)定性和可靠性將受到考驗。

通過觀察和測量測試樣品在靜電放電后的表現(xiàn)，如功能失效、性能下降或損壞等現(xiàn)象，評估其抗靜電放電能力。

06測試結果

武漢芯源半導體有限公司具有完備且嚴格的質量管理體系，2022年12月22日，經(jīng)過CQC中國質量認證中心全面、嚴格、系統(tǒng)的審查考核，順利通過ISO 14001：2015環(huán)境管理體系認證、ISO 45001:2018職業(yè)健康安全管理體系認證、ISO 9001：2015質量管理體系認證，標志著武漢芯源半導體在環(huán)境管理、職業(yè)健康安全管理、質量管理方面達到了國際或國家指定的質量控制標準，為產(chǎn)品進入市場提供了必要的資質保證。同時也標志著武漢芯源半導體已具備科學穩(wěn)定的質量管理能力，在設計研發(fā)、過程控制、產(chǎn)品質量及改進、客戶服務等方面的質量控制得到肯定。

CW32全系列產(chǎn)品，符合IEC60730，IEC61508 功能安全設計規(guī)范。

CW32A030C8T7通過了AEC-Q100車規(guī)級可靠性測試。

CW32F ESD性能測試如圖所示。

06重要性

● 在現(xiàn)代電子制造業(yè)中，ESD測試扮演著至關重要的角色。靜電放電可能導致設備損壞、性能下降甚至功能失效，對產(chǎn)品質量和市場競爭力產(chǎn)生嚴重影響。

● 通過進行ESD測試，可以及時發(fā)現(xiàn)并解決潛在的靜電放電問題，提高電子設備的可靠性和穩(wěn)定性。同時，也有助于推動電子制造業(yè)的技術進步和產(chǎn)業(yè)升級。

綜上所述，ESD測試是確保電子設備在靜電放電環(huán)境下穩(wěn)定運行的重要手段之一。通過不斷完善測試標準和規(guī)范、采用先進的測試設備和技術、加強測試人員的培訓和管理等措施，可以進一步提高測試結果的準確性和可靠性。

以下視頻是部分網(wǎng)友土法測試，可以一定程度體現(xiàn)cw32抗干擾性能：

來自 “打狗棒”的閃電攻擊——MCU抗干擾實驗系列專題（2）_嗶哩嗶哩_bilibili?www.bilibili.com/video/BV1nG4y1w7ZG/?spm_id_from=333.999.0.0

審核編輯 黃宇